- •Основное назначение спп (силовых полупроводниковых приборов)
- •Основная номенклатура.
- •Основные сферы применения
- •Разработка новых технологий
- •2.1 Типовой технологический процесс изготовления спп
- •Общая характеристика полупроводникового тиристора т-142
- •Технологический процесс изготовления тиристора т-142
- •2.3.1 Механическая обработка
- •2.3.2 Техпроцесс диффузии бора
- •2.3.3 Техпроцесс первой фотолитографии
- •2.3.4 Техпроцесс диффузии фосфора и бора
- •2.3.5 Техпроцесс второй фотолитографии
- •2.3.6 Техпроцесс металлизации
- •2.3.7 Техпроцесс изготовления п-п структуры и сборки прибора т-142
- •3 Диод .Д106
- •3.1. Общие сведения о диоде д106.
- •3.1.1. Параметры диода д106.
- •3.3.2. Диффузия.
- •3.3.3. Окисление.
- •3.3.4. Фотолитография.
- •3.3.5. Стеклопассивация.
- •3.3.6. Металлизация.
- •3.3.7. Скрайбирование, облуживание.
- •3.3.8. Травление.
- •3.3.9. Пайка арматуры.
- •3.3.10. Герметизация.
- •4.2 Контроль в процессе механической обработки
- •4.3 Контроль параметров после диффузии
- •4.3.1 Контроль глубины диффузии
- •4.3.2 Контроль поверхностного сопротивления
- •4.3.3 Измерение времени жизни неосновных носителей заряда
- •4.3.4 Контроль типа проводимости п/п материалов
- •4.4 Контроль толщины металлизации
- •4.4.1 Гравиметрический метод (гост 9.302-88)
- •4.4.2 Кулонометрический метод
- •4.4.3 Метод капли
- •4.4.4 Метод вихревых токов
3.3.2. Диффузия.
Для изготовления р-n переходов используется диффузия примесных атомов, который вводятся в кристаллическую решетку для изменения ее электрофизических свойств.
Вначале процесса проводится преддиффузионная отмывка. Она состоит из 3-х стадий:
1) Обработка в HF и последующая УЗМ;
2) Отмывка в растворе H2О2:NH4OH: H2О = 1:1:6;
3) Отмывка в растворе H2О2:HCl: H2О = 1:1:6.
После обработки растворами пластины подвергаются УЗМ.
Необходимо так же подготовить посуду для приготовления источника диффузии и оснастку для её проведения.
Для проведения процесса диффузии приготовляют диффузанты. Необходимо строго соблюдать пропорции веществ, равномерность смешивания и время выдержки. Источником фосфора является следующая смесь:
С2Н5ОН – 84 мл С2Н5ОН – 564 мл
HNO3 – 6 мл H3PO4 – 60 мл
H2О – 60 мл
ТЭОС – 210 мл
Время выдержки данной смеси 8 часов.
Источником бора является следующая смесь:
С2Н5ОН – 611мл
H2О – 91 мл
1% р-р Н3ВО3 39 мл
ТЭОС – 169 мл
Выдержка данной смеси 24 часа.
Нанесение диффузанта на поверхность пластины осуществляется центрифугированием. Для данного прибора на каждую сторону свой диффузант наносится один раз. Скорость центрифуги для диффузанта n типа
3000 об/мин, для р типа 2000 об/мин. Время вращения центрифуги 3-5 с.
После нанесения диффузанта пластины сушат, используя шкаф ИК сушки. Высушенные пластины устанавливаю в кварцевую лодочку после пересыпания крошкой алюминия. Далее идет подготовка диффузионной печи: продувка, разогрев.
В процессе используется диффузионная печь СУОМ 1.2.6.1/13.5-И1. Лодочки с пластинами загружают в рабочую зону печи. Температура печи при загрузке (62525) 0C. После этого печь выводят на режим (12502) 0C. Время выдержки для данного прибора составляет 23 часа.
По окончании выдержки печь отключают. После охлаждения пластины выгружают. Температура выгрузки (62525) 0C.
Контролируемыми параметрами после диффузии являются глубина диффузии, поверхностное сопротивление, время жизни неосновных носителей заряда, и выборочно тип проводимости.
Для диода Д106 глубина диффузии составляет (70 5) мкм для р+-р типа и (405) мкм для n+ типа.
3.3.3. Окисление.
Для образования пленки защитного окисла кремния пластины подвергают окислению.
Для подготовки пластин к окислению их вначале промывают в растворе HCL:HNO3 = 3:1 в течении семи минут. Затем пластины промывают в воде до нейтральной реакции и подвергают УЗМ.
Окисление производят в электропечи СДО 125/4А. Загрузка пластин происходит при T = (10155) 0C и проходит в парах H2О в течении двух часов, затем в сухом О2 в течении 1 час. После этого печь выключают и при температуре (62525)0C выгружают.
3.3.4. Фотолитография.
Фотолитография – процесс образования на поверхности пластины с помощью светочувствительных материалов локальных защитных участков, рельеф которых повторяет рисунок топологии прибора.
Первая операция фотолитографии – подготовка пластин. Пластины обрабатывают раствором спирта 15-20 минут при температуре (75050)0C, для удаления загрязненности.
Далее на пластины наносится слой фоторезиста. В данном приборе используется позитивный фоторезист ФП-383. Нанесение осуществляют центрифугированием при следующих режимах: скорость центрифуги
1500-2000 об/мин, время работы центрифуги 10-25 с, время раскрутки 1-2.5с.
После нанесения пластины с фоторезистом сушат.
Сушка проводится при следующих режимах: температура (90-100)0C, время сушки 25-30 минут.
На следующем этапе пластины совмещают с фотошаблоном и экспонируют. Время экспонирования 10-30 секунд.
После экспонирования фоторезист проявляют в 2% водном растворе Na2PO4. Данная операция предназначена для удаления засвеченных участков фоторезиста. Время проявления 30-80 с.
На следующей операции фоторезист подвергают дублению. Дубление происходит 30-60 минут при температуре (120-150) 0C. Для удаления окисла кремния с открытых участков на следующей операции производят селективное травление пластин. Травление производят в растворе NH4F:HF:H2O = 3:1:6 в течении (20-50) минут. Травление производят в боксе 5БП2-02.
Последней операцией фотолитографии является снятие фоторезиста. Операция производится в шкафу 2Ш-НХ. Вначале пластину обрабатывают в диэтилформамиде, доведенном до кипения. Затем, после промывки в деионизированной воде их помещают в раствор H2SO4 = 1:1 и кипятят 10 минут. На последней стадии пластины сушат.