- •Методические указания
- •«Исследование диодов»
- •Сызрань 2010
- •Сведения из теории проводимость полупроводников
- •2.1 Общие сведения о полупроводниках
- •2.2 Собственная проводимость полупроводников
- •2.3 Примесная проводимость полупроводников
- •2.4 Электронно-дырочный переход
- •2.4.1 Образование и равновесное состояние р-n перехода
- •2.4.2. Энергетическая диаграмма р-n перехода
- •2.4.3 Формулы для диффузионного и дрейфового токов
- •2.5 Электронно-дырочный переход при включении внешнего напряжения
- •2.5.1 Прямое включение р-n перехода
- •2.5.2. Обратное включение р-n перехода
- •2.6 Инжекция неосновных носителей
- •2.7. Вольт-амперная характеристика идеального р - n перехода
- •2.8 Отличие вольт-амперной характеристики
- •2.9 Виды пробоя р-n перехода
- •2.10 Емкость р-n перехода
- •2.11. Эквивалентная схема р-n перехода
- •Полупроводниковые диоды
- •3.1. Классификация полупроводниковых диодов
- •3.2 Устройство полупроводниковых диодов
- •3.3. Основные общие параметры диодов
- •3.4. Типы полупроводниковых диодов
- •3.4.1. Выпрямительные диоды
- •3.4.1.1 Вольт-амперные характеристики выпрямительных диодов
- •3.4.1.2 Влияние температуры и проникающей радиации на характеристики и параметры диодов
- •3.4.2. Универсальные (высокочастотные) диоды.
- •3.4.3. Сверхвысокочастотные диоды
- •3.4.4. Переключательные p-I-n диоды
- •3.4.5. Варикапы
- •3.4.6. Импульсные диоды
- •3.4.7. Туннельные и обращённые диоды
- •3.4.8. Стабилитроны и стабисторы
- •3.4.9. Фотодиоды
- •3.4.10. Излучательные диоды
- •Выполнение лабораторной работы на лабораторном стенде «тэц и оэ – нрм» Перечень используемых минимодулей
- •Порядок выполнения работы
- •Выполнение лабораторной работы на лабораторном стенде 17д – 01.
- •Порядок выполнения работы.
- •Содержание отчета.
- •Контрольные вопросы.
- •Литература.
3.4.1.1 Вольт-амперные характеристики выпрямительных диодов
Вольт-амперные характеристики выпрямительных диодов аналогичны реальной характеристике р-n перехода. Объясним вначале физический ход, например, вольт-амперной характеристики кремниевого диода, показанной на рис. 3.5 сплошной линией. При напряжении внешнего источника, равном нулю U=0, р-n переход находится в равновесном состоянии, т.е. в термодинамическом равновесии и через него протекают равные и противоположно направленные токи Iдиф и Iпров, поэтому Iр-n = Iдиф - Iпров=0.
Рис. 3.5
При подаче прямого внешнего напряжения возникает электрическое поле источника, направленное навстречу диффузионному полю, при этом потенциальный барьер понижается, ширина и сопротивление р-n перехода уменьшается, однако при Uпр < Uко потенциальный барьер ещё не скомпенсирован, поэтому препятствует (оказывает сопротивление) роста току, в результате прямой ток растет сравнительно медленно, по экспотенциальному закону (участок ОА).
При Uпр > Uко потенциальный барьер оказывается скомпенсированным, т.е. сопротивление р-n перехода становится равным нулю, поэтому при дальнейшем увеличении прямого напряжения прямой ток возрастает линейно, подчиняясь закону Ома и ограничиваясь только величиной распределенного сопротивления области rБ, т.е.
,
(участок АВ характеристики).
При некотором значении Uпр (точка В) прямой ток достигает такой величины, при корой наступает тепловой пробой р-n перехода (участок ВС).
При подаче обратного напряжения возникает поле источника, направленное согласно с диффузионным полем, поэтому потенциальный барьер повышается, ширина и сопротивление р-n перехода увеличивается, поэтому через р-n переход протекает очень небольшой обратный ток, увеличивающийся по мере увеличения обратного напряжения, главным образом за счет тока утечки по загрязнённой поверхности р-n перехода (участок ОД).
При достаточно высоком Uобр (точка Д) наступает электрический пробой, который может перерасти в тепловой.
Ход характеристики германиевого диода объясняется аналогично, она показана на рис. 3.5. пунктиром и имеет следующие отличия от вольт-амперной характеристики кремниевого-диода:
меньшее прямое падение напряжения при равных прямых токах (примерно в 1.5…2 раза);
большой обратный ток;
меньшую величину обратного напряжения пробоя.
Все перечисленные отличия являются следствием меньшей ширины запрещенной зоны W германия (0,72 эВ), по сравнению с кремнием (1.12 эВ), а следовательно, и меньшей величиной прямого и обратного сопротивлений.
3.4.1.2 Влияние температуры и проникающей радиации на характеристики и параметры диодов
На характеристики и параметры полупроводниковых диодов сильное влияние оказывает температура окружающей среды. С увеличением температуры интенсивнее становится процесс терморегуляции пар носителей (увеличивается собственная проводимость полупроводника), что приводит к увеличению очень незначительно, т.к. определяется в основном примесной проводимостью, поэтому прямая ветвь, вольт-амперной характеристики диода незначительно смещается влево (или вверх) и становится более крутой. На рис. 3.6 для сравнения показаны характеристики германиевого (рис 3.6а) и кремниевого (рис 3.6б) диодов, имеющих одинаковую конструкцию.
Рис. 3.6
В инженерной практике для приблизительной оценки считают, что с увеличением температуры обратный ток германиевых диодов возрастает в два раза, а кремниевых - в два с половиной раза с увеличением температуры на каждые 10 0 С. Поэтому обратная ветвь вольт-амперных характеристик, особенно германиевых диодов, у которых большой начальный ток резко смещается вниз.
Напряжение обратного пробоя у германиевых диодов с повышением температуры окружающей среды уменьшается. Это объясняется тем, что пробой у них, как правило, бывает тепловым (потому что велик обратный ток, разогревающий р-n переход). Поэтому с повышением температуры уменьшается величина мощности, отдаваемая р-n переходом в пространство, температура перехода повышается, в результате уменьшается напряжение теплового пробоя ( Рмакс = IобрUобр).
Напряжение же пробоя кремниевых диодов с повышением температуры увеличивается, поскольку главную роль у них играет не тепловой, а лавинный пробой. Так как с повышением температуры уменьшается длина свободного пробега носителей заряда (свободному пробегу носителей препятствует хаотическое движение), то для возникновения лавинного пробоя необходимо увеличить напряжение поля, а следовательно, и обратное напряжение для того, чтобы электрон на меньшем пути приобрёл энергию, достаточную для ионизации.
Увеличение прямого и обратного токов с увеличением температуры приводит к увеличению крутизны вольт-амперной характеристики диода и уменьшению его дифференциального сопротивления.
На характеристики и параметры полупроводниковых диодов существенное влияние оказывает также проникающая радиация.
Изменение свойств полупроводниковых диодов при радиоактивном облучении носят временный и постоянный характер. Временные изменения обусловлены ионизацией атомов, а постоянные (остаточные) – превращениями и перемещениями атомов в элементах конструкции приборов. В результате изменяется величина, а иногда и тип проводимости, увеличиваются прямые и особенно обратные токи р-n перехода.
Устойчивые остаточные изменения в полупроводниковых диодах возникают при действии нейтральных потоков порядка 1011…1013 нейтрон/см2, при потоках 1013…1015 нейтрон/см2, происходит полная потеря работоспособности диодов.
Воздействие - излучения вызывает, главным образом, временные изменения свойств диодов. При этом в момент действия потоков - излучения с уровнем порядка 106…108 р/с происходит резкое уменьшение обратных сопротивлений р-n переходов и они теряют свои выпрямительные свойства.
Восстановление выпрямительных свойств р-n переходов происходит в течении 50…300 мс после прекращения действия - лучей в зависимости от интенсивности радиации и типа прибора.