- •1.Задачи решаемые геофизическими методами в разведочных и эксплуатационных скважинах
- •2.Вклад отечественных ученных в развитие методов интерпретации гис
- •3.Информационная модель гис.(диаграмму нарисовать)
- •4.Плотность горных пород и ее связь с главными геофиз параметрами.(два графика)
- •5.Глинистость коллекторов и ее влияние на главные геофиз параметры. (графики)
- •6.Пористость коллекторов и ее влияние на главные геофиз параметры.
- •7.Проницаемость коллекторов и ее влияние на главные геофиз параметры
- •8.Водонасыщенность и нефтегазонасысещенность коллекторов и их связь с геофизич. Параметрами
- •9.Значение методов гис в обеспечении высоких темпов развития нефтяной и газовой промышленности
- •10.Удельное электрическое сопротивление неглинистых пород и его зависимость от различных факторов (Кп, Кв и др)
- •11.Удельное электрическое сопротивление глинистых пород и его зависимость от различных факторов (Кп, Кв и др
- •12.Удельное электрическое сопротивление пород со сложной структурой порового пространства.
- •13.Петрофизическая характеристика объекта исследования при наличии скважины, вскрывающей пласт (на примере метода сопротивлений)
- •14. Комплекс методов сопротивления, применяющееся для изучения коллекторов нефти и газа.
- •15.Изменение кажущегося сопротивления обычными нефокусированными зондами. Связь кажущегося сопротивления с истинным.
- •16. Поле точечного электрода в однородной среде
- •17. Классификация трехэлектродных нефокусированных зондов
- •19. Теор. Кривые кс в пластах различной толщины низкого сопротивления (нужно дописывать формулы и дорисовывать все из тетрадки)
- •20. Теор. Кривые кс, получаемые против пачек пластов высокого сопротивления.
- •21. Влияние скважины, заполненной п.Ж., на каж. Сопротивление. Влияние зоны проникновения.
- •22. Эффекты экранирования тока и их влияние на характер кривых гис.
- •23. Влияние зоны проникновения фильтрата п.Ж. На показания осн. Методов гис
- •24. Способы опр-я границ пластов по диаграммам электрометрии.
- •25. Влияние неидеальных зондов на кривые кс.
- •26. Общие принципы интерпретации данных бэз.
- •27. Типы кривых бэз.
- •28. Метод микрозондов, как средство выделение фильтрующих коллекторов.
- •29. Экранированные микро- и макрозонды. Принцип регистрации диаграмм.
- •30. Интерпретация диаграмм экранированных зондов.
- •31. Совместное влияние толщины пласта и скважины на величины кс. Измеренных трёхэлектродными нефокусированными зондамим ( пласт ограниченной толщины).
- •32. Способы измерения и определения удельного сопротивления промывочной жидкости по данным гис.
- •33. Физические основы индукционного метода. Индукционные зонды.
- •34. Определение удельного сопротивление пластов по диаграммам индукционного зонда.
- •35. Определение диаметра скважины. Его влияние на показания основных методов гис.
- •36. Влияние скин-эффекта и скважины на показание индукционного метода.
- •37. Диффузионно-абсорбционная активность и её связь с литологическими особенностями горных пород.
- •38. Физические основы метода потенциалов собственной поляризации.
- •39. Наблюденная, статическая и относительная амплитуды сп. Влияние геометрии и удельного электрического сопротивления на наблюдаемую амплитуду сп. Потенциалы собственной поляризации
- •43. Фильтрационные потенциалы.
- •44. Окислительно-восстановительные потенциалы.
- •45. Физические основы метода диэлектрической проницаемости.
- •46. Геологическая интерпретация диаграмм метода диэлектрической проницаемости.
- •47. Разновидности диэлектрического метода. Принципы измерения в волновом диэлектрическом методе вдм
- •48. Радиоактивные излучения. Взаимодействие γ-квантов с веществом.
- •Взаимодействие γ-квантов с веществом.
- •50. Техника регистрации диаграмм в радиометрии.
- •51. Физ.Основы метода естественной радиоактивности
- •52. Интерпретация диаграмм гм. Определение глинистости.
- •53. Использование γ и n излучения в геофизике. Классификация методов радиометрии.
- •54. Общие особенности диаграмм методов радиометрии. Определение границ пластов.
- •55. Физические основы метода рассеянного γ-излучения. Ггм-п и ггм-с
- •56. Определение плотности и пористости по ггм.
- •57. Физические основы нгм и ннм. Нейтронный свойства г.П.
- •58. Физ.Основы импульсных нейтронных методов. Аппаратура для проведения инм.
- •59. Интерпретация диаграмм инм. Определение коэф.Нефтенасыщенности.
- •60. Влияние длины зонда на характер диаграмм нм.
- •61. Интерпретация диаграмм нм. Определение нейтронной пористости.
- •62. Изучение времени жизни тепловых нейтронов. Области применения инм.
- •63. Ингм. Основа теории и интерпретации результатов скважинных исследований.
- •64. Упругие свойства г.П.
- •65. Классификация ак.Задачи, решаемые акустическим методом:
- •66. Физические основы акустических методов. Аппаратура.
- •67. Обработка и интерпретация ам. Определение Кп
- •1. Определение литологии пород в разрезе скв.
- •2. Определение Кп и структуры порового пространства.
- •68. Широкополосный ак (низкочастотный), акустический метод. Решаемые задачи и область применения.
- •69. Физические основы ядерно-магнитного метод. Принцип измерения.
- •70. Определение эффективной пористости и характера насыщения по данным ядерно-магнитного метода.
- •71. Определение характера насыщения коллекторов. Разделение газоносных и нефтеносных коллекторов в разрезе скважин.
- •72. Определение положения контактов (внк, гвк, гнк) по геофизическим данным. Контроль за положением внк в процессе эксплуатации скважин.
- •73. Викиз
50. Техника регистрации диаграмм в радиометрии.
Аппаратура состоит из скв прибора и наземной панели, установленной в станции. Скв прибор в методах, изучающих ест излучение г.п. (ГМ, ГМ-С) содержат детектор (счетчик) γ-квантов и эл схему, помещенные в прочных кожух. Скв прибор в методах, изучающих иск излучение (ГГМ-П, ГГМ-С, ННМ, НГМ, ИННМ) содержит источник излучения γ-квантов или n и счетчик γ-квантов или n + эл схему.
Счетчики излучения характеризуются определенной эффективностью. Под эффективностью ef понимается отношение числа импульсов, зарегистрированных на выходе счетчика к числу γ-кв или нейтронов, попавших в рабочий объем счетчика в единицу времени
Источники γ-излучений (ГГМ-П и ГГМ-С)
60Co, 137Cs – жесткое γ-излучение (Е=0.66-1.33); 170Tm, 75Se, 203Hg – мягкое γ-излучение (Е=0.16-0.27)
Источники n
Стационарные n методы: ампульные n источники. С помощью источников получаем быстрые n. Источник: порошковая смесь радиоактивного вещества (Ро, Ra, Pu) и мишень (Ве, В). Самопроизвольный распад рад вещ-ва сопровождается α-излучением. Ро-Ве: , Еn=11МЭВ Используют и Ra+B, Pu+Be. Мощность источника определяется кол-вом образовавшихся α частиц.
Импульсные n методы: импульсный генератор n, осн элемент – усорительная трубка. , Еn=14МЭВ.
Индикаторы (счетчики) γ-излучения: газоразрядные (ef = 2-3%) и сцинтилляционные (ef = 20-30%)
Индикаторы n: пропорциональные(ef = 8%) и сцинтилляционные.
Газоразрядный (Геккера-Мюллера).
Счетчик – цилиндрический стеклянный баллон, заполненный под пониженным Р смесью инертных газов (Ar, Ne) или паров высокомолекулярных орг соединений (спирт), т.е. счетчик – конденсатор. Внутри счетчика – нить (Wo, Fe) – анод, а внутренняя пов-ть цилиндра (Wo, Cu) служит катодом. В счетчике роль диэлектрика выполняет смесь газов. К электродам приложена достаточно высокое напряжение. Принцип работы: γ-кванты внутри баллона вызывают ионизацию газа, в результате в счетчике возникает разряд, вызывающий импульс тока в цепи питания. Импульсы тока через С1 поступают в ЭС, где они стандартизируются, т.е. формируются по амплитуде и длительности, и дальше поступают в интегрирующую ячейку. Там эти импульсы преобразуются в ток Iср, пропорциональный среднему кол-ву импульсов в ед времени Iср=N1q, N1=N/t, q – кол-во электричества, соотв 1 импульсу.
Для измерения этого тока интрегрир ячейку подключают к регистрир прибору. В интегр ячейке происходит осреднение импульсов, она хар-ся пост временем τ=RC.
Назначение интрегр ячейки: при изменении скорости счета наблюдаются статистич флуктуации, т.е. колебания интенсивности счета вокруг средней величины в одних и тех же условиях. Чтобы уменьшить эти колебания и, тем самым, уменьшить погрешность измерения, применяют осреднение измерения за некоторый промежуток времени. Выбор этого интервала времени τ проводится с помощью интерг ячейки. Осреднение импульсов тем выше, чем больше τ. Однако, увеличение τ приводит к уменьшению допустимой скорости перемещения скв прибора, что нежелательно.
Сцинтилляционный (люминесцентный)
γ-квант, попадая на кристалл СЦ, поглощается, что сопровождается образованием вторичного е и позитрона. Эти заряженные частицы, двигаясь внутри кристалла, вдоль траектории своего движения возбуждают молекулы кристалла. Эти молекулы живут недолго, возвращаясь в исходное состояние, выделяют Е в виде небольших вспышек света (световых квантов) – фотонов, которые, попадая на фотокатод, выбивают из него е. Они, перемещаясь между фотокатодом и анодом, выбивают из диодов все больше е. Эти е попадают на анод, и импульсы тока, после выхода из ФЭУ, поступают в ЭС. Дальше - интерг ячейки, как в газоразрядном.
Пропорциональный
Представляет собой баллон, с Ме внутренней поверхностью (катод) и протянутой по середине вольфрамовой нитью (анод). Баллон заполнен под низким Р BF3, обогащенным изотопом. Тепловые n, попадая в счетчик, интенсивно поглощаются бором. . Выделяющиеся α-частицы вызывают ионизацию заполнителя, что приводит к возникновению импульса напряжения в анодной цепи. Эти импульсы попадают на ЭСРП