- •Системы диагностирования эвм Характеристики систем диагностирования
- •Методы диагностирования
- •Характеристика и оценка эффективности систем диагностирования
- •Методы диагностирования озу
- •0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 . . . . . N
- •0 1 2 3 4 5 6 N-2 n
- •0 1 2 3 4 5 6 N-2 n
- •Система самодиагностирования озу ibm pc
- •0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 . . . N
- •Организация профилактических работ Процессы эксплуатационного обслуживания эвм
- •Оборудование помещений в машинных залах
- •Работа с эксплуатационной документацией
- •Проведение планово-профилактического обслуживания
- •Сбор и анализ информации о сбоях и отказах компьютеров
- •Организация профилактических испытаний
- •Факторы, влияющие на работоспособность эвм
- •Контрольно-измерительная аппаратура для эксплуатационного обслуживания эвм типы контрольно-измерительных приборов
- •Одноконтактный логический пробник
- •Многоконтактный логический пробник
- •Логический компаратор
- •Логический импульсный генератор
- •Измерители тока
- •Осциллографы
- •Логические анализаторы
- •Стенды проверки для тэз
- •Сигнатурные анализаторы Причины появления сигнатурных анализаторов
- •Что такое сигнатурный анализ
- •Точность сигнатурного анализа
- •Какие изделия пригодны для испытания методом са
- •Устройство сигнатурного анализатора
- •Типы сигнатурных анализаторов Специализированные сигнатурные анализаторы
- •Активные сигнатурные анализаторы
- •Многоканальные сигнатурные анализаторы
- •Опасные и вредные факторы на рабочем месте в дисплейном классе
- •Неблагоприятные факторы при работе за дисплеем
- •Требования к дисплеям
- •Требования к микроклиматическим условиям
- •Методы борьбы с излучением
- •Создание оптимальной световой среды
- •Использование черненых сеток, специальных пленок и матировки экрана
- •Инструкция пользователю по охране труда при работе за персональным компьютером
- •Приложение
0 0 0 0 0 0 0 0 0
0 . . . . . . . . 0 Запись фонового
набора
1 0 0 0 0 0 0 0 0 0
. . . . . . . . 0
Считывание/проверка/запись
1 1 0 0 0 0 0 0 0 0
. . . . . . . . 0 в прямом
направлении (вперед)
1 1 1 0 0 0 0 0 0 0
. . . . . . . . 0
1 1 1 1 0 0 0 0 0 0
. . . . . . . . 0
1 1 1 1 1 0 0 0 0 0
. . . . . . . . 0
. . . . . . .
. . . . . . . . . . . .
1 1 1 1 1 1 1 1 1
1 . . . . . . . . 1 Конец прохода
вперед
1 1 1 1 1 1 1 1 1 1
. . . . . . . . 0
Считывание/проверка/запись
. . . . . . . .
. . . . . . . . . . . в обратном
направлении (назад)
0 0 0
0 0 1 1 1 1 1 .
. . . . . . . 1
0 0 0
0 1 1 1 1 1 1
. . . . . . . . 1
0 0 0
1 1 1 1 1 1 1 .
. . . . . . . 1
0 0 1 1 1 1 1 1 1 1
. . . . . . . . 1
0 1 1
1 1 1 1 1 1 1 . . . . . . . . 1
0
0 0 0 0 0 0 0 0 0 . . . . . . . . 0
Конец прохода назад0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 . . . . . N
Марширующий (модификация предыдущего теста).
Предварительно во все ячейки записывается фоновый набор, например, все нули (запись).
Далее производится последовательное считывание и сравнение с эталоном (проверка). После проверки каждой очередной ячейки в нее записывается информация в ОК, т.е. все "1" (считывание/запись).
После проверки последней ячейки и записи в нее "1" процедура повторяется с данными в ОК также от младшего адреса к старшему с чтением единиц, сравнением их с эталоном и записью нулей.
После проверки последней ячейки и записи в нее "0" процедура повторяется от старшего адреса к младшему с чтением единиц, сравнением их с эталоном и записью единиц.
После проверки нулевой ячейки и записи в нее "1" процедура вновь повторяется от старшего адреса к младшему с чтением единиц, сравнением их с эталоном и записью нулей.
Выполнение проверки считыванием нулей и сравнением с эталоном от нулевой ячейки до последней.
Дополнительная адресация.
Во все ячейки записывается фоновый набор все нули (или все "1").
Далее производится считывание с нулевой ячейки с проверкой (сравнение с эталоном) и записью в эту ячейку противоположной информации.
Каждое второе обращение выполняется по адресу, код которого является дополнением к предыдущему.
Тест проверяет адресные цепи, информация которых подвергается максимальному изменению.
Долбление.Предварительно во все ячейки записывается тестовый набор. Далее производится многократное считывание по каждому адресу и сравнение с эталоном по всем адресам. Процедура повторяется при замене тестовой информации на противоположную (в ОК).