- •Вступ розділ і. Фізичні властивості телуриду кадмію
- •1.1. Зонна структура CdTe
- •1.2. Точкові дефекти у сполуках аii вvi
- •1.3. Вплив точкових дефектів на електричні властивості
- •1.4.2. Фотолюмінесценція монокристалів CdTe
- •Розділ іі. Експериментальна частина. Дослідження фізичних властивостей напівізолюючих монокристалів СdTe:Cl
- •2.1. Технологія вирощування кристалів
- •2.2. Методи легування телуриду кадмію
- •Методики досліджень монокристалів телуриду кадмію
- •Дослідження фотолюмінесценції
- •Визначення елементного складу методом рентгенівського міколаналізу.
- •2.4. Результати досліджень та їх обговорення
- •Додаток Правила техніки безпеки
- •Основні правила техніки безпеки при експлуатації електроустановок:
- •Основні правила техніки безпеки при роботі із зрідженими газами:
- •Основні правила техніки безпеки при роботі із джерелами оптичного випромінювання:
- •В аптечках для надання першої медичної допомоги повинні бути:
2.2. Методи легування телуриду кадмію
На даний момент існують такі методи легування напівпровідникових монокристалів:[22]
Легування вже вирощених кристалів.
Легування кристалів в процесі вирощування з рідкої фази.
Легування кристалів в процесі вирощування з газової фази.
Перший метод практично не застосовується для монокристалів телуриду кадмію, тому детальніше розглянемо легування у процесі вирощування з рідкої та твердої фази.
При вирощуванні з роплаву широко використовується додавання домішки до вихідних компонентів розплаву. Загальні принципи такого легування полягають в наступному. Наважку домішки рі, що підлягає введенню в розплав для отримання в твердому кристалі концентрації Ni, розраховується з формули, яка визначає коефіцієнт розділення домішки :
,
, (2.7)
де – атомна маса домішкового компонента, – стала Авогадро, – об’єм розплаву.
При виборі домішок для легування необхідно враховувати величину коефіцієнту розділення і його зміну при зміні умов вирощування. Крім того, важливим є врахування чистоти домішки, оскільки попадання в вирощуваний кристал разом з легуючою домішкою неконтрольованих домішок навіть в дуже малих дозах призводить до значного погіршення параметрів кристалів.
Принциповим моментом при легуванні є однорідність розподілу домішок по всьому об’єму кристала. Як відомо[22], неоднорідності поділяються на сегрегаційні та технологічні. Відповідно до них існують методи досягнення однорідності. Для вирівнювання сегрегаційних неоднорідностей існують пасивні та активні методи.
В першому випадку монокристали з заданою однорідністю розподілу домішок отримують без внесення будь-яких змін в кристалізаційний процес, тобто використовують частини кристалу з приблизно рівномірним розподілом домішки. При вирощуванні легованих кристалів методом нормальної напрямленої кристалізації склад вихідного розплаву зазвичай задають так, щоб потрібна концентрація домішки вийшла в початку злитка. Даний метод є малоефективним, проте простим у використанні.
Під активними методами розуміються такі, які дозволяють активно впливати на хід процесу легування під час росту, тобто, дозволяють «програмувати» процес зміни складу. Вони поділяються на дві великі групи:
Методи, в яких ціллю підтримки концентрації домішки в розплаві на протязі всього процесу росту монокристалу постійно проводять так зване «підживлення» розплаву або нелегованою твердою, рідкою чи газоподібною фазою (якщо К<1), або фазою, яка містить легуючу домішку (якщо К>1). В цих методах в процесі кристалізації повинні виконуватись наступні вимоги: CL = const, K = const, V = const, CS = KCL = const. Система процесу вирощування однорідного кристалу в найзагальнішому виді включає в себе наступні елементи: вирощуваний кристал, розплав і поступаючу в нього підживлюючу масу.
Методи, в яких змінюються самі умови росту монокристалів. Прицеси вирощування однорідних кристалів цими методами протікають при наступних умовах: CL = const; K = const; f = const; CS = KнCн; L = KкCкL = const, де н – початок, к – кінець. При цьому програма зміни кристалізаційного процесу забезпечує постійність швидкості захоплення домішки на протязі всього процесу вирощування монокристалу.
У ряді випадків для отримання матеріалу з необхідними властивостями слід вирощувати сильно леговані напівпровідники. Тому важливим є знання максимальної розчинності СSmax домішок в матеріалі. Під цим терміном розуміють концентрацію домішки в насиченому твердому розчин, утвореному основною речовиною і даною домішкою. Якщо концентрація домішки в напівпровіднику менша СSmax, то в вирощеному кристалі з’являються структурні порушення, наприклад, макроскопічні частини іншої фази, що супроводжується різким ростом, в першу чергу, густини дислокацій. При легуванні кристалів великими концентраціями домішок важливо мати «запас» в розчинності, щоб убезпечити кристал від виникнення подібних структурних порушень