- •§ 1. Элементы электронной теории металлов
- •Дополнение 1
- •§ 2. Потенциальный барьер на границе металл-вакуум
- •Дополнение 2
- •§ 3. Коэффициент прозрачности
- •§ 4. Плотность тока термоэмиссии
- •§ 5. Энергетические распределения эмитированных электронов
- •§ 6. Плотность тока термоавтоэмиссии (продолжение)
- •§ 7. Плотность потока энергии через эмиссионную поверхность
- •§ 8. Автоэлектронная эмиссия. Эксперимент
- •8.1 Автоэмиттер
- •8.2 Автоэмиссионный метод определения работы выхода
- •8.3 Микроскопия поверхности твердого тела
- •8.3.1 Автоэлектронная (полевая электронная) микроскопия
- •8.3.2 Автоионная (полевая ионная) микроскопия
- •8.3.3 Сканирующая туннельная микроскопия
- •§ 9. Термоэлектронная эмиссия
- •9.1 Термокатоды
- •9.2 Термоэмиссионный метод определения работы выхода
- •§ 10. Другие виды электронной и ионной эмиссии
- •10.1 Общая классификация явлений эмиссии
- •10.2 Фотоэлектронная эмиссия (внешний фотоэффект)
- •10.3 Вторичная электронная эмиссия
- •10.4 Кинетическая ионно-электронная эмиссия
- •10.5 Экзоэлектронная эмиссия
- •10.7 Эмиссия горячих электронов
- •10.8 Комбинированные виды эмиссии
- •§11. Токи, ограниченные пространственным зарядом
- •11.1 Закон «трех вторых»
- •11.3 Плоскопараллельная электродная система
- •11.4 Цилиндрическая электродная система
- •11.5 Сферическая электродная система
- •§ 12. Взрывная электронная эмиссия (ВЭЭ)
- •12.1 Феноменология ВЭЭ
- •12.2 Импульсный пробой при острийном катоде
- •12.3 Импульсный пробой при плоских электродах
- •12.4 Пробой постоянным напряжением
- •12.5 Джоулев механизм вакуумного пробоя
- •12.6 Вольт-амперная характеристика искрового разряда
тронов f(εF)= 1/2 , а интенсивность туннельного эффекта больше, чем уже барьер. На энергетических уровнях, лежащих ниже уровня Ферми, много электронов, но барьер широк, а на уровнях выше вершины барьера очень мало электронов, хотя барьер не препятствует их выходу из металла. Таким образом, термоавтоэмиссия электронов из металла происходит в довольно узком диапазоне энергий. В силу этого в эмиссионной электронике вводят величину, называемую эмиссионной работой выхода или просто работой выхода
ϕ = ε0 − εF . |
(2.8) |
Ниже мы увидим, что эта величина играет определяющую роль при количественном описании явления эмиссии. Найдем положение вершины барьера. Из (2.6) и (2.7) следует
dU (x) |
|
|
|
|
= F (xm ) = |
e2 |
− eE = 0 , |
|
dx |
|
|
|
(2xm )2 |
||||
|
x =xm |
|
||||||
|
|
|||||||
откуда |
|
|
|
|
|
|
|
|
x = 1 |
|
e 1/ 2 |
|
|
||||
|
|
|
|
|
||||
m |
2 |
|
|
|
||||
|
|
E |
|
|
и
εm = U (xm ) = ε0 − (e3 E )1/ 2
Величина
∆ϕ = (e3 E )1/ 2
(2.9)
(2.10)
(2.11)
(2.12)
носит название “поправка Шоттки” к работе выхода, а само понижение барьера на величину ∆ϕ при наличии электрического поля − “эффект Шоттки”.
В заключении данного параграфа отметим, что в приведенных выше рассуждениях молчаливо предполагалось, что эмиттирующая поверхность металла чистая и граничит с хорошим вакуумом. В реальных условиях так называемого технического вакуума имеются атомы и молекулы остаточного газа, которые осаждаются, или, другими словами, адсорбируются на поверхности металла, изменяя его свойства, в частности, работу выхода.
Дополнение 2
Формула (2.7) справедлива при х≥ а, где а − постоянная решетки. Это означает, что поля ограничены сверху таким образом, чтобы левая точка поворота, соответствующая заметной эмиссии с данной энергией, х1 ≥ а. Иногда используют модифицированную формулу для потенциального барьера
U (x) = ε0 − |
e2 |
|
− eEx . |
(Д2.1) |
|
4x + |
e2 |
||||
|
|
|
|||
|
ε0 |
|
|
||
|
|
|
|
14