- •Цели патентного исследования в зависимости от этапа освоения объекта техники
- •Виды патентных документов
- •3. Патентная информация ее назначение, и преимущества, характеристика
- •4. Задание на проведение патентного исследования (характеристика отражаемой информации). Календарный план.
- •5. Основные определения: автор, патентообладатель, изобретение, патентоспособность, заявка на выдачу патента, патент, юридический статус патента, приоритет.
- •6.Регламент патентного поиска: назначение, основные рубрики, правила оформления.
- •8. Принципы систематизации собранной патентной информации для анализа.
- •9. Целевые группы потребителей патентной информации
- •10. Источники непатентной информации: классификация, обоснование выбора источников
- •12. Международная патентная классификация: назначение, архитектоника классификации индексов мпк.
- •13.Выявление патентов-аналогов.
- •14. Предмет патентного поиска в зависимости от объекта техники (устройство, процесс, вещество).
- •15.Принцип иерархии индекса мпк.
- •16.Виды патентного поиска.
- •17.Определение структуры взаимного патентования.
- •18. Патент на изобретение – характеристика документа, срок действия. Содержание библиографии патента и реферата патента.
- •19. Патент на изобретение – характеристика документа, срок действия.Содержание описания патента
- •21. Патент на полезную модель – характеристика документа, срок действия. Содержание библиографии патента.
- •22. Определение тенденций развития области техники на основе патентных исследований.
- •23. Патент на промышленный образец – характеристика документа, срок действия. Особенности патентной документации для промышленного образца.
- •24. Составление модели прогнозируемой технической области или вида техники.
- •25. Определение перспективности отдельных направлений техники
- •26. Возможности патентной базы данных епв.
- •27. Определение технического уровня разработок на основе патентных исследований
- •28. Возможности патентной базы фипс
- •29.Корпоративное досье на основе патентной информации : назначение и структура
- •30. Стратегия тематического поиска.
- •31. Стратегии управления на основе патентной информации
- •32.Стратегия именного (фирменного) поиска.
- •33. Патентная информация в вопросах управления кадрами
- •34. Возможность использования патентной информации в конкурентной разведке
- •35. Возможности патентной базы данных сша. Алгоритм поиска.
- •36. Патентные базы Китая. Возможности и алгоритмы поиска
- •37. Возможности патентной базы данных воис. Алгоритм поиска
- •38. Возможности патентной базы данных Японии
23. Патент на промышленный образец – характеристика документа, срок действия. Особенности патентной документации для промышленного образца.
В качестве промышленного образца охраняется художественно-конструкторское решение изделия промышленного или кустарно-ремесленного производства, определяющее его внешний вид. К существенным признакам промышленного образца относятся признаки, определяющие эстетические и (или) эргономические особенности внешнего вида изделия, в частности форма, конфигурация, орнамент и сочетание цветов. Промышленный образец является новым, если совокупность его существенных признаков, нашедших отражение на изображениях изделия и приведенных в перечне существенных признаков промышленного образца, не известна из сведений, ставших общедоступными в мире до даты приоритета промышленного образца. Промышленный образец признается оригинальным,если его существенные признаки обуславливают творческий характер особенностей изделия. Срок действия патента на промышленный образец - 15 лет + продление на 10 лет.
24. Составление модели прогнозируемой технической области или вида техники.
Моделирование начинается с декомпозиции объекта на функциональные подсистемы, кот в свою очередь разбивают на компоненты. За основу принимают принцип действия/конструктивные особенности. После систематизации информации по различным структурным элементам модели проводится выявление целей, входящих в информационный массив. В качестве целей при этом должны быть использованы конкретные направления совершенствования различных характеристик соответствующего элемента. Результаты заносят в таблицу «Матрица Цель-Средство». Данная табл позволяет на основе подсчета кол-ва тех решений, относящихся к каждой цели провести ранжирование целей по их значимости. Как правило, чем чаще совершается улучшение какого-либо тех-эк показателя на протяжении длительного промежутка времени, тем в большей степени улучшение этого параметра отвечает действительной потребности
25. Определение перспективности отдельных направлений техники
26. Возможности патентной базы данных епв.
Сеть патентной информации esp@cenet создана Европейским патентным ведомством и насчитывает в своем составе более 37 серверов. Сервер Российского патентного ведомства хранит информацию о патентных документах Российской Федерации и обеспечивает их поиск и отображение. Сервер также дает возможность доступа с интерфейсом на русском языке ко всемирной базе патентной информации и к патентным фондам различных стран и международных организаций.
БД Esp@cenet содержит крупнейшую в мире (более чем из 72 стран и организаций мира) коллекцию патентных документов, включающую практически полные собрания документов ведущих стран, в том числе США, большинства европейских стран, ЕПВ и РСТ, и все имеющие англоязычную библиографию документы Японии. Базы данных ЕПВ содержат 66 млн. патентных документов.
БД Esp@cenet представляет собой реферативную базу данных, т. е. поиск информации в ней возможен только по библиографическим данным и рефератам, содержащимся на титульных страницах патентных документов мировой коллекции. Визуальное представление найденных в результате такого поиска документов возможно либо в факсимильном, либо в полнотекстовом формате с чертежами.
Интерфейс БД может быть представлен на трех языках: английском, немецком и французском (выбор языка — вверху поисковой страницы). В любом случае ключевые слова для поиска из названия и реферата должны вводиться только на английском языке.
Полные тексты документов из списка найденных представляются на языке оригинала.
Данная база предлагает 4 вида поиска:
Быстрый поиск |
Используется для осуществления поиска по ключевым словам, имени изобретателя или названию фирмы |
Расширенный поиск |
Используется для более сложного поиска с использованием дополнительных исходных данных |
Нумерационный поиск |
Используется, когда известен номер публикации, заявки или приоритетного документа |
Классификация ECLA |
Поиск по системе патентной классификации ЕПВ |
Критерии поиска можно задавать как на русском, так и на английском языке.