Добавил:
Upload
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз:
Предмет:
Файл:UP_Metody.pdf
X
- •1.2. Получение и регистрация рентгеновских лучей
- •Методы регистрации рентгеновского излучения
- •Общая теория возникновения дифракционного максимума
- •Вычисление структурного фактора
- •Атомный множитель
- •Температурный фактор
- •Множитель Лоренца
- •Множитель поглощения
- •Множитель повторяемости
- •Понятие о динамической теории рассеяния
- •Регистрация дифрактометром
- •Индицирование порошковых рентгенограмм
- •Метод Лауэ
- •Рис.27. Геометрия интерференционной картины
- •Рис.28. Формирование интерференционной картины в методе Лауэ
- •Метод вращения монокристалла
- •Рис.29. Геометрия интерференционной картины при вращении монокристалла
- •Определение типа твердого раствора
- •Исследование границ растворимости
- •Фазовый анализ
- •Количественный фазовый анализ
- •Метод измерения отношений интенсивностей линий
- •Определение макронапряжений
- •Плосконапряженное состояние
- •Исследование микронапряжений
- •Статические искажения
- •Рентгенографическое определение величины кристаллитов
- •Таким образом, полезное увеличение М = 1300x для обычного освещения и М = 2000x для ультрафиолетового.
- •2.2.Формирование изображения в электронном микроскопе
- •Приготовление образцов для электронной микроскопии
- •Области применения нейтронографии
Рис.29. Геометрия интерференционной картины при вращении монокристалла
Например, для определения типа решетки (ПК, ОЦК, ГЦК) кристалл ориентируют по методу Лауэ по трем симметричным направлениям[100],[110] и [111], находят периоды идентичности I и их отношение:
для ПК: 1: 2 : 3 ;
для ОЦК: 1: 2 : 3 /2; для ГЦК: 1: 2 /2: 3 ,
а значит, и тип кристаллической ячейки.
2. Определение числа атомов в элементарной ячейке. Плотность вещества r = M/V = maAn/Vяч
А – относительная атомная масса (химическая формула), М - масса атомов, ma - 1.66 10-22 (атомная единица массы), n – число атомов в ячейке.
Тогда
n = r Vяч/maA |
(47) |
43
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]