Добавил:
ssau.ru Доцент на кафедре информационных систем и технологий Самарского национального исследовательского университета имени академика С. П. Королёва. До 2017 года был доцентом по совместительству. До 2017 г. научный сотрудник лаборатории моделирования и автоматизации Самарского филиала Физического института им. П. Н. Лебедева РАН. Сейчас я там - инженер на пол-ставки. К. т. н. с 2005 г. Области научных интересов: измерения геометрических величин оптическими методами (дефлектометрическая триангуляция или триангуляционная дефлектометрия (?)) и др. Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Заякин О А - Автоматизация оптических измерений - у.doc
Скачиваний:
33
Добавлен:
23.01.2018
Размер:
11.02 Mб
Скачать

1.7 Сравнительный анализ кругломеров различного типа

В настоящее время на большинстве предприятий подшипниковой промышленности России рассматриваемые измерения проводятся контактным методом. В них часто используют, например, кругломер Talyrond-51 («RankTaylorHobsonLtd.», Великобритания). В таблице 5 приведены основные технические параметры контактных кругломеров.

Цифрами в таблице 5 отмечены колонки с данными, соответствующими следующим приборам: 1 ‑ Талиронд 73; 2 ‑ Талиронд 300; 3 ‑ Талисента 1, все ‑ разработки фирмыRankTaylorHobsonltd" (Великобритания ‑ Нидерланды); 3 ‑ измеритель формыF2P, разработка фирмы "Feinpruf Gmbh" (Германия).

Таблица 5 ‑ Параметры контактных профилометров

Наименование параметра

1

2

3

4

Габариты измеряемых деталей, мм:

внешняя поверхность

до 356

до 300

до 440

до 1000

внутренняя поверхность

2 ‑ 356

2 ‑ 200

2 ‑ 440

10 ‑ 1000

длина

до 400

до 500

до 500

до 320

Точность вращения шпинделя, мкм

0,05

0,025

0,1

‑‑‑

Скорость вращения при измерении (при центрировании), оборотов в минуту

6 (36)

0,6 ‑ 10

2 (6)

4

Пределы измерения, мм

‑‑‑

до 2

‑‑‑

до 2

Разрешение:

по высоте микронеровностей, мкм

‑‑‑

0,01

‑‑‑

0,015

по углу поворота, угловые секунды

‑‑‑

1,5

‑‑‑

‑‑‑

Основная погрешности измерения:

высот микронеровностей

‑‑‑

‑‑‑

‑‑‑

2%, 1 нм

формы

‑‑‑

0,5 мкм на 500 мм длины

‑‑‑

0,5 мкм на 120 мм длины

среднего радиуса

‑‑‑

‑‑‑

‑‑‑

0,02 ‑ 1%

Температурная погрешности, нм на градус

‑‑‑

‑‑‑

‑‑‑

4

В настоящее время существуют средства активного контроля дефектов формы, то есть, применяемые в процессе шлифования рабочих поверхностей деталей. Это, например, разработки фирмы «Юнкер» (Германия), или фирмы «Ренишоу» (Россия, г. Москва). Эти системы основаны на контактных датчиках. Их естественным недостатком является низкое быстродействие, которое намного снижает производительность.

В настоящее время существуют также оптические приборы для рассматриваемых задач в лабораторных условиях (см, напр., [14]). Они основаны на интерферометрических методах. Недостатки этих методов: сложность обработки входного сигнала; сложность адаптации системы при переходе к контролю поверхностей другой геометрической формы, например, при переходе с торической формы на коническую [15].

АС, описанная в данном практикуме, свободна от этих недостатков. Поэтому способ, лежащий в ее основе, имеет более благоприятные предпосылки к применению в системах активного контроля. Этому способствует и простота предварительной обработки входного сигнала, что допускает проведение этой операции аналоговым способом. Благодаря этому допустимо создание систем активного контроля, гораздо более быстродействующих, чем существующие системы, что является актуальной задачей.