- •Основные сведения по физике полупроводников
- •§ 1.1. Энергетические зоны полупроводников
- •§ 1.3. Концентрация носителей заряда в полупроводнике при термодинамическом
- •§ 1.4. Собственные полупроводники
- •§ 1.5. Примесные полупроводники
- •§ 1.6. Время жизни
- •§ 1.7. Процессы переноса зарядов в полупроводниках
- •§ 1.8. Температурные зависимости концентрации носителей заряда и положения уровня ферми
- •§ 1.9. Температурные зависимости подвижности носителей заряда и удельной проводимости
- •§ 1.10. Полупроводники в сильных электрических полях
- •§ 1.13. Обедненные, инверсные и обогащенные поверхностные слои
- •Контактные явления
- •§ 2.1. Электронно-дырочный переход
- •§ 2.2. Токи через электроннодырочный переход
- •§ 2.3. Концентрация неосновных носителей заряда у границ электроннодырочного перехода
- •Зависимость граничной концентрации неосновных носителей заряда от напряжения
- •§ 2.10. Выпрямляющие и омические переходы на контакте металла с полупроводником
§ 2.2. Токи через электроннодырочный переход
При нарушении равновесия внешним электрическим полем через р-я-переход начинает проходить ток. Если внешнее напряжение приложено так, что создаваемая им напряженность электрического поля противоположна по направлению диффузионной напряженности (рис. 2.1, б), то суммарная напряженность поля в р-n-переходе падает, высота потенциального барьера уменьшается (рис. 2.1, д). Часть основных носителей, имеющих наибольшие значения энергии, может теперь преодолевать понизившийся потенциальный барьер, переходя через р-n-переход. Это приводит к появлению сравнительно большого тока через р-п-переход. Напряжение рассмотренной полярности называют прямым и считают положительным.
Преодолевшие потенциальный барьер носители заряда оказываются в соседней области неосновными. Таким образом, через р-n-переход происходит инжекция неосновных носителей заряда в область, примыкающую к р-n-переходу. Ту область, в которую происходит инжекция неосновных носителей, называют базой полупроводникового прибора.
С увеличением внешнего прямого напряжения уменьшается суммарная напряженность электрического поля в р-n-переходе. С уменьшением напряженности электрического поля уменьшается глубина проникновения этого поля в области полупроводника, прилегающие к металлургическому контакту. Поэтому уменьшается толщина р-n-перехода или толщина области объемного заряда.
Если созданное внешним источником электрическое поле в р-n-переходе совпадает по направлению с диффузионным (рис. 2.1, в), то высота потенциального барьера для основных носителей увеличивается (рис. 2.1, е). Однако для неосновных носителей, т. е. для дырок в n-области и для электронов в р-области, потенциальный барьер в р-гс-переходе вообще отсутствует. Неосновные носители заряда втягиваются электрическим полем в р-п-переход и проходят через него в соседнюю область — происходит так называемая экстракция. При этом через р-n-переход будет идти обратный ток, который относительно мал из-за малой концентрации неосновных носителей заряда в прилегающих к р-n-переходу областях.
Напряжение, имеющее рассмотренную полярность, называют обратным и считают отрицательным. Толщина р-n-перехода с увеличением обратного напряжения по абсолютному значению увеличивается, так как при этом увеличивается суммарная напряженность электрического поля в р-n-переходе и увеличивается глубина проникновения этого поля в прилегающие к переходу области.
§ 2.3. Концентрация неосновных носителей заряда у границ электроннодырочного перехода
Рассмотрим зависимость концентрации неосновных носителей заряда у границ р-га-перехода от внешнего напряжения, приложенного к электронно-дырочному переходу, для частных случаев.
Малые токи
Как известно, плотности электронного и дырочного токов определяются алгебраической суммой дрейфовых и диффузионных составляющих (см. (1.30) и (1.31)]. При движении носителей заряда только в одном направлении х, параллельном вектору электрического поля,
Учитывая малость токов и воспользовавшись соотношением Эйнштейна (1.29), можно считать, что при Jр≈0 и Jn≈0
Полученные соотношения имеют довольно простой физический смысл. В невырожденном полупроводнике носители заряда подчиняются статистике Максвелла — Больцмана, т. е. число их г энергией выше некоторого значения экспоненциально падает с увеличением этой энергии. В состоянии равновесия концентрация неосновных носителей заряда по одну сторону р-п-перехода равна концентрации основных носителей по другую сторону р-я- перехода, имеющих энергию, большую на qφкон. При изменении высоты потенциального барьера на qu количество носителей, имеющих энергию, достаточную для его преодоления, изменяется
в ехр
раз, что и характеризуется формулами (2.5).
При напряжении на р-n-переходе, равном нулю, граничная концентрация неосновных носителей заряда равна равновесной. С ростом прямого напряжения (u>0) граничная концентрация неосновных носителей заряда растет, что соответствует явлению инжекции. При обратном напряжении (u<0) граничная концентрация неосновных носителей падает, что соответствует явлению экстракции.
Большие прямые токи
падения части внешнего напряжения в объеме полупроводника), выполнялись бы условия
Соотношения (2.6) можно рассматривать как верхние пределы концентрации инжектированных через р-n-переход носителей.
Большие обратные токи
Соотношения (2.5) показывают, что концентрация неосновных носителей заряда на границе р-n-перехода, смещенного в обратном направлении, с ростом абсолютного значения обратного напряжения должна очень быстро падать. Однако такое падение концентрации ограничено тем, что скорость движения носителей заряда в электрическом поле растет до определенного предела υ max (см. § 1.10). Так как плотность тока, например дырочного, связана со скоростью движения носителей заряда соотношением
то минимальное значение концентрации неосновных носителей заряда, которое может получиться на границе р-n-перехода,
Выражения (2.8) можно рассматривать как нижние пределы концентрации неосновных носителей на границе р-n-перехода.