- •Системы диагностирования эвм Характеристики систем диагностирования
- •Методы диагностирования
- •Характеристика и оценка эффективности систем диагностирования
- •Методы диагностирования озу
- •0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 . . . . . N
- •0 1 2 3 4 5 6 N-2 n
- •0 1 2 3 4 5 6 N-2 n
- •Система самодиагностирования озу ibm pc
- •0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 . . . N
- •Организация профилактических работ Процессы эксплуатационного обслуживания эвм
- •Оборудование помещений в машинных залах
- •Работа с эксплуатационной документацией
- •Проведение планово-профилактического обслуживания
- •Сбор и анализ информации о сбоях и отказах компьютеров
- •Организация профилактических испытаний
- •Факторы, влияющие на работоспособность эвм
- •Контрольно-измерительная аппаратура для эксплуатационного обслуживания эвм типы контрольно-измерительных приборов
- •Одноконтактный логический пробник
- •Многоконтактный логический пробник
- •Логический компаратор
- •Логический импульсный генератор
- •Измерители тока
- •Осциллографы
- •Логические анализаторы
- •Стенды проверки для тэз
- •Сигнатурные анализаторы Причины появления сигнатурных анализаторов
- •Что такое сигнатурный анализ
- •Точность сигнатурного анализа
- •Какие изделия пригодны для испытания методом са
- •Устройство сигнатурного анализатора
- •Типы сигнатурных анализаторов Специализированные сигнатурные анализаторы
- •Активные сигнатурные анализаторы
- •Многоканальные сигнатурные анализаторы
- •Опасные и вредные факторы на рабочем месте в дисплейном классе
- •Неблагоприятные факторы при работе за дисплеем
- •Требования к дисплеям
- •Требования к микроклиматическим условиям
- •Методы борьбы с излучением
- •Создание оптимальной световой среды
- •Использование черненых сеток, специальных пленок и матировки экрана
- •Инструкция пользователю по охране труда при работе за персональным компьютером
- •Приложение
Система самодиагностирования озу ibm pc
Простое чтение и запись (сканирующий).Это самый быстрый и простой тест, но он не выявляет целого ряда ошибок в ОЗУ. В качестве фонового набора могут выбираться любые константы в прямом, а затем инверсном коде, что позволяет выявить взаимовлияние данных на соседние разряды в слове. Эталонные значения выбираются в зависимости от принципа организации матриц БИС ОЗУ: 3D, 2D, 2,5D.
Тест последовательных чисел (адресный).В каждый байт блока из 256 байт модуля памяти записывается последовательность чисел от 0 до 255. Затем выполняется последовательное считывание и сравнение с эталоном.
Циклический тест (разновидность бегущего, но по битам в байте).
Тест проверяет не приведет ли установка одного из 8-ми битов байта к неправильной установке другого бита этого байта. Тест заключается в загрузке и последовательном считывании с проверкой двоичных кодов от 00000001, 00000010, 00000100, до 10000000, начиная с адреса 0 до N.
Галопирующий по битам. (отличается от предыдущего процедурой записи и считывания).
Во все ячейки ОЗУ записывается код все нули, затем в нулевую ячейку код 00000001, выполняется считывание и проверка не изменили ли свое состояние остальные 7 бит. Далее в эту же ячейку загружается код 00000010 и снова выполняется считывание с проверкой и т.д. до кода 10000000.
Затем все нулевые биты устанавливаются в "1", а единичные в "0" и весь процесс повторяется с циклической проверкой бита на "0".
Тест используется для проверки памяти небольшой емкости 4-8 Кбайт, так как на проверку одной ячейки требуется выполнить 16 записей, считываний и сравнений.
Двухадресный тест (бегущий). Не отличается от классического теста, рассмотренного ранее.
Тест суммирования.
В каждую проверяемую ячейку памяти записывается слово, содержащее сумму двух байтов, представляющих адрес данной ячейки.
Выполняется последовательное считывание с проверкой.
Тест является модификацией адресного теста, но позволяет выявлять дополнительные отказы, связанные с работой адресных цепей.
Тест последовательных чисел (адресный) Тест суммирования
0 00000000 0 00000000
1 00000001 1 00000001
2 00000010 2 00000010
3 00000011 3 00000011
.. . . . . . . . .. . . . . .
255 11111111 255 11111111
256 00000000 256 00000001
257 00000001 257 00000010
258 00000011 258 00000011
259 00000100 259 00000100
... . . . . . . . . . . . . . . . . .
511 11111111 510 11111111
В каждом блоке константы повторяется 511 00000000
В каждом блоке константы будут разные Тест Баттерфилда (модификация теста крест).
Все ячейки выбранной области памяти заполняются единицами. Затем каждая вторая ячейка, начиная с нулевой, заполняется нулями.
Последовательное считывание и проверка содержимого всех ячеек, чтобы убедиться, что остальные ячейки ОП сохранили свои прежние значения
Затем программно производится сдвиг всех слов и снова последовательное считывание с проверкой.
После третьего прохода теста биты изменяют значения на противоположные и прогон теста повторяется.