- •Люминесценция полупроводников
- •Оглавление
- •1. Кинетики затухания фотолюминесценции 7
- •2. Термостимулированная люминесценция 12
- •3. Излучательная рекомбинация в р-n-переходах и характеристики светодиодов 20
- •1. Кинетики затухания фотолюминесценции
- •1.1.Зонная схема кристаллофосфора и закон затухания люминесценции.
- •1.2.Методика эксперимента.
- •1.3. Порядок выполнения работы и задание.
- •Лабораторная работа № 2
- •2. Термостимулированная люминесценция
- •2.1.Схема электронно-дырочных переходов.
- •2.2. Спектр термостимулированной люминесценции.
- •2.3.Методика измерения спектров тсл.
- •2.4.Методика определения энергии активации ловушек и расчет спектров тсл.
- •2.5. Порядок выполнения работы и задание.
- •3. Излучательная рекомбинация в р-n-переходах и характеристики светодиодов
- •3.1.Основные характеристики инжекционной электролюминесценции
- •3.2.Внешний квантовый выход и коэффициент полезного действия светодиодов.
- •3.3. Методика расчета количественных характеристик.
- •3.4. Методика измерений.
- •3.5.Порядок выполнения работы и задание.
- •Литература
3.2.Внешний квантовый выход и коэффициент полезного действия светодиодов.
Внешний квантовый выход и коэффициент полезного действия являются важнейшими количественными характеристиками светодиодов - приборов, действие которых основано на явлении ЭЛ в р-n-переходах.
Внешний квантовый выход определяется как отношение интегрального по частотам числа излученных квантов (Ф), выходящих во внешнюю среду, по всем углам, к числу электронов, пересекающих р-n-переход в единицу времени:
, (3.8)
где ξ - коэффициент вывода света, определяющий уменьшение интенсивности излучения вследствие поглощения или отражения; Фо - число всех квантов, испускаемых в единицу времени в результате осуществления излучательной рекомбинации без учета потерь на поглощение и отражение.
Приближенно можно считать, что
, (3.9)
где Фm - число квантов, выходящих во внешнюю среду с энергией, соответствующей максимуму полосы ЭЛ, -полуширина полосы ЭЛ, выраженная в эВ.
Коэффициент полезного действия (p) определяется отношением полной мощности излучения к затраченной мощности электрического тока:
, (3.10)
где: U - падение напряжения на р-n-переходе, Rs - сопротивление контактов и базы диода.
Вблизи максимума полосы ЭЛ hv ≈ hvm и Фm - постоянная величина. Следовательно, .
Согласно (3.8) и (3.9),
. (3.11)
Подставив (3.11) в (3.10), получим
, (3.12)
или
, (3.13)
где: V - внешнее напряжение.
Как видно, для лучшего преобразования энергии электрического поля в световое излучение необходимо уменьшить величину Rs.
3.3. Методика расчета количественных характеристик.
Для определения абсолютных величин внешнего квантового выхода, коэффициента полезного действия и мощности излучения исследуемого светодиода используется градуированный фосфид-галлиевый фотоэлемент (ФЭ).
Если фотоэлемент, имевший дифференциальное сопротивление Rd, замкнуть на внешнее сопротивление R«Rd, то ток короткого замыкания Iк.з. в цепи определяется только внутренними свойствами элемента. Отношение числа электронов, проходящих в единицу времени в короткозамкнутой цепи, к числу падающих на элемент фотонов называется квантовым выходом фотоэлемента ( F() ).
Спектральная зависимость квантового выхода ФЭ, применяемого в данной работе, показана на рис. 6. Ток короткого замыкания фотоэлемента равен
, (3.14)
где: К -коэффициент собирания регистрирующего устройства, равный для данной установки 0.7; Ф(hv) - спектр излучения светодиода.
С ледует учесть, что спектр излучения светодиода узкий по сравнению с полосой спектральной чувствительности фотоэлемента F(). Таким образом,
(3.15)
и вместо интегрирования в (3.14) можно приближенно записать
. (3.16)
С учетом (3.16) выражение (3.8) примет вид:
. (3.17)
Для измерения тока короткого замыкания ФЭ используется микроамперметр М-95, внутреннее сопротивление которого 10(Ом)<<Rd. Коэффициент полезного действия светодиода определяется согласно (3.12), исходя из значения величины квантового выхода, рассчитанного из (3.17). Зная и , из (3.10) можно определить мощность излучения.
3.4. Методика измерений.
Для изучения характеристик светодиодов используется установка, схема которой показана на рис.7.
Рис.7. Схема экспериментальной установки для изучения инжекционной ЭЛ светодиодов.
Напряжение, прикладываемое к светодиоду, обеспечивается универсальным источником постоянного тока УИП-2 и измеряется вольтметром Ф-4202 (V), обладающим высоким входным сопротивлением. Сила тока в цепи ФЭ определяется путем измерения величины падения напряжения (mV) на эталонном сопротивлении (Rэт) величиной 0.1(Ом), включенном последовательно с исследуемым светодиодом.
Исследование спектров ЭЛ осуществляется при включенном светодиоде СД1, излучение которого фокусируется линзой (Л) на входную щель монохроматора УМ-2. За выходной щелью спектрального прибора расположен фотоумножитель ФЭУ-22 (Ф), позволяющий регистрировать световое излучение в диапазоне длин волн 400-1000нм. Электрический сигнал, пропорциональный интенсивности ЭЛ, измеряется вольтметром В7-27А/1. Питание ФЭУ осуществляется от стабилизированного источника напряжения ВС-22. Второй светодиод (СД2), идентичный первому, используется для получения зависимостей яркости ЭЛ от величины тока и напряжения, а также для определения количественных параметров прибора. В непосредственной близости к СД2 расположен фотоэлемент, ток которого измеряется гальванометром М-95 (Г). Величина тока короткого замыкания фотоэлемента пропорциональна интенсивности излучения светодиода. Таким образом, показания гальванометра при различных значениях тока в цепи светодиода СД2 позволяют судить о зависимости яркости ЭЛ от силы тока и напряжения.