- •Содержание
- •14.2.2. Окончательная обработка исполнительных поверхностей 146
- •1. Детали оптических систем
- •1.1. Классификация оптических деталей
- •1.2. Особенности оформления чертежа
- •1.3. Требования к конструктивным параметрам деталей
- •1.4. Требования к материалу
- •1.5. Требование к изготовлению
- •1.6. Технологические свойства оптических материалов
- •1.7. Унификация и типизация технологических процессов
- •2. Контроль параметров оптических деталей
- •2.1. Контролируемые параметры
- •2.2. Методы и средства контроля формы шлифованных поверхностей
- •2.3. Контроль формы полированных плоских и сферических поверхностей
- •2.4. Пробные стекла, их типы и классы
- •2.5. Интерферометры
- •2.6. Контроль взаимного расположения поверхностей линз
- •3. Обрабатывающие материалы
- •3.1. Шлифующие абразивы
- •3.1.1. Зернистость и зерновой состав порошков алмаза
- •3.1.2. Порошки корунда, электрокорунда и других абразивов
- •3.2. Полирующие абразивы
- •4. Инструмент
- •4.1. Алмазный инструмент
- •4.1.1. Типы и характеристики алмазного инструмента
- •4.1.2. Изготовление алмазного инструмента
- •4.2. Инструмент и приспособления для шлифования и полирования
- •4.2.1. Шлифовальный инструмент
- •4.2.2. Полировальный инструмент
- •4.2.3. Приспособления
- •5. Вспомогательные материалы
- •5.1. Смазочно-охлаждающие жидкости (сож)
- •5.2. Материалы для соединения заготовок с приспособлением
- •5.3. Материалы рабочей поверхности полировальников
- •5.4. Жидкости для промывки и чистки деталей
- •5.5. Защитные лаки и эмали
- •5.6. Протирочные материалы
- •5.7. Материалы для чистки оптических деталей
- •6. Способы формообразования сферических и плоских поверхностей
- •7. Способы механической обработки оптических материалов
- •7.1. Шлифование алмазным инструментом
- •7.2. Обработка полирующими абразивами
- •8. Операции механической обработки оптических материалов
- •8.1. Распиливание стекла
- •8.2.Сверление отверстий
- •8.3. Круглое шлифование пластин
- •8.4. Центрирование линз
- •8.5. Шлифование сферических и плоских поверхностей
- •8.5.1.Предварительное шлифование алмазными кольцевыми кругами
- •8.2.2. Тонкое шлифование алмазным инструментом
- •8.6. Полирование сферических и плоских поверхностей
- •9. Механическая обработка оптических кристаллических материалов
- •9.1. Основные физико-механические и физико-химические свойства
- •9.2. Условия для обработки кристаллов и техника безопасности
- •9.3. Механическая обработка оптических кристаллических материалов с повышенной микротвердостью
- •9.4. Разделение кристаллов на заготовки
- •9.5. Грубое шлифование
- •9.6. Кругление
- •9.7. Фасетирование
- •9.8. Сборка блоков заготовок (блокирование)
- •9.9. Среднее и тонкое шлифование
- •9.10. Полирование
- •10. Установка заготовок на приспособлениях
- •10.1. Сборка блоков
- •10.2. Разборка блоков
- •11. Влияние технологических факторов на точность формообразования
- •11.1. Деформации, вызываемые остаточными напряжениями в стекле
- •11.2. Деформации, вызываемые напряжениями в нарушенном слое шлифованной поверхности
- •11.3. Температурные деформации
- •12. Расчет нормируемых параметров процесса
- •12.1. Коэффициент запуска
- •12.2. Припуски на обработку заготовок
- •13. Расчет плоских и сферических блоков
- •13.1. Плоский блок
- •13.2. Сферический блок
- •14. Технология типовых деталей
- •14.1. Технологический процесс изготовления плоскопараллельных пластин и клиньев
- •14.1.1. Предварительная обработка
- •14.1.2. Окончательная обработка исполнительных поверхностей
- •14.1.3. Изготовление точных пластин
- •14.2. Технологический процесс изготовления призм
- •14.2.1. Предварительная обработка
- •14.2.2. Окончательная обработка исполнительных поверхностей
- •14.3. Технологический процесс изготовления линз
- •15. Технология нестандартных деталей
- •15.1. Шаровидные линзы
- •15.1.1. Характеристики деталей
- •15.1.2 Технология изготовления
- •15.2. Цилиндрические и торические поверхности
- •15.3. Оптические детали лазеров
- •15.4. Основы технологии изготовления волоконно–оптических элементов (воэ)
- •15.4.1. Основные технические характеристики воэ
- •15.4.2. Основные требования к стеклам для воэ
- •15.4.3. Изготовление волоконно-оптических пластин (вол)
- •15.4.4 Изготовление микроканальных пластин (мкп)
- •15.5. Методы изготовления деталей с асферическими поверхностями
- •1 5.5.1. Методы нанесения слоя
- •15.5.2 Методы механической обработки
- •15.6. Изготовление крупногабаритных деталей
- •Окончание табл. 15.4
- •15.7. Изготовление шкал и сеток
- •15.7.1 Виды шкал и сеток, требования к ним
- •15.7.2 Основные технологические процессы и оборудование
- •1 5.8. Оптические детали из полимеров
- •15.9. Стеклометаллические зеркала
- •16. Соединение оптических деталей
- •16.1. Способы соединения
- •16.2. Материалы, применяемые для соединения
- •16.3. Технология соединения оптических деталей
- •17. Основы сборки и юстировки оптических приборов
- •17.1. Сборочные элементы приборов
- •17.2 Структура технологического процесса сборки
- •17.3. Общие принципы построения технологического процесса сборки
- •18. Фокусировка изображения в оптическом приборе
- •18.1. Параллакс в оптическом приборе
- •18.2. Способы фокусировки
- •18.2.1 Фокусировка при помощи астрономической зрительной трубы
- •18.2.2 Фокусировка при помощи плоскопараллельной пластинки
- •18.3. Контроль параллакса по бесконечно удаленному предмету
- •18.3.1 Проверка параллакса при помощи коллиматора
- •19. Сборка и юстировка типовых узлов оптических приборов
- •19.1. Сборка и юстировка объективов
- •19.1.1. Типы конструкций объективов оптических приборов. Общие требования к сборке объективов
- •19.1.2. Сборка объективов насыпной конструкции
- •19.1.3. Методы контроля и юстировки объективов. Контрольноюстировочные приборы
- •19.1.4. Сборка и юстировка узлов с призмами и зеркалами, работающими в параллельных и сходящихся пучках
- •20. Сборка и юстировка типовых оптических приборов
- •20.1. Сборка и юстировка спектральных приборов
- •20.2. Сборка и юстировка угломерных приборов
- •20.2.1. Общие требования к сборке и юстировке оптических угломерных приборов
- •20.2.2 Сборка и юстировка угломерных приборов с поворотными визирами
- •Библиографический список
2. Контроль параметров оптических деталей
2.1. Контролируемые параметры
К параметрам, которые обычно контролируются в процессе изготовления деталей, а также проверяются в лабораториях и ОТК, относятся
габаритные размеры (толщина, диаметр, длина, ширина и т. п.),
радиусы кривизны, фокусные расстояния и фокусные отрезки,
углы призм, клиньев и фасок,
форма и чистота поверхностей,
децентрирование, непараллельность образующих цилиндрических линз.
Для измерения габаритных и некоторых других размеров обычно используют приборы и устройства общепромышленного назначения. К ним, в частности, относятся микрометры, штангенциркули, индикаторы и т. д. Типы и параметры таких приборов и устройств, как правило, определены соответствующими стандартами. В связи с этим в справочнике принцип действия их не описывается. Для них приводятся только такие сведения, как пределы и точность измерения, измерительное усилие и т. п. Эти сведения облегчат читателю работу по выбору необходимого типа измерительного инструмента.
Кроме приборов стандартного типа предприятия оптической промышленности применяют специальные измерительные устройства, которые в силу специфики производства изготовляют небольшими партиями, а иногда в единичных экземплярах. Примером могут служить пробные стекла или компенсаторы. Их, как правило, используют для контроля качества поверхностей только одного и того же размера.
2.2. Методы и средства контроля формы шлифованных поверхностей
Контроль радиусов кривизны. Для проверки радиусов кривизны сферических поверхностей оптических деталей имеются различные способы и устройства. Большинство из них является контактными.
На стадии шлифования в качестве контрольных инструментов используют радиусные шаблоны, контрольные грибы и чашки, пробные стекла, сферометры. В оптическом производстве радиусные шаблоны изготовляют парами – шаблон и контршаблон (обычно из стали или латуни). Параметр шероховатости измерительных поверхностей не должен превышать Rа = 0,5: твердость должна лежать в пределах 37 – 52 HRCэ. Радиусы кривизны – по 8-му квалитету точности (h8 для выпуклых и Н8 для вогнутых). При совмещении шаблона и контршаблона их измерительные поверхности должны совпадать без заметного глазом просвета. На рис. 2.1. изображены шаблоны и контршаблоны для контроля радиусов (штриховой линией обозначено место маркировки).
Рис. 2.1. Шаблоны и контршаблоны для радиусов; а – от 0,5 до 5,0 мм; б – от 5 до 20 мм; в – свыше 20 мм
Рекомендуемые размеры даны в табл. 2.1. На нерабочие поверхности наносят защитные покрытия.
Таблица 2.1
Размеры шаблонов и контршаблонов, мм
R |
L |
H |
h |
l |
K |
t |
a |
Св. 15 до 30 |
70 |
45 |
R |
2R |
R |
2,0 |
10 |
Св. 30 до 45 |
100 |
55 |
R |
2R |
R |
2,0 |
10 |
Св. 45 до 60 |
130 |
70 |
R |
2R |
Я |
2,5 |
15 |
Св. 60 до 90 |
160 |
70 |
50 |
|
50 |
2,5 |
20 |
Окончание табл. 2.1
Св. 90 до 120 |
180 |
50 |
35 |
|
50 |
2,5 |
20 |
Св. 30 до 250 |
200 |
50 |
35 |
|
45 |
3,0 |
20 |
Св. 250 до 500 |
300 |
45 |
|
300 |
45 |
3,0 |
20 |
Св. 500 до 1000 |
300 |
40 |
|
300 |
40 |
3,0 |
25 |
Если при наложении шаблона на проверяемую поверхность наблюдается просвет А, то отступление ΔR радиуса кривизны проверяемой поверхности от радиуса кривизны шаблона определяется по формуле
(2.1)
где ℓ — длина хорды, на которой наблюдается просвет (опытный наблюдатель может заметить наличие просвета А = 2 + 3 мкм), отсюда ΔR = 8(2 + 3)(R/ℓ)2 мкм.
Проверка радиусов кривизны с помощью наложения (притирки) контрольных грибов и чашек, а также пробного стекла является качественной. Перед проверкой пробное стекло или проверяемая поверхность слегка увлажняется с помощью губки или выдыхаемого контролером воздуха. Затем проверяемая деталь слегка притирается к грибу, чашке или пробному стеклу. О наличии разности радиусов судят по размеру темного следа контакта (притертости).
Ш
Рис. 2.2. Кольцевой контактный сферометр
ирокое применение в оптическом производстве получили кольцевые контактные сферометры. Принцип их действия состоит в следующем (рис. 2.2). На проверяемую деталь 1 накладывают кольцо 2, диаметр рабочей кромки которого 2r известен с высокой точностью. Во втулке кольца помещен стержень измерительного прибора 3. С его помощью определяется высота h шарового сегмента, основанием которого служит плоскость рабочей кромки кольца. Радиус R проверяемой поверхности определяют по формуле. (2.2)
Имеется два типа сферометров. Один из них позволяет получать непосредственные значения h, с помощью другого определяется разность Δh между высотой h1 сегмента, принятого за образец, и высотой h2 проверяемого сегмента. Промышленностью освоено производство двух видов сферометров: настольные (ИЗС-7 и ИЗС-11) и накладные (ИЗС-8 и ИЗС-9).
Настольные сферометры обычно используют в лабораториях и ОТК. С их помощью измеряют радиусы кривизны уже изготовленных пар пробных стекол и одиночных линз. Проверяемую деталь накладывают на прибор, который измеряет значение h. Накладные сферометры используют для измерения на рабочем месте. Их накладывают непосредственно на измеряемую деталь. Чтобы не повредить поверхность, операция измерения обычно выполняется на стадии шлифования. Технические характеристики сферометров приведены в таблице 2.2.
Таблица 2.2
Технические характеристики сферометров
Параметр |
Сферометр |
|||
Настольный |
Накладной |
|||
ИЭС-7 |
ИЗС-П |
ИЗС-8 |
ИЗС-9 |
|
Диапазон измерения радиусов кривизны сферических поверхностей, ми |
10-1000 |
10-500 |
80-40000 |
80-40000 |
Предел измерения стрелки шарового сегмента, мм |
±16 |
±15 |
±16 |
±1,0 |
Цена наименьшего деления шкалы, мм: |
|
|||
сферометра |
1, |
- |
1 |
- |
отсчетного устройства |
0,001 |
0,0005 |
0,001 |
0,001 |
Измерительное усилие, Н |
0,5±0,15 |
0,5±0,04 |
1,8±0.5 |
1,8±0,5 |
На практике используют сферометры с различными конструкциями калиброванных колец: со сплошной ленточной ножевидной кромкой, с фаской, с шариковыми опорами. Измеряемый радиус R при использовании колец с шариковыми опорами вычисляют по формуле
, (2.3)
где р — радиус кривизны шаровой опоры; знаки «+», «-» используются при вычислении радиусов кривизны соответственно вогнутой и выпуклой поверхностей.
Измерения на ИЗС-11 проводят в полуавтоматическом режиме. Обработка измерительной информации и вычисление радиусов кривизны по измеренным стрелкам осуществляется в программе устройства управления и обработки информации.