- •Глава 11 Специальные методы анализа состава и структуры веществ
- •11.1 Методы рентгеновского анализа
- •11.1.1 Рентгенофазовый анализ (метод рфа)
- •11.1.2 Условия возникновения дифракции на кристаллах
- •11.1.3 Дифракция на кристаллах. Понятие элементарной ячейки.
- •11.1.4 Рентгеноспектральный анализ (рса)
- •11.2 Масс-спектрометрия и ее применение в анализе
- •11.2.2 Техника проведения масс-спектрометрии.
- •11.2.2 Понятие массы в масс-спектрометрии
- •11.2.3 Типы дефрагментации молекул при воздействии эу
- •11.2.4 Примеры идентификации масс-спектров
- •11.3 Ядерный магнитный резонанс (метод ямр).
- •11.3.1 Техника получения спектров ямр
- •11.3.2 Основные характеристики спектра ямр
- •11.3.3 Основные правила анализа спектров ямр (пмр)
- •11.3.4 Химические сдвиги в отдельных классах органических соединений
- •11.3.4 Пример анализа спектра пмр
- •11.4 Гибридные методы анализа
- •11.4.1 Общее понятие «гибридных (комплексных) методов анализа»
- •11.4.2 Примеры применения гибридных установок.
11.1.3 Дифракция на кристаллах. Понятие элементарной ячейки.
Кристаллы – это твердые тела с периодически повторяющимися структурными элементами, названными элементарной ячейкой. Элементарная ячейка представляет собой параллелепипед, характеризуемый 3-мя векторами a, b и c, и 3-мя углами между ними: , и (рисунок 11.5)
Рисунок 11.5 Элементарная ячейка и ее характеристики.
Как грани кристаллической решетки, так и соответствующие им плоскости можно описать кристаллографическими индексами hkl (индексы Миллера), которые выражаются отрезками a/h, b/k и c/l, отсекаемые первой из таких плоскостей на осях координат (рисунок 11.6).
Рисунок 11.6 Схема, поясняющая суть индексов Миллера
а – растущий кристалл с выделенной гранью (210);
б – индексы Миллера (hkl) для данного кристалла.
Целочисленные значения hkl – малы и редко равняются 3 или 4, а их значения приведены в справочниках.
Восемь вершин элементарной ячейки (рисунок 11.5) называются узлами кристаллической решетки. Характеристические элементы симметрии кристаллической структуры определяют вид элементарной ячейки и позволяют отнести ее к одной из 7-ми кристаллических систем, значения параметров которых приведены в таблице 11.2.
Таблица 11.2 Кристаллические системы и их элементарные ячейки
кристаллическая система |
порядок оси (симметрия)
|
ось |
константы элементарной ячейки |
|
векторные |
угловые |
|||
Триклинная |
1 |
b |
|
|
Моноклинная |
2 |
abc |
|
|
Орторомбическая |
2 |
c |
|
|
Тригональная (ромбоэдрическая) |
3 |
c |
|
|
Тетрагональная |
4 |
|
|
|
Гексагональная |
6 |
c |
|
|
Кубическая |
3 (х4) |
диаго-наль куба |
|
|
Из таблицы 11.2 видно, что 7-ми типам кристаллических систем соответствует 6-ть основных типов элементарных ячеек, так как оси 3-го и 6-го порядка при вращении приводят к одинаковой геометрии. Кристаллические решетки их являются примитивными и содержат атомы, расположенные только в узлах (рисунок 11.7).
Рисунок 11.7 Геометрические фигуры, отвечающие 7-ми типам
кристаллических структур (элементарных ячеек):
а – кубическая; б – тетраэдрическая; в – гексагональная;
г – тригональная (ромбоэдрическая); д – орторомбическая;
е – моноклинная; ж – триклинная.
В более сложных структурах атомы дополнительно могут располагаться в центре ячейки (тип J), в центрах противостоящих граней (типы A, B, C), в центрах всех граней (тип F). С учетом этого усложнения насчитывают 14 независимых трехмерных решеток, известных как решетки Браве. Примером могут служить различные вариации кубической и гексагональной структуры, показанные на рисунке 11.8.
Рисунок 11.8 Различные виды уплотненной гексагональной и
кубической структуры, представленные как упаковки шаров.
а – гексагональная и б – кубическая гранецентрированные;
в – кубическая объемно-центрированная.