11 Магнитографическая дефектоскопия.

Способ магнитографической дефектоскопии основан на намагничивании зоны объекта контроля вместе с прижатой к его поверхности эластичной магнитной лентой, фиксации возникающих на ней в местах дефектов полей рассеивания и последующем воспроизведении полученной записи. Считывание магнитных отпечатков полей дефектов осуществляется в специальных дефектоскопах, где запись при помощи воспроизводящих магнитных головок преобразуется в электрические сигналы, а магнитная лента может быть использована как объективный документ, сохраняющий данные о качестве проконтролированного изделия ответственного назначения. Достоинством магнитографического метода является высокая чувствительность к дефектам, расположенным на глубине до 15 - 20 мм, возможность импульсной и видеоиндексации дефектов на экране электронно-лучевой трубки. Основными недостатками магнитографического метода являются недостаточная чувствительность к выявлению округлых дефектов ( шлаковые включения и газовые поры), а также низкое качество визуализации магнитной записи на люминесцентном экране электронно-лучевой трубки. Этот недостаток обуславливается тем, что из-за малого послесвечения люминесцентного экрана за время заполнения строками полного кадра на экране дефектоскопа, начало формируемого изображения успевает потускнеть.

12 Магнитная толщинометрия.

Магнитная толщинометрия основана на измерении силы притяжения постоянного магнита или электромагнита к поверхности изделия из ферромагнитного материала, на которую нанесен слой немагнитного покрытия, и позволяет определить толщину этого покрытия. При всех преимуществах двухполюсных систем, используемых в магнитнойтолщинометрии покрытий, они имеют недостатки. Они чувствительны к анизотропии свойств и к чистоте обработки ферромагнитного основания; кроме того, при их использовании необходимо обеспечивать одинаковый и надежный контакт полюсов преобразователя с контролируемой поверхностью. Особенно эффективно применение этого метода для измерений толщины немагнитных покрытий на магнитной подложке. В нефтехимических производствах часто используются защитные покрытия из немагнитных материалов ( стали аустенитного класса, цветные металлы) на основной металл объекта, изготавливаемый из ферромагнитных сталей. Примером могут служить антикоррозионные наплавки, плакировки, футеровки.

90 Физические основы вихретокового метода контроля

Вихретоковые МНК основаны на исследовании взаимодействия электромагнитного поля вихретокового преобразователя с наводимым в объекте контроля  электромагнитным полем вихревых токов, имеющих частоту до 1 млн Гц.

На практике данный метод используют для контроля объектов, которые изготовлены из электропроводящих материалов. С его помощью получают информацию о химическом составе и геометрическом размере изделия, о структуре материала, из которого объект изготовлен и обнаруживают дефекты, залегающие на поверхности и в подповерхностном слое (на глубине 2-3 мм). Типичный прибор используемый этим методом — вихретоковый дефектоскоп.

Принцип контроля заключается в следующем. С помощью катушки индуктивности 1 в объекте контроля 3 возбуждаются вихревые токи 2,  регистрируемые приёмным измерителем, в роли которого выступает та же самая или другая катушка. По интенсивности распределения токов в контролируемом объекте можно судить о размерах изделия, свойствах материала, наличии несплошностей.

Рис.3 – Вихретоковый МНК (прохождения)

На рисунке 3 изображен вихретоковый метод прохождения (возбуждающая катушка и приёмник расположены по двум сторонам объекта). К основным методам вихретокового контроля также относят:

• метод рассеянного излучения (регистрация рассеянных волн или частиц, отраженных от дефекта);

• эхо-метод или метод отраженного излучения (регистрируются отраженные от дефекта поля и волны).