- •Оглавление
- •Подготовка к работе
- •2 Работа в программной среде ewb 5.0с
- •1 Цель работы
- •2 Подготовка к работе
- •3 Литература
- •4 Задание для работы в лаборатории.
- •5 Указания к составлению отчета
- •Приложение а
- •Цель работы
- •2 Подготовка к работе
- •3 Литература
- •4 Задание для работы в лаборатории
- •Приложение а
- •Все транзисторы имеют мощность рассеивания на коллекторе 150 мВт Лабораторная работа № 3.
- •1 Цель работы
- •2 Подготовка к работе
- •3 Литература
- •4 Задание для работы в лаборатории
- •5 Указания к составлению отчета
- •Приложение а
- •1. Цель работы
- •2. Подготовка к работе
- •3 Литература
- •4 Задание к работе в лаборатории
- •Величину резистора r4 выбираем по заданному варианту из таблицы 5.
- •5 Указания к составлению отчета
- •1 Цель работы
- •2 Подготовка к работе
- •3 Литература
- •4 Задание к работе в лаборатории
- •На входы одного из логических элементов имс подать сигналы от генератора слова в соответствии с вариантом задания 1.
- •5 Указания к составлению отчета
- •1 Цель работы
- •2 Подготовка к работе
- •3 Литература
- •4 Задание к работе в лаборатории
- •На входы одного из логических элементов имс подать сигналы от генератора слова в соответствии с вариантом задания 1.
- •5 Указания к составлению отчета
- •Валерий Леонидович Савиных Александр Иосифович Брикман Эльвира Николаевна Шилай
5 Указания к составлению отчета
5.1 Указать номер варианта, для которого проводились исследования.
5.2 Привести схемы исследуемых функциональных узлов, таблицы с результатами измерений и осциллограммы напряжений, в соответствии с заданием каждого пункта работы.
5.3 Привести сравнение результатов экспериментальных исследований с расчетными.
5.4 Сделать выводы по каждому пункту работы.
Приложение А
Таблица А.1- Параметры ОУ.
Вариант |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
Тип ОУ |
К140 УД2 |
К140 УД6 |
К140 УД7 |
К140 УД8 |
К140 УД9 |
К153 УД1 |
К153 УД2 |
К153 УД3 |
КU, тыс. |
35 |
30 |
30 |
50 |
30 |
15 |
25 |
25 |
RВХ, Ом |
0,3 |
1 |
0,4 |
10 |
0,3 |
0,2 |
0,3 |
0,4 |
RВЫХ, м |
100 |
150 |
200 |
200 |
150 |
200 |
300 |
200 |
f1, МГц |
1 |
1 |
0,8 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
Вариант |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
16 |
Тип ОУ |
К153 УД4 |
К153 УД5 |
К153 УД6 |
К544 УД1 |
К551 УД2 |
К553 УД1 |
К553 УД2 |
К553 УД3 |
КU, тыс. |
5 |
125 |
50 |
20 |
5 |
15 |
20 |
30 |
RВХ, Ом |
0,2 |
1 |
0,3 |
10 |
0,5 |
0,5 |
0,3 |
0,3 |
RВЫХ, м |
1000 |
150 |
200 |
200 |
150 |
150 |
300 |
300 |
f1, МГц |
0,7 |
0,3 |
0,7 |
1 |
0,8 |
1 |
1 |
1 |
Лабораторная работа № 5.
Исследование логических интегральных микросхем
на биполярных транзисторах
1 Цель работы
Ознакомиться с принципом работы логических интегральных схем, выполненных на биполярных транзисторах (БТ), исследовать их характеристики и определить параметры.
2 Подготовка к работе
2.1 Изучить следующие вопросы курса.
2.1.1 Понятие о логических элементах НЕ, ИЛИ, И, ИЛИ-НЕ, И-НЕ.
2.1.2 Условные обозначения логических ИМС.
2.1.3 Основные параметры и характеристики логических ИМС.
2.1.4 Схемотехническая реализация логических ИМС на биполярных транзисторах.
2.1.5 Схемы для исследования характеристик и определения параметров.
2.2 Ответить на следующие контрольные вопросы.
2.2.1 Назначение и применение логических ИМС.
2.2.2.Принцип работы логических схем И, ИЛИ, НЕ, И-НЕ, ИЛИ-НЕ.
2.2.3 Основные законы алгебры логики.
2.2.4 Дать определение ниже перечисленных параметров логических ИМС:
а) величина напряжения, соответствующего логическому нулю и единице;
б) входной и выходной токи, соответствующие логическому нулю и единице;
в) нагрузочная способность (коэффициент разветвления по выходу);
г) среднее время задержки распространения сигнала;
д) статическая помехоустойчивость;
е) потребляемая мощность;
ж) энергия переключения.
2.2.5 Начертить схемы электрические принципиальные базовых элементов и объяснить принцип работы ИМС следующих типов:
а) диодно-транзисторная логика (ДТЛ);
б) транзистор - транзисторная логика (ТТЛ);
в) ТТЛ с открытым коллектором;
г) ТТЛ со сложным инвертором;
д) ТТЛ с тремя состояниями;
е) ТТЛ с диодами Шоттки (ТТЛШ).
2.2.6 Статические характеристики исследуемых логических ИМС и определение по ним параметров.