Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Лаб2_диод_Маткад.doc
Скачиваний:
5
Добавлен:
20.11.2018
Размер:
323.07 Кб
Скачать

17

Лабораторная работа №3

Определение параметров математической модели pn- перехода по его вольамперной характеристике

Цель работы–измерение вольтамперной характеристики pn – перехода; определение основных параметров математической модели pn – перехода.

Основы теории электронно-дырочного перехода

Обычно электронно-дырочный переход создают внутри полупроводника путем введения в оду его часть акцепторной примеси, а в другую–донорной (рис.1). Тогда одна область имеет дырочную проводимость, а другая–электронную. Переход между двумя областями полупроводника, одна из которых имеет электропроводность n–типа, а другая p–типа, называется электронно–дырочным переходом (p–n или n–p). Переход называется несимметричным, если концентрация доноров Nд в электронной области (n) не равна концентрации акцепторов Na в дырочной области (p).

По методу изготовления могут быть следующие p–n-переходы:

  • диффузионный, образованный в результате диффузии примеси в полупроводник;

  • поверхностно–барьерный, образованный инверсным слоем при электролитическом осаждении или другим методе нанесения металла на поверхность полупроводника;

  • сплавной, образованный в результате вплавления в полупроводник металла или сплава, содержащего донорные и акцепторные примеси;

  • выращенный, образованный в полупроводнике при его выращивании из расплава.

Рассмотрим резкий p–n-переход, в котором концентрации донорной и акцепторной примесей изменяются скачком на границе раздела. Кроме того, будем считать, что концентрации легирующих примесей различны, например Nд>Na (рис.1,б).

В p–области концентрации дырок–основных носителей pp значительно больше, чем в n–области. Поэтому они диффундируют в n–область, где они будут неосновными носителями pn (рис.1, г). Благодаря этому в слое p–области, примыкающей к границе раздела, появится отрицательный объемный заряд  , обусловленный отрицательными ионами акцепторной примеси. Аналогично диффузия электронов будет сопровождаться образованием в n–области положительного объемного заряда ионами донорной примеси (рис.1, д). Наличие объемного заряда в приконтактной области вызывает появление электрического поля (рис.1, е). Следовательно, на границе раздела между p– и n–областями имеется разность потенциалов, которую называют контактной к (рис.1, ж).

Плотности токов диффузии неосновных носителей заряда в n– и p– областях определяются

Электрическое поле, созданное в приконтактной области ионами легирующей примеси, препятствует переходу через нее основных носителей заряда. Однако это поле вызывает дрейфовый ток неосновных носителей, который противоположно направлен диффузионному току. Плотности дрейфовых токов равны

Здесь Dp–коэффициент диффузии дырок; Dn–коэффициент диффузии электронов; E–напряженность поля в p–n-переходе; p, n–подвижности дырок и электронов.

При равновесном состоянии, в отсутствие внешнего напряжения, уровни Ферми в p– и n– областях совпадают и результирующий ток через переход равен нулю

Это означает, что силы электрического поля и силы, определяющие диффузию носителей заряда, уравновешивают друг друга в любом сечении кристалла. Приконтактную область, где имеется электрическое поле, называют p–n-переходом или запорным слоем. Энергетическая диаграмма p–n-перехода для равновесного состояния, при котором положение уровня Ферми постоянно, приведена на рис.1, ж. Здесь Ec–энергия дна зоны проводимости, Ev–энергия середины запрещенной зоны.

Величина потенциального барьера p–n-перехода определяется соотношением концентраций однотипных носителей на границах перехода

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]