- •“Конструкторско-технологическое обеспечение производства эвм”
- •1. Среда передачи информации в рэс.
- •2. Определение конструкции. Специфические особенности конструкции эвм.
- •3. Развитие подходов к конструкции и производству эвм. Поколения эвм.
- •4. Система показателей качества конструкции.
- •5. Абсолютные и относительные показатели качества конструкции.
- •6. Способы защиты корпуса комплектного от статического электричества и высокочастотных внешних воздействий.
- •7. Организация процесса конструирования средств вт.
- •8. Основные этапы проведения нир.
- •9. Основные этапы проведения окр.
- •10. Общие технические требования к эвм.
- •11. Системный подход к конструированию средств вт.
- •12. Конструкционные системы средств вт.
- •13. Структура основных размеров конструкционной системы.
- •14. Конструкционная система и существующие госТы.
- •15. Конструкционная система с позиций международных стандартов.
- •16. Технические параметры корпусов ис.
- •17. Основные технологии сбис.
- •18. Сравнительные характеристики основных технологий сбис.
- •19. Бескорпусные ис.
- •20. Материалы и технологии при производстве ис.
- •21. Основные технологические операции при производстве сбис.
- •22. Плата в структуре конструкционной системы.
- •23. Конструкция электрических соединений.
- •24. Виды и способы электрических соединений.
- •25. Основные материалы и технологии печатного монтажа.
- •26. Основные операции при изготовлении печатных плат.
- •27. Многослойные печатные платы.
- •28. Межконтактные соединения из объёмного провода.
- •29. Способы контактирования.
- •30. Неразъёмные соединения.
- •31. Ограниченно-разъёмные соединения.
- •32. Разъёмные соединения.
- •33. Электромагнитная совместимость цифровых схем.
- •34. Помехи в электрически-длинных линиях.
- •35. Помехи в электрически-коротких линиях.
- •36. Методы уменьшения помех.
- •37. Отличительные особенности и типоразмеры корпусов пк.
- •40. Средства поиска неисправностей в пэвм.
- •41. Перспективные технологии производства сбис. Нанотехнология и другие.
- •42. Выбор размеров печатной платы.
- •43. Кабели связи. Электрические, оптические.
- •44. Методика испытаний корпусов комплектных и комплексных на механические воздействия.
- •45. Климатические воздействия на корпус комплексный. Ip-классификатор защиты.
- •46. Радиационная стойкость средств вычислительной техники.
14. Конструкционная система и существующие госТы.
Один из первых вариантов КС был утверждён ГОСТом в 80м году. Основные требования:
Уровень КС |
Наименование |
Основные размеры, мм |
Примечание |
Общий вид | ||
L |
H |
B | ||||
I |
Плата печатная |
1,6 |
182,9 |
305max |
Отдельно не применяется | |
II |
Корпус частичный |
17,0 34,2 |
221,9 |
290max |
Лицевая панель и разъём 86 pin | |
III |
Корпус комплектный |
482,6 |
221,5 |
360min 525max |
Не более 25 мест для корпусов частичных с L=17,0 мм |
Недостатки: неоднозначность параметров конструкции; заданы точные размеры, а не диапазоны. Узкое применение.
Пример: L = 19″ = 482,6 мм – в основе стандарта МЭК – размер лицевой панели IBM PC 286.
15. Конструкционная система с позиций международных стандартов.
Основное отличие рекомендаций МЭК от ГОСТ – в каждый уровень введено множество подуровней. В некоторых – до 12…20 иерархических подуровней, регламентирующих количество и размеры плат, типы монтажа, типы разъёмов и др.
КС МЭК содержит три уровня конструкционной иерархии:
I. Корпус частичный
I-1. Плата с рычагом
I-2. Плата с панелью
I-3. Корпус одноплатный
I-4. Корпус универсальный
II. Корпус комплектный
II-1. Панель корпусная
II-2. Каркас
II-3. Кожух
II-4. Корпус составной
III. Корпус комплексный
III-1. Корпус шкафа
III-2. Корпус стойки
III-3. Тумба
III-4. Стол
• Печатная плата не выделена в уровень отдельной иерархии. Она выполняется в виде сменного модуля.
• Корпус частичный предназначен для размещения одной/нескольких печатных плат.
• Все модификации устанавливаются в корпуса следующего уровня по направляющим.
• Механические и электрические сочленения всех модификаций плат производятся «врубным» способом (PCI, ISA,…).
• Корпус универсальный сочленяется «вкладываемым» способом, электрические соединения при этом – путем кабелей и шлейфов (HDD, FDD, CD-ROM…)
• Модификация комплектного корпуса предназначена для размещения печатных плат, частичных корпусов и других элементов. Модификация комплексного корпуса предназначена для размещения как комплектных корпусов, так и периферийных устройств.
16. Технические параметры корпусов ис.
Конструкция корпуса ИС не была стандартизирована. ИС устанавливаются на печатных платах, корпус ИС не является ни уровнем, ни подуровнем базовой конструкции. Внутри корпуса ИС расположены также пассивные элементы (R, C).
Интегральные схемы бывают корпусированные и бескорпусные.
• Корпусные ИС используются в негерметичных конструкциях (ПК).
– Плюсы: защищенность элементов от дестабилизирующих факторов (механическое воздействие, влага, температура...), экранирование от внешних помех при использовании металлического корпуса.
– Минусы: увеличение габаритов, массы, стоимости; ухудшение теплоотвода; ухудшение электрических параметров (омическое сопротивление контактов – R, индуктивность L линий в корпусе, межвыводная ёмкость C), т.к. из-за наличия корпусов увеличивается длина выводов от кристалла до контакта на корпусе снижение частотных свойств.
• Технические параметры корпусов ИС:
1) тип корпуса (круглый/квадратный/прямоугольный, а также организация выводов – штырьковые/планарные).
•DIP – dual in-line package – наиболее распространённый.
– размер кристалла – 2-3% от размера корпуса ИС;
– различие длин соединительных проводников в корпусе;
– при шаге внешних выводов 2,5 мм омическое сопротивление порядка R=0,6 Ом; L=1,5…25 нГн; C=2…5 пФ.
•SOIC (Small-Outline Integrated Circuit) – тип корпуса микросхемы для поверхностного монтажа. Имеет форму прямоугольника с двумя рядами выводов по длинным сторонам.
•PGA (Pin Grid Array) – корпус с матрицей выводов.
• QFP (Quad Flat Package) – семейство корпусов микросхем, имеющих планарные выводы, расположенные по всем четырём сторонам.
• BGA (Ball Grid Array) – представляет собой корпус PGA, в котором штырьковые контакты заменены на шарики припоя. Предназначен для поверхностного монтажа. Чаще всего используется в мобильных процессорах, чипсетах и современных графических процессорах. До 17 слоёв подложки. До 1116 контактов.
2) Размер монтажной площадки для размещения кристалла – от 3х5 мм до 10х12 мм и более.
3) Коэффициент дезинтеграции – Sкристалла/Sкорпуса:
– DIP ~2%; PGA – 5…30%; BGA – 30…80%; MCM – до 60% (multichip module – многокристальные корпуса).
4) Сопротивление изоляции: при U=100В R=109Ом.
5) Устойчивость к механическим нагрузкам (многократные удары до 10g, вибрационные с частотой 1…5 кГц – до 40g).
6) Температура воздуха окружающей среды (от -60 до +150 °С).
7) Мощность рассеивания (0,01 – 30 Вт)
8) Масса корпуса – до 10 гр.
9) Способы монтажа к печатной плате:
– пайка штыревых выводов в специальных отверстиях;
– пайка (сварка) планарных выводов к контактным площадкам;
– сочленение выводов с гнездом кристаллодержателя (т.н. ZIF или LIF - zero inforce или light inforce - нулевое/облегченное усилие сочленения).
10) Шаг внешних выводов
– в метрической системе мер: 2,5 мм, 1,25 мм, 0,625 мм, 0,5 мм, 0,4 мм;
– в дюймовой системе мер: 2,54 мм = 100 mil, 50 mil (1,27 мм), 20 mil (0,508 мм). 1 mil = 0,001''
11) Количество внешних выводов на корпусе: 8, 14, 16, 24, 28, 40, 48,…, 1116.
12) Сечение внешних выводов:
– круглые: d = 0,3 … 0,6 мм
– прямоугольного сечения: 0,2х0,54 мм.