- •Лабораторна робота 1 Знайомство з аналоговою комп’ютерною лабораторією схемотехніки
- •2. Порядок роботи:
- •2.1. Робота з мультиметром
- •2.2. Робота з генератором та осцилографом
- •Лабораторна робота 2 Методи та обладнання для дослідження частотних характеристик електричних кіл
- •2. Порядок роботи:
- •Лабораторна робота 3 Дослідження перехідних процесів у електричних колах постійного струму
- •2. Порядок роботи:
- •Лабораторна робота 4 Дослідження діодних випрямлячів змінного струму
- •2. Порядок роботи
- •Т аблиця 4.1
- •2. Порядок роботи
- •Т аблиця 5.1
- •Т аблиця 5.2.
- •Дослідження польового транзистора
- •Т аблиця 5.3
- •Т аблиця 5.4
- •Дослідження однокаскадних підсилювачів
- •Р ис. 5.6. Схема дослідження однокаскадного підсилювача на біполярному транзисторі т аблиця 5.5
- •Дослідження двокаскадного підсилювача
- •Лабораторна робота 6 Дослідження операційних підсилювачів і генераторів на їх основі
- •2. Порядок роботи
- •Т аблиця 6.1
- •Лабораторна робота 7 Ключовий режим роботи транзисторів. Логічні інвертори
- •Р ис. 7.1. Схема дослідження ключового режиму бінарного транзистора
- •Т аблиця 7.1 т аблиця 7.2
- •Т аблиця 7.4
- •Т аблиця 7.5
- •Т аблиця 7.6
- •Т аблиця 7.7
- •Лабораторна робота 8 Схемотехніка базових логічних елементів
- •2. Порядок роботи
- •Р ис. 8.4. Логічна схема “nand” у логіці кмоп
- •Лабораторна робота 9 Алгебра логіки та еквівалентні перетворювання логічних схем
- •2. Порядок роботи Дослідження базових логічних функцій і елементів
- •Дослідження похідних логічних функцій
- •Дослідження логічних схем
- •Лабораторна робота 10 Тригери та їх застосування у схемах бінарних лічильників
- •2. Порядок роботи: Дослідження схем тригерів
- •Дослідження бінарних лічильних схем
- •2. Порядок роботи
- •Дослідження елементів запам’ятовуючих пристроїв
- •Т аблиця 12.1
- •Дослідження дешифраторів
- •Дослідження транскодера
- •Т аблиця 12.2. Дослідження демультиплексора
- •Дослідження мультиплексора
Лабораторна робота 2 Методи та обладнання для дослідження частотних характеристик електричних кіл
1. Мета роботи: засвоєння методів отримання частотних характеристик, будь-якого електричного кола або електричного приладу; ознайомлення з аналізатором передавальних функцій лабораторії “ELECTRONICS WORKSBENCH“ і методами представлення отриманих частотних характеристик.
2. Порядок роботи:
2.1. Відкрити файл "frequen. ca3" директорії "EL_LR2". В якості об'єкта дослідження в даній схемі обраний дільник напруги R1 – R2 що шунтується "паразитною" ємністю С.
Рис. 2.1. Схема для зняття амплітудно-частотних та фазо-частотних характеристик
2.2. Встановити режим синусоїдальної напруги генератора і встановити її амплітуду U = 1V. Змінюючи частоту F вхідної напруги Uвх, змінити амплітуду вихідної напруги Uвих та її фазовий зсув φ відносно вхідної напруги. Отримані дані занести до таблиці 2.1. і розрахувати модуль коефіцієнта передачі напруги схеми к = Uвих/Uвх для ряду значень частоти.
Таблиця 2.1.
F, MHz |
0,1 |
0,25 |
0,5 |
1,0 |
2,0 |
4,0 |
8,0 |
10,0 |
20,0 |
100 |
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Uвих,V |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
φ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
k |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2.3. Побудувати графіки k = f (F) та φ = f (F). Визначити частоту генератора Fв, що відповідає k = 0,707k0 (де k0 - стале значення k при низьких частотах) та фазовий зсув φ(Fв).
2.4. Замінити значення С зі 100рF на С = 200рF і знову повторити дії згідно п. 2.2 і п. 2.3 та зробити висновки щодо впливу значень С на Fв та φ(Fв).
2.5. Знову встановити С = 100 рF та змінити значення R1 і R2 (R1 =10 kΩ; R2 = 10 kΩ) Повторити п. 2.2 і п. 2.3 зробити висновки щодо впливу значень еквівалентного опору RЕ = R1|| R2 на значення Fв та φ(Fв).
2.6. Замість осцилографа встановити аналізатор передавальних функцій "ELECTRONICS WORKSBENCH". Його вхідні клеми ідентичні осцилографу, проте замість "Gr"(«Земля») осцилографа використати праві клеми входів А і В, з'єднавши їх між собою (рис. 2.2).
2.7. Відкрити лицеву панель аналізатора, встановити режим заміру "Amplitude", шкалу "LIN"(«Лінійна») розміром "0÷1" для вертикальної вісі, шкалу "LOG"(«Логаріфмічна») розміром "2÷10 MHz" для горизонтальної вісі.
2 .8. Натиснути "Пуск", отримати залежність k =f(U) для нашої схеми (С=100рF; R1=R2=1 kΩ). Для отримання окремих значень kі F необхідно застосувати хрестик(«Маркер»), який знаходиться у центрі координат.
Рис. 2.2. Застосування аналізатора частотних характеристик
при дослідженні електричних кіл
2.9. Змінити "Amplitude"(«Амплитуда») на "Phase"(«Фаза») з відповідним розміром "0÷90°". Отримати графік U = f(F). Заповнити таблицю аналогічну таблиці 2.1, порівняти їх значення. Застосовуючи хрестик(«Маркер»), визначити на графіку k = f(F) частоту Fв.
2.10. Повернутись до режиму " Amplitude " на аналізаторі передавальних функцій і вибрати режим вертикальної вісі "LOG"(«Логаріфмічна») з розміром "-20 db ÷ 0 db". Повторити п. 2.8 та побудувати графік k(db)= f(F). При застосуванні цього графіка запам'ятати, що 0,707k0 (що відповідає Fв), дорівнюватиме k(db)= -3(db)
3. Зміст звіту:
Зміст має містити: -
Мету роботи;
Схему експерименту з застосуванням осцилографа;
Осцилограми з визначенням графічного методу отримання значень k та φ;
Експериментальні таблиці та графіки k = f(F) і φ = f(F) з зазначенням Fв (при різних С і окремо при різних R1та R2);
Схему експерименту з застосуванням аналізатора передаточних функцій;
Залежність k(db)= f(F) і φ = f(F) на єдиному графіку при С = 100 рF та при С = 200 рF, коли R1= R2=1 kΩ).
Висновки по кожному експерименту;
Загальні висновки по роботі.