30) Требования, предъявляемые к полигонометрии сгущения 4 класса, 1 и 2 разрядов.
Для составления генеральных планов и рабочих чертежей инженерных сооружений и промышленных площадок и др. требуются топографические планы масштабов1:50000,1:2000,1:1000,1:500.Для производства топогр. съемок в указанных масштабах плотность пунктов должна быть до 4 на 1 км2на застроенной территории и 1 пункт на 1км2 на незастроенной. Получение такого количества пунктов осуществляется развитием сетей сгущения методом микротриангуляции и полигонометрии 1 и 2 разрядов. Полигонометрия прокладывается в виде отдельных ходов или сетей. Ходы должны иметь по возможности вытянутую форму и опираться на два пункта и два дирекционных угла высших классов.
Отдельный ход полигонометрии должен опираться на два исходных пункта, на каждом из которых передают дирекционный угол, как правило, с двух сторон триангуляции или полигонометрии высшего класса или разряда. При отсутствии твердых дирекционных углов на исходных пунктах их определяют из астрономических наблюдений. Проложение замкнутых ходов, опирающихся на один исходный пункт и дирекционные углы на нем, и висячих ходов не допускается, так как измеренные углы должны иметь обязательный контроль и невязка fb должна лежать в пределах допуска. В исключительных случаях разрешается:
– проложение хода полигонометрии 1 и 2 разряда, опирающегося на два исходных пункта без угловой привязки на одном из них
– проложение замкнутого хода полигонометрии 1, 2 разряда, опирающегося на один исходный пункт, при условии передачи или измерения с точек хода двух дирекционных углов с погрешностью не более 15" на две смежные стороны по возможности в слабом месте (середине хода);
– координатная привязка к пунктам геодезической сети, при этом для контроля угловых измерений в целях обнаружения грубых погрешностей измерений должны использоваться дирекционные углы на ориентирные пункты или азимуты, полученные из астрономических или гиротеодолитных измерений.
Расхождения между значениями измеренного и исходного угла на примычном пункте не должны превышать в полигонометрии: 4 класса – 6", 1 разряда – 10", 2 разряда – 20".
Обязательно закрепляются узловые точки.
Если прокладываются хода параллельно друг другу, то расстояние между ними должно быть не менее 2,5 км в 4 классе и 1,5 км в 1 разряде. При меньших расстояниях необходимо осуществлять связь ходом той же точности, а если параллельные хода разной точности, то перемычка осуществляется ходом меньшей точности.
-
Определение средней квадратическои погрешности совмещения концов изображений штрихов горизонтального круга.
Перед каждым отсчетом по шкале оптического микрометра производится совмещение изображений штрихов шкал лимба. От точности совмещения этих штрихов зависит и точность отсчета по шкале микрометра. Ошибки совмещения штрихов будут зависеть в какой-то степени и от личных ошибок наблюдателя, так как изображения штрихов совмещаются на глаз. Средняя квадратическая ошибка одного совмещения штрихов горизонтального или вертикального круга определяется по формуле:
где d – разности отсчетов при двух совмещениях штрихов круга,
n – число установок.
Для проведения
исследования при произвольной установке
лимба (например, через
)
производят по два совмещения изображения
штрихов и при каждом берут отсчеты по
шкале микрометра. При этом рекомендуется
соблюдать
следующие условия: тщательно установить
окуляр микроскопа и по глазу наблюдателя;
хорошо отрегулировать освещение;
заканчивать
совмещение концов штрихов верхнего и
нижнего изображений вращением головки
микрометра только по ходу часовой
стрелки. По полученным отсчетам при
совмещениях находят разности ост и d=
I—II,
по которым и производят вычисление
среднеквадратической погрешности
одного совмещения концов изображений
штрихол
.горизонтального круга
У теодолитов Т2 и
2Т2 величина m
для горизонтального круга ее должна
превышать 0,5". Значения разностей d,
полученных на различных установках
лимба, не должны превышать величины
,
в прототипам случае
наблюдения следует проверить.
При наличии в разностях d систематического влияния, вычисляют среднюю» величину остаточной систематической погрешности которую вычисляют по формуле
