30.Прилади вертикального проектування.

Найпростішим приладом вертикального проектування є оптичний центри. Його застосовують для центрування приладу над точкою. Центрир – це невелика зламана труба, що має об’єктив, прямокутну призму, сітку ниток, окуляр. Сучасні прилади вертикального проектування забезпечують фіксування прямовисної лінії довжиною 100м із сер кв похибкою 0,5-1мм.

31.Шкали геодезичних приладів. Призначення шкал, вимоги до них.

Шкала – це система штрихів, що нанесені на поверхні і розташовані нормально до осьової лінії. Залежно від розташування осьової лінії шкали поділяються на лінійні і криволінійні. У геод прил з криволінійних шкал зазвичай використовують колові. Вимоги:

1)Всі поділки – рівні.

2)Загальна довжина шкал має дорівнювати номінальній величині, а різниця повинна бути дуже малою, інакше вводиться поправка.

3)Якість матеріалу шкал повинна забезпечити нанесення штрихів необхідної товщини.

32.Способи нанесення шкал.

Матеріалами на які найчастіше наносять шкали слугують сплави металів, скло. З металевих сплавів найчастіше застосовують інварні сплави, латунь, барити, флюти. Названі види матеріалів дозволяють наносити на них точно штрихи. Заготовлені кругт спочатку піддають старінню, відпалюють і охолоджують для зняття напруги скла. Надточні шкали виготовляють на кварцовому склі.

33.Види відлікових пристроїв.

Види відлікових пристроїв за способом вимірювання:

Верньєрні – в них використовується здатність ока суміщати протилежно розташовані штрихи.

Штрихові –грунтується на можливості ока відлічувати десяті частини поділки.

Шкаловий мікроскоп – відлічує дробові частинки поділки, використовуючи спеціальні шкали.

Мікроскоп з оптичним мікрометром.

Мікроскопи з гвинтовими мікрометрами.

Відлік пристрою електронного геодезичного приладу.

34.Верньєри. Штрихові та шкалові мікроскопи.

Верньєр – сектор колової шкали алідади, що дотикається шкали круга.

Штриховий мікроскоп – відліковий пристрій, який слугує для окомірного оцінювання дробової поділки між її молодшим штрихом та індексом.

Шкалові мікроскопи – за конструкцією подібні до штрихових, головна відмінність, що на плоскопаралельні платівки нанесені спеціальні шкали, що слугують для оцінки дробового числа круга.

35.Односторонній та двосторонній оптичний мікрометр.

В односторонніх оптичних мікрометрах на шляху променя, що спрямований від лімба до окуляра мікроскопа, ставлять плоскопаралельну пластинку. Із плоскопаралельною пластинкою повязана шкала мікрометра. Якщо «рухати» поділки лімба й сумістити звідліковим штрихом найближчу до штриха молодшу поділку лімба, то в такому розташуванні відлік мікрометра дає повний відлік. Двосторонній оптичний мікрометр має 2 плоскопаралельні пластинки, й у полі зору окуляра мікроскопа видно діаметрально протилежні штрихи лімба: зверху пряме зображення, знизу – перевернуте.

36.Відлікові пристрої електронних (кодових) кутомірних приладів.

На зміну оптичним приладам прийшли електронні, які використовують кодову систему визначення напрямків і яка дає можливість автоматизувати результати вимірювань та відображати їх на дисплеї. Для цього застосовують спеціальну систему поділу шкал на прозорі і непрозорі смужки, які чергуються. Система поділу круга на прозорі і непрозорі штрихи наз кодовою. Коли застосовують 2-кову кодову систему, на круги наносять концентраційні кільця. На кожному наступному кільці кількість прозорих і непрозорих штрихів подвоюється.

37.Колова двійкова кодова шкала.

Малюнок:

38.Принципова схема фотоелектронного зчитувача-перетворювача.

малюнок

1-джерело світла

2-круг з кодом

3-діафрагма з проріззю

4-блок фотоприймача

5-електронний блок

39.Колова шкала з кодами Грея.

Коди ґрунтуються на тому, що крок шкали старшого розряду 2х більший порівняно з кодом попереднього розряду. Середня кв помилка вимірювання кута =1,6-3,2”/

малюнок

40.Імпульсна система відлічування круга.

малюнок

1-світлодіод

2-маска

3-фотодіод

4-круг зі шкалою у вигляді растра

5-підсилювач

6-формувач імпульсів.

41.Динамічна система відлічування та визначення напрямків.

42.Рідинні рівні.

43.Електронні рівні.

44.Пружинні рівні.

45.Компенсатори нахилу,принцип компенсації нахилу.

46.Оптично-механічні компенсатори.

47.Компенсатори вертикальних кругів.

48.Осьові системи та інші механічні пристрої.

49.Електронно-оптичні та електронні тахеометри.

50.Світловіддалеміри, типи віддалемірів.

51.Імпульсні далекоміри.

52.Фазові далекоміри.

53.Частотні далекоміри.

54.Типи віддалемірів.

55.Основні способи вимірювання віддалей (перерахувати).

56.Блок – схема електронного далекоміра.

57.Схема лазерного далекоміра з частковою модуляцією вимірювального лазера і оптичного гетеродинируванням.

58.Загальна функціональна схема світлодалекоміра.

59.Функціональна схема світлодалекоміра першого покоління.

60.Функціональна схема світлодалекоміра з фотоприймачем.

61.Функціональна схема світлодалекоміра другого покоління.

62.Радіовіддалеміри.

63.Короткі відомості з історії створення глобальних навігаційних супутникових систем.

64.Глобальні системи позиціювання – GPS - системи.

65.Будова системи NAVSTAR/GPS.

66.Передавачі супутників системи NAVSTAR/GPS.

67.Наземні приймачі системи NAVSTAR/GPS.

68.Основні джерела помилок GPS – спостережень.

69.Загальні відомості про лазерне сканування.

70.Загальні відомості про сучасні лазенні сканери.

71.Застосування лазерних сканерів.

72.Перевірка збігу осі візирного проміння і осі випромінювання віддалеміра.

73.Перевірка сталої тахеометра.

74.Визначення та юстування МО та МZ.

75.Визначення колімаційної похибки,МО(МZ) вертикального круга і нахилу осі обертання зорової труби.

76.Перевірка положення осі обертання зорової труби.

77.Визначення СКП установлення лінії візування.

78.Визначення СКП вимірювання віддалей.

79.Визначення СКП вимірювання горизонтального та вертикального кутів.

80.Дослідження приладової поправки.