Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Скачиваний:
57
Добавлен:
26.05.2014
Размер:
3.14 Mб
Скачать

Френелевский контраст

Контраст, связанный с дефокусированным изображением, называют френелевским. Наиболее простая иллюстрация френелевского контраста приведена на рис. 11.20, где тонкая проволока (<=1мкм) введена на оптическую ось на пути пучка [45]. На проволоку подается небольшой потенциал (~10в). Электронный пучок расщепляется, как свет в оптической призме, и отклоняется в электростатическом поле. Создается два виртуальных когерентных источника, s1 и s2, и на фотопластинке появляются интерференционные линии.

Это - схема т.н. бипризмы Френеля. С помощью этой схемы можно определять степень пространственной когерентности γ:

γ = (Imax-Imin)/ (Imax+Imin)

(11.31)

 

 

Контраст

стенок

доменов.

Лоренцевская

Рис. 11.20. Схема

 

просвечивающая электронная микроскопия (ЛПЭМ).

 

бипризмы Френеля

 

В магнитных материалах на электрон пучка действует

 

 

 

 

 

 

сила Лоренца, F = (e/c)[vB].

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Изменение

направления

вектора

 

 

 

 

намагниченности

B

приводит

к

 

 

 

 

изменению

 

направления

силы

 

 

 

 

Лоренца. Как

иллюстрируется на

 

 

 

 

рис. 10.21, электроны, проходящие

 

 

 

 

через

пленку

в

соседних

 

 

 

 

магнитных

доменах,

отклоняются

 

 

 

 

в разные стороны, что приводит

 

 

 

 

либо к сгущению, либо к

 

 

 

 

ослаблению

интенсивности

на

Рис. 11.21а. Схема,

 

 

 

экране [45]. Этот простой принцип

 

 

 

лежит в основе т.н. лоренцевской

поясняющая метод

 

 

 

просвечивающей

 

электронной

ЛПЭМ, и б) изображение

 

 

 

микроскопии

 

 

(ЛПЭМ).

доменной стенки.

 

Рис. 11.21б

 

Изображение

доменной

стенки

 

 

 

имеет

 

вид

параллельных

 

 

 

 

 

чередуюшихся темных и светлых интерференционных линий (рис. 11.21б [46]). Контраст возникает в дефокусированном изображении, причем знак контраста меняется при изменении знака дефокусировки. ЛПЭМ - весьма перспективный метод исследования микромагнитной структуры, поскольку сочетается с высоким пространственным разрешением.

В качестве примера, на рис.10.22а приведено изображение микромагнитной структуры магнитной пленки FeZrN, а на рис. 10.22б приведена поясняющая схема формирования этой структуры [47].

13

Рис. 11.22. ЛПЭМ изображение а) и схема формирования б) доменной стенки типа «колючей проволоки» и линий Блоха в пленках FeZrN.

Френелевский контраст от пор, газовых пузырей

Если вокруг пор или газовых пузырей нет упругих напряжений и деформаций, то изображение их – задача не простая. Однако, это можно сделать с помощью френелевского контраста в дефокусированном изображении. Пример такого контраста приведен на рис. 11.23 [48].

Рис.11.23. Френелевский контраст от пузырей He в Au. а) перефокусированное и б) недофокусированное изображение.

14

Соседние файлы в папке Лекции МГУ