- •Содержание
- •14.2.2. Окончательная обработка исполнительных поверхностей 146
- •1. Детали оптических систем
- •1.1. Классификация оптических деталей
- •1.2. Особенности оформления чертежа
- •1.3. Требования к конструктивным параметрам деталей
- •1.4. Требования к материалу
- •1.5. Требование к изготовлению
- •1.6. Технологические свойства оптических материалов
- •1.7. Унификация и типизация технологических процессов
- •2. Контроль параметров оптических деталей
- •2.1. Контролируемые параметры
- •2.2. Методы и средства контроля формы шлифованных поверхностей
- •2.3. Контроль формы полированных плоских и сферических поверхностей
- •2.4. Пробные стекла, их типы и классы
- •2.5. Интерферометры
- •2.6. Контроль взаимного расположения поверхностей линз
- •3. Обрабатывающие материалы
- •3.1. Шлифующие абразивы
- •3.1.1. Зернистость и зерновой состав порошков алмаза
- •3.1.2. Порошки корунда, электрокорунда и других абразивов
- •3.2. Полирующие абразивы
- •4. Инструмент
- •4.1. Алмазный инструмент
- •4.1.1. Типы и характеристики алмазного инструмента
- •4.1.2. Изготовление алмазного инструмента
- •4.2. Инструмент и приспособления для шлифования и полирования
- •4.2.1. Шлифовальный инструмент
- •4.2.2. Полировальный инструмент
- •4.2.3. Приспособления
- •5. Вспомогательные материалы
- •5.1. Смазочно-охлаждающие жидкости (сож)
- •5.2. Материалы для соединения заготовок с приспособлением
- •5.3. Материалы рабочей поверхности полировальников
- •5.4. Жидкости для промывки и чистки деталей
- •5.5. Защитные лаки и эмали
- •5.6. Протирочные материалы
- •5.7. Материалы для чистки оптических деталей
- •6. Способы формообразования сферических и плоских поверхностей
- •7. Способы механической обработки оптических материалов
- •7.1. Шлифование алмазным инструментом
- •7.2. Обработка полирующими абразивами
- •8. Операции механической обработки оптических материалов
- •8.1. Распиливание стекла
- •8.2.Сверление отверстий
- •8.3. Круглое шлифование пластин
- •8.4. Центрирование линз
- •8.5. Шлифование сферических и плоских поверхностей
- •8.5.1.Предварительное шлифование алмазными кольцевыми кругами
- •8.2.2. Тонкое шлифование алмазным инструментом
- •8.6. Полирование сферических и плоских поверхностей
- •9. Механическая обработка оптических кристаллических материалов
- •9.1. Основные физико-механические и физико-химические свойства
- •9.2. Условия для обработки кристаллов и техника безопасности
- •9.3. Механическая обработка оптических кристаллических материалов с повышенной микротвердостью
- •9.4. Разделение кристаллов на заготовки
- •9.5. Грубое шлифование
- •9.6. Кругление
- •9.7. Фасетирование
- •9.8. Сборка блоков заготовок (блокирование)
- •9.9. Среднее и тонкое шлифование
- •9.10. Полирование
- •10. Установка заготовок на приспособлениях
- •10.1. Сборка блоков
- •10.2. Разборка блоков
- •11. Влияние технологических факторов на точность формообразования
- •11.1. Деформации, вызываемые остаточными напряжениями в стекле
- •11.2. Деформации, вызываемые напряжениями в нарушенном слое шлифованной поверхности
- •11.3. Температурные деформации
- •12. Расчет нормируемых параметров процесса
- •12.1. Коэффициент запуска
- •12.2. Припуски на обработку заготовок
- •13. Расчет плоских и сферических блоков
- •13.1. Плоский блок
- •13.2. Сферический блок
- •14. Технология типовых деталей
- •14.1. Технологический процесс изготовления плоскопараллельных пластин и клиньев
- •14.1.1. Предварительная обработка
- •14.1.2. Окончательная обработка исполнительных поверхностей
- •14.1.3. Изготовление точных пластин
- •14.2. Технологический процесс изготовления призм
- •14.2.1. Предварительная обработка
- •14.2.2. Окончательная обработка исполнительных поверхностей
- •14.3. Технологический процесс изготовления линз
- •15. Технология нестандартных деталей
- •15.1. Шаровидные линзы
- •15.1.1. Характеристики деталей
- •15.1.2 Технология изготовления
- •15.2. Цилиндрические и торические поверхности
- •15.3. Оптические детали лазеров
- •15.4. Основы технологии изготовления волоконно–оптических элементов (воэ)
- •15.4.1. Основные технические характеристики воэ
- •15.4.2. Основные требования к стеклам для воэ
- •15.4.3. Изготовление волоконно-оптических пластин (вол)
- •15.4.4 Изготовление микроканальных пластин (мкп)
- •15.5. Методы изготовления деталей с асферическими поверхностями
- •1 5.5.1. Методы нанесения слоя
- •15.5.2 Методы механической обработки
- •15.6. Изготовление крупногабаритных деталей
- •Окончание табл. 15.4
- •15.7. Изготовление шкал и сеток
- •15.7.1 Виды шкал и сеток, требования к ним
- •15.7.2 Основные технологические процессы и оборудование
- •1 5.8. Оптические детали из полимеров
- •15.9. Стеклометаллические зеркала
- •16. Соединение оптических деталей
- •16.1. Способы соединения
- •16.2. Материалы, применяемые для соединения
- •16.3. Технология соединения оптических деталей
- •17. Основы сборки и юстировки оптических приборов
- •17.1. Сборочные элементы приборов
- •17.2 Структура технологического процесса сборки
- •17.3. Общие принципы построения технологического процесса сборки
- •18. Фокусировка изображения в оптическом приборе
- •18.1. Параллакс в оптическом приборе
- •18.2. Способы фокусировки
- •18.2.1 Фокусировка при помощи астрономической зрительной трубы
- •18.2.2 Фокусировка при помощи плоскопараллельной пластинки
- •18.3. Контроль параллакса по бесконечно удаленному предмету
- •18.3.1 Проверка параллакса при помощи коллиматора
- •19. Сборка и юстировка типовых узлов оптических приборов
- •19.1. Сборка и юстировка объективов
- •19.1.1. Типы конструкций объективов оптических приборов. Общие требования к сборке объективов
- •19.1.2. Сборка объективов насыпной конструкции
- •19.1.3. Методы контроля и юстировки объективов. Контрольноюстировочные приборы
- •19.1.4. Сборка и юстировка узлов с призмами и зеркалами, работающими в параллельных и сходящихся пучках
- •20. Сборка и юстировка типовых оптических приборов
- •20.1. Сборка и юстировка спектральных приборов
- •20.2. Сборка и юстировка угломерных приборов
- •20.2.1. Общие требования к сборке и юстировке оптических угломерных приборов
- •20.2.2 Сборка и юстировка угломерных приборов с поворотными визирами
- •Библиографический список
9.9. Среднее и тонкое шлифование
Операции среднего и тонкого шлифования выполняют свободным или связанным абразивом на станках типа ШП, ПД различных моделей.
Шлифование свободным абразивом осуществляют микропорошками электрокорунда, карбида кремния, карбида бора, последовательно переходами М28В, М14В, М10В или микропорошками алмаза АСМ28, АСМ14, АСМ10. Порошки должны быть однородны по гранулометрии, не содержать зерен предельной фракции и возможных царапающих примесей. Для исключения случайных металлических включений микропорошки протравливают в течение 3 ч в концентрированной соляной кислоте с последующей промывой их водой до нейтральной реакции и классификацией зерен.
Шлифование выполняют на инструменте из латуни, стекла марок ЛК5 и К8. Для сокращения времени обработки в два-три раза тонкое шлифование долгополируемых кристаллов типа КРС-5, КРС-6, LiTaO3 целесообразно осуществлять на пекоканифольной смоле СП-2.
В качестве СОЖ применяют воду, для водорастворимых кристаллов – насыщенные растворы их солей в воде, этиленгликоль, глицерин. Припуск на шлифование для материалов типа КС1, NaCl, КВг, DKDP составляет при обычном шлифовании 0,08 мм, при глубоком 0,4 – 0,5 мм, для кристаллов фторидов ZnSe, ПО-4, ПО-2 – соответственно 0,6 и 0,3 мм.
Рекомендуемые режимы среднего и тонкого шлифования кристаллов с микротвердостью до 6∙10-5 Па приведены в табл. 9.3.
Таблица 9.3
Режимы среднего и тонкого шлифования кристаллов
Диаметр кристалла, м |
Частота вращения шпинделя, с-1 |
Число двойных ходов верхнего звена, с"1 |
Давление, кПа |
До 0,15 До 0,30 До 0,50 |
0,585-1,002 0,334-0,501 0,167-0,334 |
1,167-1,333 0,583-0,750 0,333-0,417 |
5.0-5,5 1.5-2.0 0,8-1.0 |
Параметр шероховатости поверхности кристаллов должен соответствовать Rz = 0,16 – 0,32 мкм. Царапины, точки, трещины, посечки и другие дефекты на шлифованной поверхности недопустимы.
Безабразивное шлифование водорастворимых кристаллов не нарушает поверхностного слоя материала. Процесс ведут на батисте, туго натянутом и закрепленном на приспособлении из стекла марок К8, ЛК5 с точностью формы N=1. Шлифование происходит за счет растворения поверхностного слоя кристалла 50% -ным водным раствором этилового спирта. Толщина снимаемого материала при безабразивном шлифовании не менее 0,5 мм, Rz = 0,32 – 0,10 мкм.
9.10. Полирование
Известные процессы полирования оптического стекла не могут однозначно применяться для полирования кристаллов из-за их особых физико-механических и физико-химических свойств.
Для кристаллов используют бесконтактные методы контроля: для измерения размеров – измерительные микроскопы, для проверки точности формы поверхности – интерферометры. Контроль на целостность материала детали производят на полярископах-поляриметрах моделей ПКС-100, ПКС-250.
Кристаллы полируют на обычных шлифовально-полировальных станках типа ШП или ПД.
В качестве материала полировальника используют пекоканифольные смолы марок СП-2, СП-3, либо пекоканифольные смолы с наполнителями (битумом, воском пчелиным, шеллаком и т. д.) и пластификаторами (дибутилфталатом, скипидаром, машинным маслом и т. д.), изменяющими упруговязкие и пластические свойства полирующих составов (РТМ 3-72). Композиции на основе пекока-нифольных смол (86 %), касторового масла (4 %), парафина (5 %; ТУ 6-09-112), триацетата целлюлозы (5 %; Ту 6-55-1675) или ацетилцеллюлозы обладают большой упругостью и малой пластичностью. Их применяют для полирования любых кристаллов с микротвердостью до 6 • 105 Па. При этом получают высокое качество полирования для деталей высокого класса точности (N < 0,5; ΔN < 0,3 на 0 0,1 м); чистоты (II – III).
Для деталей с точностью формы поверхности N ≥ 5 на ø 0,1 м в качестве материала полировальника используют батист, бархат, замшу, пенополиуретан, дерево, синтетические материалы.
Полирование производят микропорошками различной природы: алмазными АСМ5/3, АСМЗ/2, АСМ1/0, AMI, ACM0,7/0,3; оксида хрома с размером зерен основной фракции 0,8—1,2 мкм (полученного сжиганием бихромата калия и серы технической) и 0,5 мкм (полученного термическим разложением бихромата аммония); тонкодисперсного глинозема (a-Al2O3) с размером зерен основной фракции 0,1-0,3 мкм; 0,3-0,5 мкм; 0,5-0,7 мкм; 0,7 – 1,0 мкм; оксида церия, полирита.
Для защиты полированных поверхностей водорастворимых кристаллов от воздействия влаги наносят покрытие толщиной 0,2 – 0,3 мкм из фторопластового полимера Ф32Л, приготовленного на осушенных растворителях. При хранении деталей более 24 ч пленку Ф32Л сверху покрывают нитроэмалью НЦ-25. После снятия защитного лака полированные поверхности не требуют промывки.
Незащищенные лаком детали хранят в эксикаторах или специальных полиэтиленовых упаковках с осушителями из пятиоксида фосфора или силикагеля. Срок хранения готовых деталей в эксикаторе не должен превышать для DKDP – 30 суток, KBr, NaCl, KC1 – семи суток, CsJ – трех суток. С увеличением срока хранения увеличивается толщина поверхностной пленки и изменяется ее химический состав. Полированные поверхности водорастворимых кристаллов при необходимости чистят с помощью чистых замшевых салфеток и обезвоженного амилацетата.
Кристаллы LiF полируют с использованием в качестве СОЖ 0,75%-ного водного раствора треххлористого железа FeClg • 6Н20 (а. с. N 203498). В сравнении с обработкой на воде состав сокращает время полирования в 1,5 – 2,0 раза, обеспечивает получение удовлетворительных характеристик класса точности поверхости.