- •Процеси виготовлення мікросхем
- •Практичні рекомендації
- •1 Вступ
- •2 Основна частина
- •Послідовність формування та схема технологічного процесу дифузійно - планарних імс
- •2.2 Послідовність формування та схема технологічного процесу епітаксійно - планарних імс
- •2.3 Послідовність формування та схема технологічного процесу V - канальних німс
- •2.4 Послідовність формування та схема технологічного процесу виготовлення німс з діелектричною ізоляцією
- •1 Фотолітогра-фія на SiO
- •2 Фото-літографія на Si
- •Впровадження домішки у напівпровідники шляхом термічної дифузії
- •Практичні способи проведення дифузії
- •2.6 Впровадження домішки у напівпровідники шляхом іонної імплантації
- •2.7 Автоепітаксія кремнію як базовий технологічний процес виготовлення imc
- •2.7.1 Хлоридний та силановий методи
- •2.7.2 Молекулярно – променева епітаксія
- •2.8 Загальна характеристика фотолітографічного процесу
- •2.8.1 Технологічні процеси фотолітографії
- •2.8.3 Електронно-променева літографія
- •2.8.4 Іонна і голографічна літографія
- •2.9 Схема технологічного процесу виготовлення товсто- плівкових гімс. Характеристика та трафаретний друк товстоплівкових елементів
- •2.9.1 Технологічні особливості товстоплівкових мікросхем
- •2.9.2 Трафаретний друк елементів
- •2.10 Загальна характеристика методів та етапів складання імс
- •2.10.1 Операції до складання
- •2.10.2 Монтаж кристалів
- •2.10.3 Приєднання виводів
- •2.10.4 Герметизація мікросхем
- •Список рекомендованої літератури
2.2 Послідовність формування та схема технологічного процесу епітаксійно - планарних імс
Для того, щоб отримати епітаксіально - планарну структуру, в якості вихідної заготовки потрібно взяти монокристалічну пластину кремнію ( ) з провідністю p-типу ( рис.1 ).
p
Рисунок 1
Для створення прихованого шару з провідністю п спочатку у шарі відкривають вікна ( рис. 2 ), через які проводиться термічна дифузія донорної домішки великої концентрації з наступним окисленням ( рис. 3 )
Рисунок 2 Рисунок 3
Далі з поверхні пластини зтравлюється ( наприклад, іонним травленням або хімічним ). Хімічне травлення проводять з використанням плавикової кислоти ( HF ), або травників на її основі з уповільнюючими домішками, наприклад, фторидом амонію . ( рис. 4 ). Після цього на поверхню наноситься епітаксіальний шар Si з провідністю n - типу і поверхня пластини окислюється ( рис. 5 ).
Рисунок 4 Рисунок 5
Для створення колекторних областей по контуру майбутніх транзисторів травляться вікна ( при використані фотолітографії ) у вигляді вузьких замкнутих доріжок ( рис. 6 ). Після цього проводиться роздільна термічна дифузія акцепторних домішок великої концентрації ( р+ ) з наступним окисленням ( рис. 7 ).
Рисунок 6 Рисунок 7
При формуванні базових і емітерних ділянок транзистора послідовно, двічі використовують фотолітографію та термічну дифузію з окисленням ( рис.8 – 11 ).
Рисунок 8 Рисунок 9
Рисунок 10 Рисунок 11
Таким чином, формування структури транзистора закінчено. Залишається виготовити лише з'єднання між елементами. Для цього, спочатку за допомогою фотолітографії у шарі SіО2 відкривають вікна у місцях контакту зовнішньої розводки з відповідними областями транзистора ( рис. 12 ).
Рисунок 12
Далі на пластину шляхом термічного напилення у вакуумі, наноситься шар ( плівка ) алюмінію ( рис.13 ). Після цього проводять фотолітографію по Аl і травлення його ( рис. 14 ). Шаблон для останньої фотолітографії відповідає електронній схемі мікросхеми.
Рисунок 13 Рисунок 14
Схема технологічного процесу епітаксіально - планарних мікросхем із захованим n+ шаром має такий вигляд:
2.3 Послідовність формування та схема технологічного процесу V - канальних німс
При виготовленні поліпланарних мікросхем на монокристалічну пластину Si р - типу, звільнену від оксиду травленням, методом епітаксії спочатку наноситься тонкий шар з провідністю n+, а потім n - типу. Після цього його поверхня окислюється ( рис. 1 ).
Рисунок 1
Використовуючи спочатку фотолітографію по SiO , а потім іонне травлення SiO і Sі по контуру майбутніх елементів, одержуємо канавки V - подібної форми глибиною трохи більшою, ніж товщина епітаксійного шару ( рис. 2 ).
Рисунок 2
На наступних етапах пластина покривається шаром оксиду ( рис. 3 ) та полікристалічним Sі ( рис. 4 ).
Рисунок 3 Рисунок 4
Далі пластина шліфується, полірується, а потім її поверхня окислюється. В результаті отримуються ізольовані один від одного колектори окремих транзисторів ( рис.5 ).
Рисунок 5
Для отримання базових областей з провідністю р - типу використовують фотолітографію ( рис. 6 ) та термічну дифузію з окисленням ( рис. 7 ).
Рисунок 6 Рисунок 7
Далі знову проводимо фотолітографію. Наступним травленням вікон з послідуючою термічною дифузією виготовляють емітери та приконтактні ділянки у колектора, які мають провідність n+ ( + означає велику електронну провідність близьку до металу ) - рис 8,9.
Рисунок 8 Рисунок 9
Таким чином, у при поверхневому шарі пластини сформована структура транзистора. Далі необхідно виконати систему мініз’єднань. Для цього спочатку за допомогою фотолітографії у шарі SіО2 відкривають вікна у місцях контакту зовнішньої розводки з відповідними областями транзистора ( рис.10 ).
Рисунок 10
Далі на пластину шляхом термічного напилення у вакуумі наноситься шар ( плівка ) алюмінію ( рис. 11 ). Після цього проводять фотолітографію і травлення по Al ( рис. 12 ). Шаблон для останньої фотолітографії відповідає електронній схемі мікросхеми.
Рисунок 11 Рисунок 12
Схема технологічного процесу має такий вигляд: