Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
УМК САЭУ_.doc
Скачиваний:
215
Добавлен:
02.04.2015
Размер:
27.98 Mб
Скачать

Вопросы для самопроверки

1. Как классифицируются схемы включения транзистора?

2. Что такое первичные параметры транзистора?

3. Чем обусловлено использование первичных параметров для анализа и расчёта транзисторов?

4. Что необходимо учитывать при составлении схем замещения транзис-тора?

5. Что такое коэффициенты усиления по току для включений транзисто-ра с ОБ и ОЭ?

6. Какая из схем включения транзистора имеет наибольший коэффици-ент усиления по току?

7. Какая схема не усиливает ток?

3.2.4. Обеспечение и стабилизация режима работы транзисторов по постоянному току

По разделу 3.2.4. предусмотрен тест № 4 текущего контроля и одно прак-тическое занятие.

При изучении раздела 3.2.4. необходимо запомнить способы осуществле-ния смещения на базу транзистора и хорошо себе представлять схемы коллек-торной и эмиттерной стабилизации исходного режима транзистора.

3.2.4.1. Основные способы осуществления исходного режима транзистора

Исходный режим транзистора характеризуется напряжением питания коллекторной цепи Ек, исходным коллекторным током Iк0, напряжением сме-щения базы Uбэ0 (Ебэ0) и исходным током базы Iб0.

Напряжение Ек подаётся от источника питания непосредственно или че-рез развязывающий фильтр. В пределах рабочей области характеристик оно не оказывает существенного влияния на величину исходного коллекторного тока Iк0, которая определяется, в основном, напряжением смещения Uб0 и соответ-ствующим исходным током базы Iб0.

Требуемый исходный режим цепи базы целесообразно осуществлять за счёт источника питания коллекторной цепи, так при этом можно обойтись од-ним общим источником питания каскада. При этом основными способами осу-ществления смещения базы являются: а) смещение фиксированным током базы; б) смещение фиксированным напряжением базы.

Схема смещения фиксированным током базы приведена для включения ОЭ на рис. 4.1. Смещение осуществляется здесь посредством резистора R0, об-разующего для постоянного тока цепь R0 и сопротивление участка база-эмит-тер (rбэ0). При этом ток базы

, (4.1)

где Uб0 – напряжение смещения, создаваемое током Iб0 на сопротивлении база- эмиттер rбэ0 постоянному току.

Так как Uбэ0 << Ек, то , то есть ток базы Iб0 действительно являет-ся фиксированным, поскольку он практически не зависит от параметров тран-зистора.

Схема смещения фиксированным напряжением приведена на рис. 4.2. Из схемы видно, что в данном случае смещение осуществляется посредством дели-теля Ra, Rb. При этом

; (4.2)

. (4.3)

Так как ток делителя Iдел выбирается значительно большим, чем ток базы Iб0, то

. (4.4)

Решая (4.4) и (4.2) относительно Uбэ0, находим

,(4.5)

то есть напряжение Uбэ0 действительно является фиксированным, поскольку оно практически не зависит от параметров транзистора.

Дестабилизирующие факторы

Смещение фиксированным напряжением или током в своём чистом виде мало пригодно для использования в серийной аппаратуре, т.к. при изменении температуры окружающей среды, питающего напряжения или при замене тран-зистора выбранный исходный режим его работы может существенно нару-шаться.

Сильное влияние оказывают изменения температуры, что объясняется значительной температурной зависимостью параметров транзистора. Известно, что при повышении температуры выходной ток транзистора увеличивается, а при понижении – уменьшается. Так как изменения температуры окружающей среды происходят весьма медленно, они вызывают изменения исходного посто-янного тока и приложенного к транзистору напряжения, что может привести к уменьшению усиления и большим нелинейным искажениям.

Сказанное поясняется рис. 4.3, на котором представлено положение ис-ходной рабочей точки (р.т.) каскада ОЭ для значений Iк0 и Uкэ0, относящихся соответственно к номинальной температуре t0 (рис.4.3, а), минимальной tmin < t0 (рис.4.3, б) и температуре tmax > t0 (рис. 4.3, в). При этом предполагается, что во всех случаях Ек = const, Rк =const, Iб0 = const. Очевидно, что при тех же преде-лах изменения входного тока iб в случаях, соответствующих рис. 4.3, б и в, должны возникать значительные нелинейные искажения из-за отсечки коллек-торного тока (рис. 4.3, б) или коллекторного напряжения (рис. 4.3, в).

Кроме того, увеличение коллекторного тока при повышении температуры может получить лавинообразный характер, т.к. увеличение тока сопровождает-ся дальнейшим повышением температуры. При этом коллекторный ток превы-шает допустимое значение и транзистор выходит из строя.

Из сказанного следует, что для стабилизации выходного тока необходимо изменять по определённому закону в зависимости от температуры параметры Iб0 и Uбэ0.

Независимо от схемы включения транзистора (ОБ, ОЭ, ОК) мерой темпе-ратурной нестабильности его исходного режима является степень изменения выходного тока.

Изменение выходного тока вызывается следующими основными фактора-ми, действующими при колебаниях температуры окружающей среды:

а) изменение начального (теплового) тока коллектора Iкн;

б) изменение падения напряжения на эмиттерном p-n – переходе Uэ;

в) изменение коэффициента усиления по току  и .

Указанные дестабилизирующие факторы могут быть определены следу-ющим образом. Начальный коллекторный ток Iкн при температуре t, обу-словленный, в основном, концентрацией неосновных носителей, может быть определён для германиевых транзисторов из выражения

(4.6а)

для кремниевого транзистора

. (4.6б)

Эти выражения получаются на основе решения диффузионного уравне-ния полупроводникового диода. Из приведённых выражений видно, что ток Iкн удваивается (для германиевых транзисторов) или утраивается (для кремние-вых) при повышении температуры на каждые десять градусов. Для кремниевых транзисторов величина Iкн значительно меньше, чем для германиевых.

При прохождении тока через эмиттерный p-n – переход на его границах устанавливается разность потенциалов (потенциальный барьер), определя-емая соотношением граничных концентраций носителей тока. Эта разность по-тенциалов препятствует прохождению тока, поэтому она может рассматривать-ся как падение напряжения на эмиттерном p-n – переходе.

Может быть показано, что величина Uэ падает по мере повышения тем-пературы, причём её изменение происходит приблизительно пропорционально температуре, составляя как для германиевых, так и для кремниевых транзис-торов около 2,0…2,5 мВ/град.

Таким образом, в соответствии с [1], температурное изменение напряже-ния на эмиттерном p-n – переходе

Uэ =  (2,0…2,5)10-3t В. (4.7)

Коэффициент усиления по току значительно увеличивается при повы-шении температуры, в основном, вследствие увеличения времени жизни не-основных р носителей тока. Соответственно увеличивается и коэффициент усиления .

Экспериментально полученные зависимости для транзисторов различных типов приводятся в справочниках. Из этих данных следует, что ве-личина/ имеет порядок 0,01…0,03 на 1С.