- •Вступление
- •Основные задачи технической диагностики
- •Системы диагноза технического состояния
- •Диагностические системы управления
- •Объекты диагноза
- •Математические модели объектов диагноза
- •Функциональные схемы систем тестового и функционального диагноза
- •Методы и технические средства диагностирования элементов и устройств вычислительной техники и систем управления Общие сведения
- •Тестовое тестирование узлов, блоков и устройств.
- •Структуры автоматизированных систем.
- •Программное обеспечение процессов диагностирования.
- •Логические анализаторы.
- •Микропроцессорные анализаторы (ма).
- •Способы запуска.
- •Подключающие устройства.
- •Ввод начальных данных.
- •Проверка отдельных триггеров.
- •Проверка содержимого постоянных запоминающих устройств (пзу).
- •Проверка оперативных запоминающих устройств (озу).
- •Проверка работы линии коллективного пользования (лкп).
- •Проверка аналого-цифровых преобразователей (ацп).
- •Проверка печатных плат.
- •Проверка микропроцессорной системы.
- •Сигнатурные анализаторы
- •Процесс формирования сигнатур.
- •Аппаратурная реализация сигнатурного анализатора.
- •Тестовое диагностирование устройств в составе эвм.
- •Диагностирование оборудования процессоров.
- •Способы диагностирования периферийных устройств.
- •Диагностирование упу/пу с помощью процессора.
- •Проверки упу/пу с помощью диагностических приказов.
- •Диагностирование упу/пу с помощью тестеров.
- •Способы тестирования зу.
- •Принципы построения стандартных проверяющих тестов полупроводниковых зу.
- •Аппаратурные средства функционального диагностирования узлов и блоков. Основные принципы построения.
- •Кодовые методы контроля.
- •Контроль передач информации.
- •Контроль по запрещенным комбинациям.
- •Самопроверяемые схемы контроля.
- •Контроль по модулю
- •Организация аппаратурного контроля озу.
- •Организация аппаратурного контроля внешних зу.
- •Средства функционального диагностирования в составе эвм.
- •Контроль методом двойного или многократного счета
- •Экстраполяционная проверка
- •Контроль по методу усеченного алгоритма (алгоритмический контроль).
- •Способ подстановки.
- •Проверка предельных значений или метод "вилок".
- •Проверка с помощью дополнительных связей.
- •Метод избыточных переменных
- •Контроль методом обратного счета.
- •Метод избыточных цифр.
- •Метод контрольного суммирования.
- •Контроль методом счета записи.
- •Контроль по меткам
- •Метод обратной связи
- •Метод проверки наличия формальных признаков (синтаксический метод, метод шаблонов).
- •Метод проверки запрещенных комбинаций.
- •Метод an-кодов
- •Методы на основе циклических кодов и кодов Хэмминга и др.
- •Структурные методы обеспечения контролепригодности дискретных устройств.
- •Введение контрольных точек.
- •Размножение контактов.
- •Использование блокирующей логики.
- •Применение параллельных зависимых проверок
- •Замена одним элементом состояний группы элементов памяти.
- •Методы улучшения тестируемой бис. Сокращение числа тестовых входов.
- •Двухуровневое сканирование.
- •Микропроцессорные встроенные средства самотестирования.
- •Контроль и диагностирование эвм Характеристики систем диагностирования
- •Системы контроля в современных эвм
- •Применение аналоговых сигнатурных анализаторов
- •Работа локализатора неисправностей pfl780 в режиме "Pin by Pin"
- •Работа в режиме Pin by Pin
- •Работа с торцевыми разъемами
- •Среда тестирования
- •Индивидуальное тестирование или режим Pin by Pin?
- •Тестирование специальных устройств
- •Устранение ложных отказов путем использования эталонных сигнатур компонентов от разных производителей
- •Тестирование цифровых компонентов методом asa
- •Вариации сигнатур.
- •Входные цепи защиты
- •Набор альтернативных сигнатур
- •Тестирование подключенных к общей шине компонентов путем их изоляции специальными блокирующими напряжениями.
- •Системы с шинной архитектурой
- •Устройства с тремя логическими состояниями
- •Разрешение работы и блокирование компонентов
- •Применение "блокирующих" напряжений
- •Отключение тактовых импульсов.
- •Отключение шинных буферов.
- •Опция Loop until Pass
- •Локализация дефектных компонентов в системах с шинной архитектурой без их удаления из испытываемой цепи
- •Поиск неисправностей методами asa и ict в системах с шинной архитектурой
- •Сравнение шинных сигнатур
- •Шинные сигнатуры
- •Изоляция устройств.
- •Локализация коротких замыканий шины и неисправностей нагрузки прибором toneohm 950 в режиме расширенного обнаружения неисправностей шины
- •Типы шинных неисправностей
- •Короткие замыкания с низким сопротивлением
- •Измерение протекающего через дорожку тока.
- •Измерение напряжения на дорожке печатной платы
- •Обнаружение кз и чрезмерных токов нагрузки в труднодоступных для тестирования местах
- •Короткие замыкания на платах
- •Обнаружение сложных неисправностей тестируемой платы путем сравнения импедансных характеристик в режиме asa
- •Импедансные сигнатуры
- •Локализация неисправностей методом Аналогового сигнатурного анализа
- •Методы сравнения
- •Основы jtag Boundary Scan архитектуры
- •АрхитектураBoundaryScan
- •Обязательные инструкции
- •Как происходитBoundaryScanтест
- •Простой тест на уровне платы
- •Граф состояний тар – контроллера
- •Мониторинг сети Управление сетью
- •Предупреждение проблем с помощью планирования
- •Утилиты мониторинга сети
- •Специальные средства диагностики сети
- •Источники информации по поддержке сети
- •Искусство диагностики локальных сетей
- •Организация процесса диагностики сети
- •Методика упреждающей диагностики сети
- •Диагностика локальных сетей и Интернет Диагностика локальных сетей
- •Ifconfig le0
- •Сетевая диагностика с применением протокола snmp
- •Диагностика на базеIcmp
- •Применение 6-го режима сетевого адаптера для целей диагностики
- •Причины циклов пакетов и осцилляции маршрутов
- •Конфигурирование сетевых систем
- •Методы тестирования оптических кабелей для локальных сетей.
- •Многомодовый в сравнении с одномодовым
- •Нахождение разрывов
- •Измерение потери мощности
- •Использование тестовOtdRдля одномодовых приложений
- •Источники
- •Словарь терминов а
Применение аналоговых сигнатурных анализаторов
* Работа локализатора неисправностей PFL780 в режиме "Pin by Pin"
* Устранение ложных отказов путем использования эталонных сигнатур компонентов от разных производителей
* Тестирование подключенных к общей шине компонентов путем их изоляции специальными блокирующими напряжениями.
* Локализация дефектных компонентов в системах с шинной архитектурой без их удаления из испытываемой цепи
* Локализация коротких замыканий шины и неисправностей нагрузки прибором TONEOHM 950 в режиме расширенного обнаружения неисправностей шины
* Обнаружение сложных неисправностей тестируемой платы путем сравнения импедансных характеристик в режиме ASA
Работа локализатора неисправностей pfl780 в режиме "Pin by Pin"
Использование режима "Pin by Pin" при работе с локализатором неисправностей PFL780 позволяет значительно упростить программирование и уменьшить время, необходимое для выполнения тестирования уникальных или, находящихся в труднодоступных местах, устройств.
Высокая скорость тестирования модулей или сложных устройств автоматизированными локаторами неисправностей серии Polar PFL, использующих методы тестирования ASA, Analog Signature Analysis (Аналогового сигнатурного анализа) и ICT, In-circuit Testing (Внутрисхемного тестирования), объясняется использованием специальных тестовых пробников и клипс.
Наличие широкой номенклатуры тестовых пробников и клипс позволяет выполнять тестирование большинства подлежащих проверке устройств за считанные секунды.
Работа в режиме Pin by Pin
Высокая плотность монтажа, или наличие в проверяемых цепях высоких компонентов может, в некоторых случаях, затруднять применение стандартных многоконтактных пробников при тестировании компонентов с большим количеством контактов. Тестирование указанных устройств, в таких случаях, производится с помощью обычных одноконтактных пробников. Режим Advanced Editing Pin by Pin (Расширенное поконтактное тестирование) позволяет испытывать каждый контакт тестируемого компонента без создания отдельной программы на отдельный контакт.
Работа с торцевыми разъемами
Сигнальные и управляющие линии некоторых печатных плат коммутируются с другими устройствами с помощью торцевых разъемов или коннекторов типа RS232 D. К примеру, разъемы данных типов используются на ISA и PCI платах персональных компьютеров, что объясняет широкое применение специализированных тестовых адаптеров локализаторов неисправностей PFL при их тестировании. Входа PFL сочленяются с торцевыми разъемами проверяемой платы с помощью указанных адаптеров - после чего осуществляется тестирование каждой линии коннектора печатной платы, что позволяет верифицировать большие участки проверяемого устройства. Если используется данный метод, вы будете должны принять решение либо испытывать каждую линию в качестве отдельного элемента тестовой программы, либо тестировать всю печатную плату как отдельный компонент. Принятые параметры тестирования задаются по умолчанию и используются при тестировании аналогичных устройств в дальнейшем. Наличие в локализаторе неисправностей до 128 входных каналов позволяет, во многих случаях, выполнять тестирование печатной платы за считанное число секунд. Каждому контакту торцевого разъема может быть присвоено дополнительное описательное имя (дескриптор), которое будет отображаться в списке тестирования локализатора неисправностей.