- •Федеральное агентство по образованию
- •Пояснительная записка
- •Федеральное агентство по образованию
- •1 Литературный обзор
- •2 Разработка структурной схемы устройства функционального контроля восьмиразрядных микроконтроллеров
- •3 Разработка электрической схемы устройства функционального контроля восьмиразрядных микроконтроллеров
- •3.1 Разработка электрической схемы функционального контроля ис в сравнении с эталоном
- •3.2 Разработка электрической схемы, обеспечивающей прием данных из компьютера
- •3.2.1 Разработка электрической схемы для блока «ram 1»
- •3.2.2 Разработка электрической схемы для блока «ст 1»
- •3.2.3 Разработка электрической схемы для блока «ms 1»
- •3.2.4 Разработка электрической схемы для блоков «Буфер данных 1» и «Буфер данных 2»
- •3.2.5 Разработка электрической схемы для блока «Логика управления 1»
- •3.3 Разработка электрической схемы, обеспечивающей передачу данных в компьютер
- •3.3.1 Разработка электрических схем для блоков «ram 2», «ct 2», «ms 2», «Буфер данных 3» и «Буфер данных 4»
- •3.3.2 Разработка электрической схемы для блока «Логика управления 2»
- •4 Выбор и обоснование алгоритмов фт озу
- •4.1 Общие сведенья
- •4.1.1 Способы построения алгоритмических функциональных тестов озу
- •4.1.2 Описание неисправностей в двоичном дш адреса озу
- •4.1.3 Описание неисправностей и методы их устранения в матрице озу
- •4.2 Построение фт, проверяющего озу непосредственно после воздействия специальных факторов
- •4.3 Построение фт, проводящее полную проверку озу после всех спецвоздействий
- •5. Выбор и обоснование фт ппзу. Построение алгоритмов
- •5.1 Особенности функционального контроля зу с преимущественным считыванием информации
- •5.2 Построение фт, проверяющего ппзу непосредственно после воздействия специальных факторов
- •5.3 Построение фт, проводящее полную проверку ппзу
- •6 Выбор и обоснование фт набора команд. Построение алгоритмов
- •6.1 Общие сведенья
- •6.1.1 Общая характеристика
- •6.1.2 Типы команд
- •6.1.3 Типы операндов
- •6.1.4 Группы команд
- •6.1.5 Обозначения, используемые при описании команд.
- •6.2 Построение фт, проверяющего набор команд непосредственно после воздействия специальных факторов
- •6.3 Построение фт, проверяющего набор команд
- •7 Разработка печатной платы для схемы функционального контроля ис в сравнении с эталоном
- •7.1 Создание компонентов и ведение библиотек
- •7.2 Создание компонента кр1533тл2 с помощью программы работы с библиотеками p-cad Library Executive
- •7.3 Создание схемы электрической принципиальной с помощью программы p-cad Schematic
- •7.4 Разработка топологии печатных плат
- •7.5 Топология разработанной печатной платы
- •8 Организационно-экономическая часть
- •8.1 Предварительная оценка планируемой к выполнению проектно- конструкторской работы
- •8.2 Организация и планирование окр
- •8.2.1 Расчет трудоемкости окр
- •8.2.2 Распределение трудоемкости окр по исполнителям
- •8.2.3 Расчет договорной цены научно- технической продукции
- •8.3 Технико- экономический анализ конкурентоспособности новой конструкции рэа
- •8.3.1 Выбор и обоснование товара- конкурента
- •8.3.2 Анализ технической прогрессивности нового устройства контроля
- •8.3.3 Анализ изменений функциональных возможностей нового устройства контроля
- •8.3.4 Анализ соответствия новой конструкции рэа нормативам
- •8.3.5 Образование цен товара- конкурента и нового товара
- •8.3.6 Расчет годовых издержек потребителя в условиях эксплуатации
- •8.3.7 Расчет полезного эффекта
- •8.3.8 Расчет нижнего и верхнего пределов нового товара
- •8.3.9 Образование цены потребления и установление коммерческой конкурентоспособности
- •8.3.10 Обоснование конкурентоспособности новой конструкции рэа. Условия выхода на рынок
- •9 Безопасность жизнедеятельности и экологичность
- •9.1 Безопасность жизнедеятельности
- •9.1.1 Анализ вредных и опасных факторов труда в лаборатории нии
- •9.1.2 Обеспечение санитарно-гигиенических требований к помещениям нии и рабочим местам сотрудников
- •9.1.3 Характеристика шума и мероприятия по его снижению
- •9.1.4 Требования к освещению помещений и рабочих мест
- •9.1.5 Вредные факторы при работе с монитором
- •9.1.6 Противопожарная защита
- •9.1.7 Электробезопасность
- •9.1.8 Электормагнитные поля и их нормирование
- •9.1.9 Расчет вентиляции
- •9.2 Экологичность
- •9.3 Оценка устойчивости микроконтроллера к воздействию проникающей радиации
- •9.3.1 Влияние ионизирующего излучения на кристалл микроконтроллера
- •9.3.2 Расчет защитного экрана от нейтронного излучения
4.2 Построение фт, проверяющего озу непосредственно после воздействия специальных факторов
После воздействия специальных факторов ЭП ОЗУ могут временно потерять работоспособность. Для определения времени потери работоспособности будем последовательно опрашивать двадцать ячеек памяти. В конце программы необходимо производить сброс микроконтроллера. Это делается потому, что при воздействии специальных факторов может произойти сбой внутреннего таймера- счетчика. А если в конце программы будет стоять безусловный переход на начало, то схема сравнения будет постоянно выдавать ошибку, так как значения внутренних таймеров- счетчиков у контролируемого микроконтроллера и микроконтроллера- эталона будут различными. Блок схема программы для непосредственной проверки ОЗУ после воздействия приведена на рисунке 4.1.
Рисунок 4.1- Блок схема программы проверки ОЗУ сразу после воздействия.
Оценка ВПР будет выполняться по двадцати ЭП ОЗУ. Память считается восстановившейся, если все двадцать ячеек будут работоспособными. В ЭП будет записываться число ААh(10101010) для проверки воздействия соседних ячеек друг на друга.
По блок схеме на рисунке 4.1 разработана программа, которая приведена ниже.
Адрес |
Мнемокод |
Комментарий | |
00h 01h |
NOP NOP |
| |
02h 03h 04h |
MOV 20h, AAh |
Запись в 20hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
05h 06h |
MOV A, 20h |
Запись в аккумулятор значение по адресу 00h | |
07h |
MOV @DPTR, A |
| |
08h 09h 0Ah |
MOV 21h, AAh |
Запись в 21hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
0Bh 0Ch |
MOV A, 21h |
Запись в аккумулятор значение по адресу 01h | |
0Dh |
MOV @DPTR, A |
| |
0Eh 0Fh 10h |
MOV 22h, AAh |
Запись в 22hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
11h 12h |
MOV A, 22h |
Запись в аккумулятор значение по адресу 02h | |
13h |
MOV @DPTR, A |
| |
14h 15h 16h |
MOV 23h, AAh |
Запись в 23hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
17h 18h |
MOV A, 23h |
Запись в аккумулятор значение по адресу 00h | |
19h |
MOV @DPTR, A |
| |
1Ah 1Bh 1Ch |
MOV 24h, AAh |
Запись в 24hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
1Dh 1Eh |
MOV A, 24h |
Запись в аккумулятор значение по адресу 04h | |
1Fh |
MOV @DPTR, A |
| |
20h 21h 22h |
MOV 25h, AAh |
Запись в 25hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
23h 24h |
MOV A, 25h |
Запись в аккумулятор значение по адресу 05h | |
25h |
MOV @DPTR, A |
| |
26h 27h 28h |
MOV 26h, AAh |
Запись в 26hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
29h 2Ah |
MOV A, 26h |
Запись в аккумулятор значение по адресу 06h | |
2Bh |
MOV @DPTR, A |
| |
2Ch 2Dh 2Eh |
MOV 27h, AAh |
Запись в 27hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
2Fh 30h |
MOV A, 27h |
Запись в аккумулятор значение по адресу 07h | |
31h |
MOV @DPTR, A |
| |
32h 33h 34h |
MOV 28h, AAh |
Запись в 28hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
35h 36h |
MOV A, 28h |
Запись в аккумулятор значение по адресу 08h | |
37h |
MOV @DPTR, A |
| |
38h 39h 3Ah |
MOV 29h, AAh |
Запись в 29hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
------------------------------------------------------------------------------------------------ | |||
74h 75h 76h |
MOV 33h, Aah |
Запись в 33hячейку ОЗУ числа АА (10101010) | |
77h 78h |
MOV A, 33h |
Запись в аккумулятор значение по адресу 13h | |
79h |
MOV @DPTR, A |
|
После того как программа выполнится до конца необходимо схемотехнически организовать сброс микроконтроллеров.