- •Введение
- •Лекция № 1
- •I. Физические основы микрОэлектроники
- •1.1. Общие сведения о полупроводниках
- •1.2. Структура полупроводника
- •. Носители зарядов в полупроводниковых материалах
- •1.4. Зонная теория твердого тела
- •1.5. Зонные диаграммы собственных и примесных полупроводников, характерные потенциальные уровни
- •Лекция № 2
- •1.6. Распределение носителей в зонах
- •1.7. Количественная оценка уровня Ферми в примесных и собственных полупроводниках
- •Выводы:
- •Лекция № 3
- •1.8. Дрейфовые и диффузионные токи в полупроводнике
- •1.9. Электронно-дырочный переход
- •1.9.1. Общие сведения о n-p-переходе
- •1.9.2. Физика работы n-p-перехода
1.7. Количественная оценка уровня Ферми в примесных и собственных полупроводниках
Уровень Ферми в полупроводниках может быть найден при делении величины n на р считая, что Nv = Nc, получим
, (1.4)
где φЕ = (φc + φv)/2.
Учитывая, что nр = ni2, получим . Подставим в формулу (1.4) это значение.
.
Отсюда находим
, (1.5)
где – уровень Ферми в n-полупроводнике.
Следовательно, в n-полупроводнике уровень Ферми смещается в сторону ЗП и тем сильнее, чем больше концентрация электронов в ЗП или чем выше концентрация доноров.
Определим уровень Ферми в р-полупроводнике, для этого вместо n подставим его значение из (1.3) в (1.4), тогда
.
Отсюда находим
. (1.6)
Следовательно, в р-полупроводнике уровень Ферми смещается в сторону ВЗ и тем сильнее, чем выше концентрация дырок в ВЗ. В собственном полупроводнике ni = pi. Следовательно, или . Составляющая и в уравнениях (1.5) и (1.6), характеризующая отношение концентраций одноименных носителей в собственных и примесных полупроводниках получила название химического потенциала. Поэтому у потенциала Ферми есть еще одно название – электрохимический потенциал.
Выводы:
1. В чистом полупроводнике уровень Ферми проходит по середине ЗЗ (совпадает с электростатическим потенциалом).
2. Уровень Ферми в n-полупроводниках смещается в сторону ЗП, оставаясь в ЗЗ, и только в вырожденных полупроводниках или полуметаллах он переходит в ЗП.
3. Уровень Ферми в р-полупроводниках смещается в сторону ВЗ, оставаясь в ЗЗ, и только в вырожденных полупроводниках он переходит в ВЗ.
4. Уровень Ферми величина постоянная внутри кристалла, каким бы неоднородным он не был.
Лекция № 3
1.8. Дрейфовые и диффузионные токи в полупроводнике
Как было показано в лекции № 1, проводимость полупроводника определяется двумя составляющими: электронной и дырочной проводимостями. В общем случае перемещение носителей (электронов и дырок) может происходить за счет наличия электрического поля, напряженность которого , где U – напряжение, приложенное к полупроводнику; l – длина полупроводника; а также за счет наличия градиенты концентрации носителей по длине полупроводника. В первом случае ток называется дрейфовым, а во втором – диффузионным. Тогда
,
где А/см2 – плотность тока в полупроводнике; – плотность дрейфового тока, вызванная перемещением электронов и дырок; – плотность диффузионного тока, вызванная перемещением электронов и дырок.
Величина плотности дрейфового тока зависит от скорости перемещения носителей заряда в полупроводнике и , где n – коэффициент пропорциональности, который носит название подвижности электронов , численно равен средней скорости перемещения электрона под действием электрического поля напряженностью 1 В/см; – коэффициент пропорциональности, который носит название подвижности дырок. Подвижность электронов выше, чем дырок, поэтому при одинаковой плотности электронов и дырок (например, собственный полупроводник ) электронный ток дрейфовый больше дырочного.
, (1.7)
, (1.8)
где – заряд электрона (1,610-9 Кл); n – концентрация электронов; р – концентрация дырок.
Удельная электропроводность, вызванная дрейфовой составляющей
,
где I – ток, протекающий через полупроводник; S – сечение полупроводника; – плотность тока; U – напряжение, приложенное к полупроводнику; l – длина полупроводника.
Тогда из (1.7) и (1.8) получим
, .
Полная электропроводность, вызванная дрейфовой составляющей тока
,
а для собственных полупроводников, учитывая, что
.
Для нахождения диффузионных составляющих плотности тока и , вместо градиента электрического потенциала , воспользуется градиентом химического потенциала, равного , где d – производная электрического потенциала; dx – производная химического потенциала; х – ось, совпадающая с направлением изменения концентрации.
В уравнениях (1.5) и (1.6) для п-полупроводника и для р-полупроводника. Тогда считая, что ni и pi = const,
, .
Подставив эти значения в (1.7) и (1.8), получим
, .
Знак минус учитывает то, что движение носителей как электронов, так и дырок, всегда направлено в сторону уменьшения концентрации, а знак заряда у них разный.
Произведение называется коэффициентом диффузии, тогда
, .
Сравнивая составляющие дрейфовой и диффузионной плотностей токов, можно сделать вывод, что дрейфовый ток зависит от величины концентрации, а диффузионный – только от их градиента.
Полная плотность тока в полупроводнике
. (1.9)