Глaвa 8. Гамма-спектрометрия изотопного состава плутония

249

После того как наклон В зафиксирован, амплитуда А может быть определена по двум пикам, которые использовались для определения центров и параметров ширины пиков.

Ecли длинная составляющая хвоста нулевая, единственным независимым параметром является амплитуда пика Y0, и тогда процедура подгонки пиков достаточно быстрая. В программе GRPANL остальные параметры тоже могут быть независимыми, но это увеличивает время анализа. Первой определяется ступен- чатая функция фона и затем вычитается из полученного спектра. Программа GRPANL использует итерационный нелинейный метод наименьших квадратов [26, 27] для подгонки площади остаточного пика. Поскольку этот метод последовательный, время анализа зависит от числа пиков, числа независимых параметров и от типа используемого компьютера. Обычно анализ плутониевого спектра, содержащего более 50 пиков в 15 группах в области энергии от 120 до 450 кэВ занимает около 10 мин на компьютере PDP-11/23 фирмы "Диджитал Эквипмент" (Digital Equipment Corporation) или 3-4 мин на PDP-11/73. Время анализа обыч- но меньше времени набора данных.

Программа GRPANL может подгонять пики рентгеновского излучения, имеющие форму линий (функция Лоренца), отличающуюся от линий гамма-излуче- ния [29]. Эта способность необходима при подгонке пиков в области энергии 100 кэВ.

8.6.3 Анализ по функции соответствия

Анализ по функции соответствия использует способы, рассмотренные в разделе 8.6.2, для расчета формы отклика детектора на определенный изотоп в определенной области энергии. Метод подгонки пиков предполагает для каждого пика в исследуемой области отдельное слагаемое в уравнении (8.15) и позволяет параметрам формы быть независимыми — одному или всем. Анализ по функции соответствия использует те же уравнения, но фиксирует все параметры формы и относительные амплитуды Y0 всех пиков этих изотопов. Единственными независимыми параметрами в анализе по функции соответствия являются амплитуды изотопов, имеющих пики в анализируемой области энергии. Методика подгонки по функции соответствия сводится к линейному анализу методом наименьших квадратов, что позволяет быстро получить решение.

Характеристики формы пика детектора могут быть известны или определены из спектра исследуемого образца. Если параметры определяются непосредственно из каждого спектра, автоматически учитываются изменения, обусловленные различиями скоростей счета или от замены приборов. Методика, используемая для определения положения пика и параметров формы, рассматривается в разделах 5.3 и 8.6.2. Задав параметры формы и положение для всех пиков гам- ма-излучения, будет легче вычислить соответствующее распределение каждого изотопа в исследуемой области энергии. Анализ по функции соответствия используется для подгонки комплексов в области 100 кэВ [4, 12, 16], а также многих областей между 120 и 370 кэВ [30, 31]. Математический аппарат из работы [29] может быть использован для расчета формы линий рентгеновского излучения при анализе области энергии 100 кэВ.