Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Лабораторная работа1 электроника.docx
Скачиваний:
4
Добавлен:
12.08.2019
Размер:
150.3 Кб
Скачать

Лабораторная работа 1

Полупроводниковые диоды

Цель работы: изучить принцип действия и исследовать характеристики полупроводникового диода.

Задание к работе:

К работе допущен:

Работу выполнил:

Работу защитил:

Выполнил студент гр. РС-109

Калабашкин Д.А.

Теоретическое введение

Полупроводниковый диод – это полупроводниковый прибор с одним или несколькими электронно-дырочным (р-п) переходам, разделяющим р- и п- области кристалла полупроводника и двумя выводами (рис. 1.1). Одна из полупроводниковых областей кристалла, имеющая более высокую концентрацию примесей (следовательно, и основных носителей заряда), называется эмиттером, а другая, с меньшей концентрацией – базой.

Рис. 1.1. Условное обозначение полупроводникового диода (а) и

его структура (б)

Принцип работы полупроводникового диода. Предположим, что внешнее напряжение на выводах отсутствует. Тогда свободные электроны п- области стремятся в р- область, аналогично, дырки из р- области диффундируют в п- область и возникает диффузионный ток. Электроны и дырки, пройдя границу раздела р- и п- областей, оставляют противоположные заряды, которые создают внутреннее электрическое поле с напряженностью Езар, препятствующей дальнейшей диффузии основных носителей заряда. В результате возникает так называемый «потенциальный барьер», а диффузия практически прекращается, так как энергия носителей заряда недостаточна для преодоления потенциального барьера. При подключении к выводам диода внешнего напряжения1, которое создаст в р-п- переходе поле, векторы напряженности которого совпадают с Езар, высота потенциального барьера увеличивается и, как следствие, диффузионный ток стремится к нулю. Если полярность прикладываемого напряжения изменить2, то создаваемое им электрическое поле будет компенсировать действие внутреннего поля, уменьшая этим высоту потенциального барьера. В результате, по мере возрастания напряжения, в область базы будет вводиться все большее количество дырок, которые и образуют прямой ток диода Iпр (рис. 1.2, а).

Рис. 1.2. Статическая вольт-амперная характеристика диода идеального (а) и реального диода (б); 1 – ВАХ при комнатной температуре t1;

2 – Вах при температуре t2< t1

Все полупроводниковые диоды принято подразделять на две группы: выпрямительные, предназначенные для выпрямления переменного тока, и специальные. Конструктивно выпрямительные диоды делятся на плоскостные и точечные, а по технологии изготовления – на сплавные, диффузионные и эпитаксиальные. В зависимости от частоты и формы переменного напряжения выпрямительные диоды подразделяются на высокочастотные (максимально допустимая частота входного напряжения fmax > 103 Гц), низкочастотные (fmax < 103 Гц) и импульсные. По мощности выпрямительные диоды классифицируют на маломощные (максимально за период входного напряжения среднее значение прямого тока диода Iпр ср max ≤ 0,3 А), средней мощности (0,3 А < Iпр ср max ≤ 10 А) и большой мощности (Iпр ср max > 10 А).

Выпрямительные диоды большой мощности называются силовыми. Силовые диоды характеризуются рядом статических и динамических параметров. К статическим параметрам диода относятся: падение напряжения на диоде при заданном прямом токе Uпр; среднее значение прямого тока Iпр; допустимое обратное напряжение Uобр и соответствующий ему обратный ток Iобр. Статические параметры удобно определять по вольт-амперной характеристике диода (рис. 1.2, б)

Вольт-амперная характеристика (ВАХ) диода описывается выражением

, (1.1)

где I0 – тепловой ток; Uд – напряжение на p-n переходе; φт = kT/q – тепловой потенциал, равный контактной разности потенциалов на границе p-n перехода при отсутствии внешнего напряжения (при Т = 300 К, φт = 0,025 В); k – постоянная Больцмана; Т – абсолютная температура; q – заряд электрона.

При отрицательных напряжениях порядка 0,1 ...0,2 В экспоненциальной составляющей, по сравнению с единицей, можно пренебрегать (e-4 ≈ 0,02), при положительных напряжениях, превышающих 0,1 В, можно пренебрегать единицей (е4 ≈ 54,6), поэтому ВАХ, описываемая этими выражениями, будет иметь вид, приведенный на рис. 1.2, а. По мере возрастания положительного напряжения на p-n переходе прямой ток диода резко возрастает. Поэтому незначительное изменение прямого напряжения приводит к значительному изменению тока, что затрудняет задание требуемого значения прямого тока с помощью напряжения. Вот почему для p-n переходов характерен режим заданного прямого тока.

Реальный p-n переход не является бесконечно тонким и поэтому при обратном напряжении происходит генерация пар электрон-дырка. ВАХ реального диода приведена на рис. 1.2, б (кривая 1). Видно, что при определенном значении обратного напряжения Uобр = Uпроб начинается лавинообразный процесс нарастания обратного тока Iобр, соответствующий электрическому пробою p-n перехода (рис. 1.2, б, отрезок АВ). Если в этот момент ток не ограничить, то электрический пробой переходит в тепловой (рис. 1.2, б, участок ВАХ, после точки В). Электрический пробой обратим, т.е. после уменьшения напряжения Uобр работа диода соответствует пологому участку обратной ветви ВАХ. Тепловой пробой необратим, так как разрушает p-n переход. Прямая ветвь ВАХ реального диода (рис. 1.2, б) также отличается от ВАХ идеального p-n перехода. Это вызвано влиянием объемного сопротивления базы диода при больших уровнях инжекции3. Прямой ток диода также зависит от температуры окружающей среды, возрастая с ее повышением (рис. 1.2, б кривая 2). Для оценки температурной зависимости прямой ветви ВАХ диода служит температурный коэффициент напряжения К-1:

, (1.2)

где ∆Т и U – конечные приращения температуры и напряжения вблизи рабочей точки.

ВАХ позволяет также определить статическое и дифференциальное (динамическое) сопротивления диода. Дифференциальное сопротивление (rд) численно равно отношению бесконечно малого приращения напряжения U к соответствующему приращению тока I в заданном режиме работы диода и может быть определен графически с помощью угла между касательной в рассматриваемой рабочей точке ВАХ и осью абсцисс (рис. 1.2, б угол β):

, (1.3)

где mU, mI – масштабы осей напряжения и тока.

Статическое сопротивление Rст численно равно отношению напряжения на элементе UE к протекающему через него току IE и может быть определено графически через угол наклона прямой, проведенной из начала координат через заданную рабочую точку ВАХ к оси абсцисс (рис. 1.2, б угол α):

. (1.4)

При работе на высоких частотах и в импульсных режимах начинает играть роль емкость диода Сд, измеряемая между выводами диода при заданных значениях напряжения и частоты. Эта емкость включает емкость перехода Спер, образованную диффузионной Сдиф4, зарядной (барьерной) Сзар5 емкостями, и емкостью Ск корпуса диода. Полупроводниковый диод, действие которого основано на использовании зависимости зарядной емкости Сзар от значения приложенного напряжения, называется варикап. Условное графическое обозначение варикапа приведено в прил. 1. Значение емкости диода определяется режимом его работы, действительно, при прямом напряжении Сд = Сдиф + Ск, при обратном – Сд = Сзар + Ск, это позволяет применять варикап в качестве элемента с электрически управляемой емкостью.

Рис. 1.3. Вольт-фарадная характеристика варикапа

Основной характеристикой варикапа служит вольт-фарадная характеристика (рис. 1.3) – зависимость емкости варикапа от величины приложенного обратного напряжения. Теоретическое значение емкости варикапа можно определить как:

,

где С0 – начальная емкость варикапа при Uв = 0 В; Uв – напряжение на варикапе; ψк – контактная разность потенциалов.

Основными параметрами варикапа являются: емкость Св6, добротность и коэффициент перекрытия по емкости, равный7

, (1.5)

где Сmax, Cmin – емкости варикапа максимальная и минимальная соответственно (Кс = 2 ... 20).

Эквивалентная схема варикапа приведена на рис. 1.4. Видно, что полное сопротивление варикапа определяется как:

Рис. 1.4. Эквивалентная схема замещения варикапа: Rш– сопротивления

перехода и шунтирующих его утечек, Rп – сопротивление материала

полупроводника, С – зарядная емкость Сзар

.

Видно, что реактивное сопротивление варикапа нелинейно, зависит от частоты, поэтому добротность варикапа, определяемая отношением его реактивного и активного сопротивлений, будет иметь максимум, который соответствует частоте

. (1.6)

Для варикапов, изготовленных из арсенида галлия, ω ~ 1кГц, а для кремниевых – достигает 1 МГц. Зависимости емкости варикапа от приложенного к нему обратного напряжения и частотная зависимость его сопротивления позволяют широко использовать варикапы в различных резонансных контурах электронных схем модуляторов, генераторов и т.п.