Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Скачиваний:
107
Добавлен:
05.06.2015
Размер:
801.79 Кб
Скачать

Лекция 4. Пассивные интегральные элементы кмоп технологии для рч кмоп ис

Основными элементами, которые используются при построении радиочастотных блоков в КМОП базисе являются n- и p- МОП транзисторы, резисторы, конденсаторы и катушки индуктивности.

Радиочастотные КМОП схемы изготавливаются, как правило, по технологическим процессам предназначенным для построения смешанных цифро-аналоговых схем. Такие процессы отличаются от стандартных наличием высокоомных поликремневых резисторов и емкостей между двумя поликремневыми или металлическими обкладками. Как правило, современные КМОП процессы содержат пять и более металлических слоев, что важно при построении интегральных индуктивностей. В последнее время, фабрики -изготовители интегральных ИС начали предлагать специализированные РЧ КМОП процессы, которые в дополнение к элементам смешанного процесса предлагают дополнительные опции, позволяющие строить интегральные индуктивности повышенной добротности (последний толстый металлический слой на толстом диэлектрике).

Свойства КМОП транзисторов субмикронных размеров подробно рассматривались в предшествующих курсах, а шумовые свойства транзисторов будут кратко рассмотрены в лекции посвященной построению малошумящих усилителей. Сейчас рассмотрим особенности построения и применения пассивных элементов.

Интегральные резисторы

Резисторы в интегральном КМОП процессе могут выполняться на основе слоев кармана, диффузии, затворного поликремния, высокоомного поликремния и металла. В отличие от дискретных элементов, интегральные резисторы имеют значительную распределенную емкость на подложку, которая существенно влияет на частотные свойства резисторов. Наилучшим отношением удельное сопротивление/удельная паразитная емкость на подложку обладают резисторы из высокоомного поликремния, которые и рекомендуются к использованию при построении РЧ КМОП блоков. Эквивалентая схема замещения интегрального резистора, которая имитирует наличие распределенной емкости на подложку показана на рис.4.1.

Рис. 4.1 Эквивалентная схема интегрального резистора с номиналом R и с общей паразитной емкостью на подложку Cпар.

Наличие распределенной емкости резистора на подложку особенно необходимо учитывать при проектировании РЧ блоков с обратной связью выполняемой на основе резистивных делителей. На высоких частотах заданное отношение может не выполнятся, а дополнительный фазовый сдвиг может привести к паразитной генерации системы. Приведем для справки типовые значения параметров высокоомного поликремния в современном технологическом процессе: s=500 Ом/, Cудпар=0.07 фФ/мкм2, минимальный квадрат со стороной 0.5 мкм. Следует отметить, что там где не требуется более высокая точность воспроизведения номинала резистора уменьшение стороны квадрата резистора ведет к резкому (квадратичному) улучшению его частотных свойств. Таблица 4.1 позволяет оценить импульсные свойства интегральных резисторов, выполненных в различных слоях.

Т а б л и ц а 4.1. Высокочастотные параметры резисторов

Сопротив-ление Rэкв, кОм

Тип резистора

Удельное сопротивление

ρ, Ом/

Ширина резистора

W, мкм

Время нарастания 1

tнар, c

Граничная частота2

ωГ, Гц

1

2

3

4

5

6

10

p+, n+ – диффузионная область

50

2,8

2,45 н

133 M

Карман

1,8 K

5,7

270 п

1,16 Г

Si* – затвор

20

3,2

3,2 н

105,9 M

Si* – резистор

2,6 K

3,2

25 п

13,8 Г

30

p+, n+ – диффузионная область

50

2,8

22 н

14,8 M

Карман

1,8 K

5,7

2,44 н

129 M

Si* – затвор

20

3,2

29,5 н

11,8 M

Si* – резистор

2,6 K

3,2

226 п

1,53 Г

100

p+, n+ – диффузионная область

50

2,8

234 н

1,3 M

Карман

1,8 K

5,7

27 н

11,6 M

Si* – затвор

20

3,2

327 н

1 M

Si* – резистор

2,6 K

3,2

2,6 н

138 M

300

p+, n+ – диффузионная область

50

2,8

2,14 мк

149 К

Карман

1,8 K

5,7

244 н

1,3 M

Si* – затвор

20

3,2

2,94 мк

118 К

Si* – резистор

2,6 K

3,2

25,4 н

15,3 M

1000

p+, n+ – диффузионная область

50

2,8

23,8 мк

13,4 К

Карман

1,8 K

5,7

2,72 мк

116 К

Si* – затвор

20

3,2

32,8 мк

10,5 К

Si* – резистор

2,6 K

3,2

250 н

1,3 M

3000

p+, n+ – диффузионная область

50

2,8

211,7 мк

1,48 К

Карман

1,8 K

5,7

24,6 мк

12 К

Si* – затвор

20

3,2

294 мк

1,18 К

Si* – резистор

2,6 K

3,2

2,3 мк

153 К

1 По уровню 0,1 – 0,9 при перепаде входного сигнала 1 В.

2 По уровню – 3 дБ в малосигнальном расчете.

Соседние файлы в папке old