- •Федеральное агентство по образованию
- •Глава 1. Металлические материалы 7
- •Введение
- •Глава 1. Металлические материалы
- •1.1. Основные сведения о производстве металлов и сплавов
- •1.2. Основные свойства металлов и сплавов
- •1.3. Механические свойства металлов и сплавов
- •Глава 2. Физические основы Спектрального анализа
- •2.1. Общее представление о строении вещества
- •2.2. Строение атома и атомные спектры
- •2.3. Природа и свойства света
- •Глава 3. Источники света
- •3.1. Возбуждение вещества и интенсивность спектральных линий
- •3.2. Газовый разряд
- •3.3. Схемы питания газовых разрядов
- •Глава 4. Оптика спектральных аппаратов
- •4.1. Призма
- •4.2. Дифракционная решетка
- •4.3. Оптическая схема спектрального аппарата
- •4.4. Основные характеристики и параметры спектральных аппаратов
- •1. Рабочая область спектра
- •2. Линейная дисперсия
- •3. Увеличение спектрального аппарата
- •4. Спектральная ширина щели
- •5. Разрешающая способность
- •4.5. Типы приборов спектрального анализа
- •1. Стилоскоп слп-1.
- •2. Стилоскоп сл-13.
- •3. Стилоскоп слу.
- •Оптическая схема стилоскопа сл-13
- •Оптическая схема стилоскопа слу
- •Влияние третьего компонента.
- •Задачи спектрального анализа.
- •Глава 6. Проведение контроля
- •6.1. Подготовка изделий и стандартных электродов к анализу
- •6.2. Методика анализа
- •1. Качественный и полуколичественный спектральный анализ производится в соответствии с рисунками различных областей спектра.
- •Группы аналитических спектральных линий с условными обозначениями
- •2. При проведении анализа могут быть следующие соотношения интенсивности линий определяемого элемента и линий основы:
- •6.3. Определение элементов
- •1. Определение ванадия
- •Линия "v4" надежно выявляется при концентрации V свыше 0,1%
- •2. Определение хрома
- •Указания по анализу хрома
- •3. Определение молибдена
- •4. Определение никеля
- •5. Определение титана
- •6. Определение вольфрама
- •7. Определение марганца
- •8. Определение ниобия
- •9. Определение кобальта
- •10. Определение кремния
- •Рассортировка сталей
- •6.3. Меры безопасности при работе со стилоскопом
- •6.4. Организация и оформление работ по спектральному анализу
- •Сварной стык; задвижка;тройник;расходомерная шайба; 65-77 - сварные стыки
- •Задвижка 65-66
4.4. Основные характеристики и параметры спектральных аппаратов
Характеристика спектрального аппарата определяется оптической схемой и ее параметрами. Для спектральных аппаратов характерны следующие параметры:
1. Рабочая область спектра
Каждый спектральный аппарат рассчитан на работу в определенной области спектра. Оптические детали самого спектрального аппарата и системы освещения щели должны быть прозрачны во всей рабочей области спектра. В видимой и ультрафиолетовой областях широко применяют как призменные, так и дифракционные спектральные аппараты. В инфракрасной области преимущественно используют призменные приборы. При использовании в этой области дифракционных решеток нельзя допускать перекрытия спектров разных порядков. Для этого иногда ставят предварительную призму, которая выделяет только нужный участок спектра, а окончательное разложение излучения в спектр делает решетка. В области вакуумного ультрафиолета применяют главным образом приборы с вогнутыми дифракционными решетками, хотя в области до 1100-1200небольшое применение находят также призменные приборы с оптикой из флюорита или фтористого лития.
Иногда из-за ограниченной прозрачности или дисперсии материала не удается охватить всю нужную область спектра. Тогда делают приборы со сменной оптикой. Так инфракрасные спектрофотометры снабжаются набором сменных призм и других оптических деталей, что дает возможность с помощью одного прибора работать по всей ближней инфракрасной области. В приборах с кварцевой оптикой часто имеется сменная стеклянная призма для увеличения дисперсии при работе в видимой области.
2. Линейная дисперсия
Одной из важных характеристик спектральных аппаратов является линейная дисперсия , которая показывает, как быстро изменяется расстояние между спектральными линиями в фокальной поверхности в зависимости от длины волны. Пусть световые пучки, которые соответствуют двум линиям с разностью длин волн, идут после призмы или решетки под углом друг к другу. Тогда расстояние между ними в фокальной поверхности определяется по формуле
(29)
Для линий с близкими длинами волн угол мал, и можно считать , тогда
(30)
Если фокальная поверхность наклонена к оптической оси камеры под углом , то расстояния между линиями увеличиваются
(31)
Разделив обе части равенства на разность длин волн и переходя от конечных разностей к производной, получим окончательное выражение для линейной дисперсии:
(32)
Линейную дисперсию спектральных аппаратов принято характеризовать обратной величиной – фактором дисперсии (или обратной дисперсией), которая показывает число ангстремов или микрон, приходящийся на один миллиметр длины спектра в фокальной поверхности прибора. При применении объектива с большим фокусным расстоянием f2=1,5м обратная дисперсия возрастает в 5 раз до 13. Иногда спектрографы снабжают сменными камерами с разными объективами, что позволяет получать нужную линейную дисперсию. Зная линейную дисперсию прибора, легко определить расстояние между близкими линиями в спектре
(33)
3. Увеличение спектрального аппарата
Определяется отношением фокусных расстояний камерного f2 и коллиматорного f1 объективов.
(34)
Для автоколлимационных приборов g=1.