Лекция 4. Пассивные интегральные элементы кмоп технологии для рч кмоп ис
Основными элементами, которые используются при построении радиочастотных блоков в КМОП базисе являются n- и p- МОП транзисторы, резисторы, конденсаторы и катушки индуктивности.
Радиочастотные КМОП схемы изготавливаются, как правило, по технологическим процессам предназначенным для построения смешанных цифро-аналоговых схем. Такие процессы отличаются от стандартных наличием высокоомных поликремневых резисторов и емкостей между двумя поликремневыми или металлическими обкладками. Как правило, современные КМОП процессы содержат пять и более металлических слоев, что важно при построении интегральных индуктивностей. В последнее время, фабрики -изготовители интегральных ИС начали предлагать специализированные РЧ КМОП процессы, которые в дополнение к элементам смешанного процесса предлагают дополнительные опции, позволяющие строить интегральные индуктивности повышенной добротности (последний толстый металлический слой на толстом диэлектрике).
Свойства КМОП транзисторов субмикронных размеров подробно рассматривались в предшествующих курсах, а шумовые свойства транзисторов будут кратко рассмотрены в лекции посвященной построению малошумящих усилителей. Сейчас рассмотрим особенности построения и применения пассивных элементов.
Интегральные резисторы
Резисторы в интегральном КМОП процессе могут выполняться на основе слоев кармана, диффузии, затворного поликремния, высокоомного поликремния и металла. В отличие от дискретных элементов, интегральные резисторы имеют значительную распределенную емкость на подложку, которая существенно влияет на частотные свойства резисторов. Наилучшим отношением удельное сопротивление/удельная паразитная емкость на подложку обладают резисторы из высокоомного поликремния, которые и рекомендуются к использованию при построении РЧ КМОП блоков. Эквивалентая схема замещения интегрального резистора, которая имитирует наличие распределенной емкости на подложку показана на рис.4.1.
Рис. 4.1 Эквивалентная схема интегрального резистора с номиналом R и с общей паразитной емкостью на подложку Cпар.
Наличие распределенной емкости резистора на подложку особенно необходимо учитывать при проектировании РЧ блоков с обратной связью выполняемой на основе резистивных делителей. На высоких частотах заданное отношение может не выполнятся, а дополнительный фазовый сдвиг может привести к паразитной генерации системы. Приведем для справки типовые значения параметров высокоомного поликремния в современном технологическом процессе: s=500 Ом/, Cудпар=0.07 фФ/мкм2, минимальный квадрат со стороной 0.5 мкм. Следует отметить, что там где не требуется более высокая точность воспроизведения номинала резистора уменьшение стороны квадрата резистора ведет к резкому (квадратичному) улучшению его частотных свойств. Таблица 4.1 позволяет оценить импульсные свойства интегральных резисторов, выполненных в различных слоях.
Т а б л и ц а 4.1. Высокочастотные параметры резисторов
Сопротив-ление Rэкв, кОм |
Тип резистора |
Удельное сопротивление ρ, Ом/ |
Ширина резистора W, мкм |
Время нарастания 1 tнар, c |
Граничная частота2 ωГ, Гц |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
10 |
p+, n+ – диффузионная область |
50 |
2,8 |
2,45 н |
133 M |
Карман |
1,8 K |
5,7 |
270 п |
1,16 Г |
|
Si* – затвор |
20 |
3,2 |
3,2 н |
105,9 M |
|
Si* – резистор |
2,6 K |
3,2 |
25 п |
13,8 Г |
|
30 |
p+, n+ – диффузионная область |
50 |
2,8 |
22 н |
14,8 M |
Карман |
1,8 K |
5,7 |
2,44 н |
129 M |
|
Si* – затвор |
20 |
3,2 |
29,5 н |
11,8 M |
|
Si* – резистор |
2,6 K |
3,2 |
226 п |
1,53 Г |
|
100 |
p+, n+ – диффузионная область |
50 |
2,8 |
234 н |
1,3 M |
Карман |
1,8 K |
5,7 |
27 н |
11,6 M |
|
Si* – затвор |
20 |
3,2 |
327 н |
1 M |
|
Si* – резистор |
2,6 K |
3,2 |
2,6 н |
138 M |
|
300 |
p+, n+ – диффузионная область |
50 |
2,8 |
2,14 мк |
149 К |
Карман |
1,8 K |
5,7 |
244 н |
1,3 M |
|
Si* – затвор |
20 |
3,2 |
2,94 мк |
118 К |
|
Si* – резистор |
2,6 K |
3,2 |
25,4 н |
15,3 M |
|
1000 |
p+, n+ – диффузионная область |
50 |
2,8 |
23,8 мк |
13,4 К |
Карман |
1,8 K |
5,7 |
2,72 мк |
116 К |
|
Si* – затвор |
20 |
3,2 |
32,8 мк |
10,5 К |
|
Si* – резистор |
2,6 K |
3,2 |
250 н |
1,3 M |
|
3000 |
p+, n+ – диффузионная область |
50 |
2,8 |
211,7 мк |
1,48 К |
Карман |
1,8 K |
5,7 |
24,6 мк |
12 К |
|
Si* – затвор |
20 |
3,2 |
294 мк |
1,18 К |
|
Si* – резистор |
2,6 K |
3,2 |
2,3 мк |
153 К |
1 По уровню 0,1 – 0,9 при перепаде входного сигнала 1 В.
2 По уровню – 3 дБ в малосигнальном расчете.