- •1.Анизотропия и симметрия внешней формы, физических свойств и структуры кристаллов
- •2. Пространственная Решетка кристаллов.
- •3: Метод кристаллографического индицирования. Закон целых чисел.
- •4. Решетки Браве.
- •5. Операции симметрии. Элементы симметрии кристаллов
- •1. Элементы симметрии 1 рода
- •2. Элементы симметрии II рода
- •6. Координатные системы. Категории. Сингонии
- •2. Кристаллографические категории
- •3. Сингонии
- •9.Эксперементальное определение структуры кристаллов.
- •10. Основные понятия кристаллохимии: Координационное число и координационный многогранник. Пределы устойчивости структур.
- •12. Политипия
- •13. Изоморфизм.
- •14. Полиморфизм
- •15.Типы связей
- •16. Дефекты в твердых телах
- •3.1. Классификация дефектов
- •17. Дислокация(линейная)
- •19 Предельные группы симметрии (группы Кюри).
- •20 Скалярные физические свойства кристаллов
- •21.Векторные свойства кристаллов. Пироэлектрический эффект. Электрокалорический эффект
- •24. Напряженное и деформированное состояние твердых тел.
- •25. Закон Гука для анизотропных твердых тел.
- •26. Пластические свойства кристаллических веществ.
- •27.Тепловые свойства твёрдых тел: теплоёмкость твёрдых тел. Закон Дюлонга - Пти.
- •28.Теория теплоёмкости Эйнштейна.
- •29. Теория теплоемкости дебая
- •30. Основы зонной теории твердых тел: электропроводность металлов.
- •31.Уравнение шредингера для твердых тел.
- •32. Электрические свойства твердых тел: электропроводность металлов.
- •3 3. Собственная проводимость полупроводников. Проводимость примесных полупроводников.
- •35. Магнитные свойства твердых тел: классификация магнетиков, диамагнетизм и парамагнетизм твердых тел, ферромагнетизм.
12. Политипия
Политипия (или политипизм) — явление, характерное для некоторых плотно упакованных и слоистых структур. Политипы — это структуры, построенные из одних и тех же слоев с разной последовательностью их чередования. Параметры решетки у политипов в плоскости слоя неизменны, а в направлении, перпендикулярном слоям, различны, но всегда кратны расстоянию между ближайшими слоями. Различие политипов проявляется и в некоторых их свойствах, особенно в оптических.
Наибольшее богатство политипов обнаружено у карбида кремния SiC, т. е. химического соединения кремния и углерода (А4В4) с высокой температурой плавления (более 2000° С). Эти кристаллы обладают ценными полупроводниковыми свойствами. Кроме того, карбид кремния вследствие своей исключительно высокой твердости получил широкое распространение в абразивной промышленности. Карбид кремния встречается в кубической модификации типа сфалерита – так называемый β-SiC и в гексагональной модификации α-SiC, структуру которой мы рассмотрим.
Элементарная ячейка гексагонального карбида кремния представлена на рис. 171,а. Это вытянутая продолговатая призма с сечением в виде ромба: вершины заняты атомами 1, 2, 3, 4, 25, 26, 27 и 28. Тупой угол ромба – 120°, так что ромбическую призму можно считать составленной из двух тригональных призм с основаниями в виде равносторонних треугольников.
Для большей наглядности расположение ионов углерода в пределах одной элементарной ячейки показано на рис. 171,б, причем указана высота расположения z каждого слоя в долях параметра но оси с. Атомы кремния как бы повторяют закон расположения атомов угле рода: над каждым атомом углерода на одинаковых расстояниях помещается атом кремния. Структура состоит из параллельных равноотстоящих слоев атомов, перпендикулярных оси 63.
Пространственная группа Р63/тс. Вертикальная ось 63 проходит по линии центров тяжести правой тригональной призмы. Через большую диагональ элементарной ячейки проходит вертикальная плоскость т., а через малую диагональ — вертикальная плоскость скользящего отражения типа с.
Координационное число углерода по кремнию и кремния по углероду равно 4, к. м. – тетраэдр. К. ч. взятое по атомам того же самого сорта, равно 12, что соответствует плотнейшей упаковке. На одну элементарную ячейку приходится 6 атомов кремния, образующих плотнейшую упаковку, 6 октаэдричесних и 12 тетраэдрических пустот. Атомы углерода занимают 6 тетраэдрических пустот. Все октаэдрические пустоты свободны (рис. 172). Заполненные тетраэдры расположены шестью ярусами, причем среди них нет совпадающих. Упаковка шестислойная с чередованием слоев:
...В АВСАСВ ABC АСЕ АВСАСВ А....
Параметры ячейки: a = b = 3,078 А, с = 2,518 А.
Шестислойная упаковка у карбида кремния наиболее распространена. Кроме нее у этого вещества встречаются политипные модификация, которые представляют собой укладки из таких же слоев, но с другим порядком их чередования, так что параметры ячейки a и b остаются теми же, а параметр с принимает значение пс, где п – период идентичности чередования слоев в структуре. Известны политипы, у которых п = 4, 6, 15, 21, 33, 51 и далее до п = 192, 270, 400, 594 и даже 1200 , т. е. с самыми разнообразными чередованиями слоев и с гигантскими элементарными ячейками вплоть до с = 1500 А. У политипа 594R.
Политипы характеризуются цифрой, указывающей число слоев в элементарной ячейке, и буквой, указывающей тип ячейки: пН означает структуру с n-слоеный периодом повторяемости вдоль оси с и примитивной гексагональной ячейкой, a nR – структуру с n-слойным периодом повторяемости вдоль оси с и решеткой, у которой примитивная ячейка ромбоэдрическая (так называемые обозначения Рамсдела).
Шестислойная модификация с чередованием... В АВСАСВ АВСАСВ А ... записывается в этих обозначениях как 6Н, а в обозначениях Полинга (см. § 27) как (гкк)2. Часто встречающаяся четырехслойная модификация с чередованием слоев
... В АВСВ АВСВ...
записывается как 4H или (гк)2, и так далее вплоть до 70H, 174R, 192R, 594R и даже 1200R; здесь R – ромбоэдрическая ячейка. Для карбида кремния наиболее распространены политипы 6H, 4H, а также политип 15R ≡ ... В АВСВАСАВАВАСВСАСВ АВСВА САВАСВСАСВ А ... (гкгкк)3.
У кристаллов политипных модификаций несколько различаются и физические свойства, в основном те, которые зависят от параметра решетки по оси с. Так, величина двупреломления света прямо пропорциональна степени усложнения политипа, т. е. параметру пс. Карбид кремния – самый представительный пример полигинии. Для него найдено более 50 иолитипных модификации.
Более десяти политипных модификаций обнаружено у монокристаллов ZnS. Кроме разобранных выше сфалерита (3C; здесь С – кубическая ячейка) и вюрцита (2Н) имеются политипы 4H, 6H, 8H, 10H, 9R, 12R, 15R и др. (рис. 173). Очень часто кристаллы ZnS состоят из набора политипов или сростков разных политипов, которые трудно разграничить.
Полигиния наблюдается в графите, молибдените MoS2, в кристаллах GdI2, CdBr2, РbI2, в дииодидах переходных элементов титана, ванадия, марганца, железа, цинка, кобальта и др., в дибромидах магния, марганца, железа, кобальта, в соединениях TiS2, TiSe2, ZrS2, SnS2, PtS2 и многих других веществах со слоистой структурой.