Т

N-1 Дополнительная адресация

0 1 2 3 4 5 6 N-2 n

0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 Запись фонового набора

1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 Считывание/проверка/запись

1 0 0 0 0 0 0 0 0 1

1 1 0 0 0 0 0 0 0 1

1 1 0 0 0 0 0 0 1 1

1 1 1 0 0 0 0 0 1 1

1 1 1 0 0 0 0 1 1 1

. . . . . . . . . . . .

1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 Конец прохода

ест применяется для проверки ячеек выдерживать многократные обращения по считыванию.

11.Крест.

• Предварительно во все ячейки записывается фоновый набор, например, все нули, а затем в каждую из четырех соседних ячеек тестовый набор, но в ОК.

• Затем информация в соседних ячейках изменяется на противоположную и проверяется влияние этого изменения на проверяемую ячейку.

12. Разрушение считыванием.

• В нулевую ячейку записывается, считывается и проверяется тестовое слово (все "0" или все "1").

• Выполняется приращение адреса и тестовое слово записывается в первую (следующую) ячейку.

• После этого информация из 0-ой и 1-ой ячеек считывается и проверяется.

• Процедура продолжается до тех пор пока во все ячейки не будет записано тестовое слово.

В результате выполнения теста к нулевой ячейке будет выполнено Nобращений, к первой ячейкеN-1 обращение, а к последней ячейке одно обращение.

Тест используется для проверки взаимовлияния ячеек ОЗУ при записи в них одной и той же информации.

N-1

0 1 2 3 4 5 6 N-2 n

X X X X X X X X X X Исходное состояние ОЗУ

1 XXXXXXXXXЗапись/считывание/проверка 0-ой яч.

1 1 XXXXXXXXЗапись/считывание/проверка 0-ой и 1-ой яч.

1 1 1 XXXXXXXЗапись/считывание/проверка 0-ой, 1-ой и 2-ой яч.

1 1 1 1 XXXXXXЗапись/считывание/проверка с 0-ой по 3-ю ячейки

1 1 1 1 1 XXXXXЗапись/считывание/проверка с 0-ой по 4-ю ячейки

. . . . . . . . . . . .

1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 Запись/считывание/проверка с 0-ой по N-ю ячейки.

13. Бегущий.

• В нулевую ячейку записывается код все единицы (или все нули), а во все остальные ячейки фоновый набор в инверсном коде.

• Выполняется последовательное считывание с проверкой.

• Далее последней считается нулевая ячейка с последующей записью в нее нулей, а в следующую ячейку код все «1».

• Последовательность операций считывания с проверкой повторяется для адресов 1,2,3,…,N,0.

• Тест выполняется для всех ячеек памяти. Последний прогон по считыванию N,0,1,2,3,4,….,(N-1).

Тест предназначен для обнаружения сбое в ОЗУ, вызванных переходными процессами в разрядах данных.

14. Пинг-понг.

• В нулевую ячейку записывается код все единицы (или все нули), а во все остальные ячейки фоновый набор в инверсном коде.

• Выполняется последовательное считывание с проверкой ячеек 0 и 1, затем 0 и 2, 0 и 3, 0 и 4 и т. д. 0 и N.

• Далее в проверенную ячейку записывается фоновый набор (все нули), а в следующую ячейку код все «1».

• Последовательность операций считывания с проверкой повторяется для адресов 1 и 0, 1 и 2, 1 и 3,…,1 и N и т.д. по всем адресам.

15.Галопирующий.

• Аналогичен предыдущему тесту по записи фонового набора, а отличается только процедурой считывания с проверкой.

• Выполняется последовательное считывание с проверкой ячеек 1,0,1, затем 2,0,2, 3,0,3, 4,0,4 и т. д. N,0,N.

• Далее в проверенную ячейку записывается фоновый набор (все нули), а в следующую ячейку код все «1».

• Последовательность операций считывания с проверкой повторяется для адресов 0,1,0, затем 2,1,2; 3,1,3 и т.д до (N-1),N,(N-1) и т.д. по всем адресам.

В таблице приведены данные по обнаруживающей способности тестов и продолжительности их выполнения.

		Обнаруживаемые отказы
Тест	Время	В матрице			В дешифраторах
	выполнения	Отсут-ствие записи	Ложная запись	Ложное считыва-ние	Отсутст-вие выборки	Много-кратная выборка	Неодно-значная выборка
Сканирующий	4N	-	0	0	0	0	0
Шахматный	4N	+	-	0	-	0	0
Зп и Сч/Зп вперед и назад	5 N	+	+	-	-	-	-
Марширующий	10N	+	+	-	-	-	-
Дополнительная Адресация	10N	+	-	-	+	-	+
Крест	128N	+	+	-	-	-	0
Бегущий	2 (N^2 +2N)	+	+	+	-	-	-
Пинг-понг	2 (2 N^2 +2N)	+	+	+	+	+	+
Галопирующий	2 (3 N^2 + 3N)	+	+	+	+	+	+

Примечание: + - обнаруживает; - не обнаруживает; 0 - неэффективное обнаружение

Выводы:

• Разные методы диагностирования ОЗУ предназначены для обнаружения отказов в различных частях БИС памяти: либо в адресных цепях, либо в матрице накопителя, как по записи, так и по считыванию.

• Методы диагностирования существенно различаются по времени выполнения. Причем, чем выше обнаруживающая способность теста, тем больше времени требуется на его выполнение.

• Так как методы диагностирования имеют различную обнаруживающую способность, а для современных компьютеров имеется тенденция увеличения ескости ОЗУ, то время диагностирования для более надежных тестов может быть значительным.

• На практике в состав системы диагностирования памяти входит набор быстродействующих тестов, имеющих различную обнаруживающую способность по месту обнаружения отказов, а в совокупности они обеспечивают приемлемые характеристики по быстродействию и обнаруживающей способности.