- •Методичні вказівки до виконання лабораторних робіт з курсу загальної фізики Частина 3
- •3 Семестр
- •Вступ Обробка результатів вимірювань при виконанні лабораторних робіт з курсу «Загальна фізика»
- •Обчислення похибок при прямих вимірюваннях.
- •Обчислення похибок при непрямих вимірюваннях.
- •Температурна залежність електричного опору напівпровідників
- •1. Мета роботи.
- •2. Теоретичні відомості.
- •3. Контрольні запитання.
- •4. Домашнє завдання.
- •5. Лабораторне завдання.
- •6. Послідовність виконання роботи
- •7. Прилади та обладнання.
- •3. Контрольні запитання.
- •4. Домашнє завдання.
- •5. Лабораторне завдання.
- •6. Порядок виконання роботи.
- •6. Прилади та обладнання.
- •3. Контрольні запитання.
- •4. Домашнє завдання.
- •5. Лабораторне завдання.
- •6. Послідовність виконання роботи:
- •6. Прилади і матеріали.
- •7. Література.
- •Вивчення фотоелектрорушійної сили
- •1. Мета роботи.
- •2. Теоретичні відомості.
- •3. Контрольні запитання.
- •4. Домашнє завдання.
- •5. Лабораторне завдання.
- •6. Порядок виконання роботи.
- •7. Прилади та обладнання.
- •3. Контрольні запитання.
- •4. Домашнє завдання.
- •5. Лабораторне завдання.
- •6. Послідовність виконання роботи.
- •6. Прилади та обладнання.
- •3. Опис вимірювального приладу.
- •4. Контрольні запитання.
- •5. Домашнє завдання.
- •6. Послідовність виконання роботи.
- •7. Прилади та обладнання.
- •3. Опис вимірювальної установки
- •4. Контрольні запитання
- •5. Домашнє завдання
- •6. Лабораторне завдання
- •7. Прилади та обладнання.
- •8. Література.
6. Прилади і матеріали.
Досліджуваний зразок – напівпровідниковий монокристал германію, джерело живлення, міліамперметр, мілівольтметр, штангенциркуль.
7. Література.
1 Детлаф А.А. Яворский Б.М. Милковская Л.В. «Курс физики» (в трех томах) Т.2- М.: Высшая школа. 1977.п. 8.1-8.5,9.2,10.2.
2. Калашников С.Г. «Электричество» - М.: Наука. 1977 п. 53, 57, 59, 61.
3. Савельев И.В. «Курс общей физики» Т.2 – М.: Наука. 1978. п. 31,34.
4. Кучерук І.М., Горбачу І.Т. «Загальна фізика. Електрика і магнетизм» - К.: Вища школа , 1990. п.21-24.
5. Панфилов, Спиридонов Н.С. «Полупроводниковые диоды и транзисторы» - Одесса: Узд-во ОЭИС им. А.С. Попова. 1984.
Лабораторна робота № 4
Вивчення фотоелектрорушійної сили
1. Мета роботи.
Вивчення вентильного фотоефекту в р-ппереході.
2. Теоретичні відомості.
Фотоелектрорушійна сила(фотоерс) являє собою різницю потенціалів, що виникає вр-nпереході під дією опромінення електромагнітними хвилями.
Так званий р-nперехід виникає в перехідній області напівпровідника з різними типами провідності. На рис. 1. зліва від межі поділу розміщено область напівпровідникар- типу, а праворуч показано напівпровідникn- типу.
Виникнення р-nпереходу:
Рис. 1.
Різниця концентрації однотипних вільних носіїв електричного заряду в n- ір- областях напівпровідника призводить до дифузії дірок зр- області вn- область і дифузії електронів у протилежному напрямку. Внаслідок цього на межір- іn- області виникає контактна різниця потенціалів: електрони, що вийшли зn- області, залишають в цій області нескомпенсований позитивний заряд, а дірки, що вийшли зр- області неврівноважений негативний заряд. Дифузія змінює концентрацію носіїв до тих пір, доки не встановиться динамічна рівновага: потік носіїв внаслідок дифузії врівноважується потоком носіїв у зворотному напрямку під дією різниці потенціалів, що виникла на межір-nпереходу.
При опроміненні переходу в р- області виникають додаткові електронно-діркові пари. Вільні електрони з цих пар дифундують дор-nпереходу і під дією контактного поля переводяться вn- область. Однак дірки подолати потенціальний бар’єр не в змозі і залишаються вр- області. Тому р- область заряджується позитивно, аn- область негативно, і вр-nпереході виникає додаткова різниця потенціалів, її називають фотоелектрорушійною силою (фотоерс). Величина фотоерс визначається природою напівпровідникових матеріалів, що створюютьр-nперехід, і залежить від світлового потоку.
Світловий потік Ф від точкового джерела визначається виразом:
, (1)
де j- сила світла джерела,r- відстань від джерела,σ- площа освітлюваної поверхні.
Отже, залежність величини фотоерс від світлового потоку можна вивчати, визначаючи її як функцію від величини 1/r2
Явище виникнення фотоерс закладено в основу дії вентильного фотоелемента, в якому світлова енергія безпосередньо перетворюється в електричну.
Основною характеристикою вентильного фотоелемента є його світлова характеристика, тобто залежність величини фотоструму або напруги на його затискачах від величини світлового потоку в різних режимах роботи фотоелемента.
Вентильний фотоефект є одним з видів внутрішнього фотоефекту. Варто відрізняти внутрішній фотоефект від зовнішнього, який полягає у емітуванні електронів з поверхні речовини під дією світла.