- •Общие указания Охрана труда и техника безопасности при проведении лабораторных работ
- •Требования к оформлению отчетов
- •Библиографический список
- •Обработка результатов измерений
- •Правила обработки результатов прямых Измерений
- •I. Учет случайных составляющих неопределенности (погрешности)
- •II. Учет неопределенностей, обусловленных систематическими ошибками
- •III. Промахи
- •IV. Доверительный интервал в общем случае
- •Обработка результатов косвенных измерений
- •Работа 60: резонанс в электрическом колебательном контуре
- •1. Цель работы
- •2. Основные теоретические положения
- •Принцип метода измерений и рабочая формула
- •Измеряемый объект
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Вычисления и обработка измерений
- •8. Контрольные вопросы
- •Работа 61. Измерение диэлектрической восприимчивости вещества методом резонанса в колебательном контуре
- •1. Цель работы
- •2. Основные теоретические положения
- •3. Измеряемый объект
- •4. Метода измерений, схема установки и рабочая формула
- •5. Порядок выполнения работы
- •6. Контрольные вопросы
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого явления
- •3. Принцип метода измерений и рабочая формула
- •4. Измеряемый объект
- •5. Экспериментальная установка в статике и динамике
- •6. Порядок выполнения работы
- •6. Контрольные вопросы
- •Работа 63. Определение показателя преломления стекла интерференционным методом
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого явления
- •3. Принцип метода измерения и рабочая формула
- •4. Измеряемый объект
- •5. Экспериментальная установка
- •6. Порядок выполнения работы
- •7. Наставление по обработке результатов и выводу формул
- •8. Контрольные вопросы
- •Работа 64. Определение длины волны излучения лазера при помощи бипризмы френеля
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого явления
- •3. Измеряемый объект
- •4. Принцип метода измерения
- •5. Экспериментальная установка в статике и динамике
- •6. Порядок выполнения работы
- •7. Обработка результатов измерений
- •8. Контрольные вопросы
- •Работа 65. Определение радиуса кривизны линзы при помощи наблюдения интерференционной картины «кольца ньютона»
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого явления
- •3. Принцип метода и рабочая формула
- •4. Измеряемый объект
- •5. Описание лабораторной установки
- •6. Порядок выполнения работы
- •7. Обработка результатов измерений
- •8. Контрольные вопросы
- •Работа 66. Исследование дисперсии света на стеклянной призме
- •1. Цель работы
- •2. Основные теоретические положения
- •3. Принцип метода измерения и рабочая формула
- •4. Измеряемый объект
- •5. Установка в статике
- •6. Настройка спектроскопа (установка в динамике)
- •7. Порядок выполнения работы
- •8. Контрольные вопросы
- •Работа 67. Исследование спектра ртутной лампы при помощи дифракционной решетки
- •1. Цель работы
- •2. Основные теоретические положения
- •3. Измеряемый объект
- •4. Описание лабораторной установки
- •5. Порядок выполнения работы
- •6. Контрольные вопросы
- •Работа 68. Изучение дифракционной решетки и определение длин волн линий ртути
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого явления
- •3. Измеряемый объект
- •4. Принцип метода и рабочая формула
- •5. Экспериментальная установка
- •6. Порядок выполнения работы
- •7. Обработка результатов измерений
- •8. Контрольные вопросы
- •Работа 69. Определение длины световой волны лазера с помощью дифракционной решетки
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого вопроса
- •3. Измеряемый объект
- •4. Принцип метода измерения и рабочая формула
- •5. Экспериментальная установка в статике и динамике
- •6. Порядок выполнения работы
- •7. Обработка результатов измерений
- •8. Контрольные вопросы
- •Работа 70. Изучение дифракции фраунгофера на одной и двух щелях
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого явления
- •3. Принцип метода измерения и рабочая формула
- •4. Измеряемый объект
- •5. Экспериментальная установка
- •6. Порядок выполнения работы
- •8. Наставление по обработке результатов и выводу формул
- •9. Контрольные вопросы
- •Работа 71. Измерение степени поляризации частично поляризованного света
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого явления
- •3. Экспериментальная установка для измерения степени поляризации частично поляризованного света в статике
- •4. Принцип метода измерения (действия установки) и рабочая формула
- •5. Порядок выполнения работы
- •6. Контрольные вопросы
- •Работа 72. Изучение поляризации света
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого явления
- •3. Принцип метода измерения и рабочая формула
- •4. Измеряемый объект
- •5. Экспериментальная установка
- •6. Порядок выполнения работы
- •8. Наставление по обработке результатов и выводу формул
- •9. Контрольные вопросы
- •Работа 73. Ознакомление с работой газового лазера
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого явления
- •3. Принцип метода измерения и рабочие формулы
- •4. Измеряемый объект
- •5. Экспериментальная установка в статике и динамике
- •6. Порядок выполнения работы
- •7. Обработка результатов измерения
- •8. Вопросы для проверки
- •Работа 74. Измерение глубины царапин и высоты выступов на поверхностипри помощи микроинтерферометра линника
- •1. Цель работы
- •2. Краткая теория исследуемого явления
- •3. Принцип метода измерения и рабочая формула
- •4. Измеряемый объект
- •5. Экспериментальная установка
- •6. Порядок выполнения работы Настройка микроинтерферометра
- •Измерения на интерферометре
- •Приближенное измерение глубины канавок
- •Измерение с помощью винтового окулярного микрометра мов-1-16х
- •Измерение величины интервала между полосами
- •Измерение величины изгиба полос
- •Вычисление высоты неровности
- •7. Наставление по обработке результатов и выводу формул
- •8. Контрольные вопросы
- •Содержание
5. Экспериментальная установка в статике и динамике
Для изучения работы газового лазера используется установка, схематическое изображение которой дано на рис. 5. Излучение He-Ne-лазера проходит через анализатор А и падает на отражательную дифракционную решетку Д. Дифракционные спектры наблюдаются на экранах Э1 и Э2. В положении максимума 2 порядка Э2 установлен фотодиод ФД. Сигнал с фотодиода идет на цифровой ампервольтметр.
Рис. 5.
6. Порядок выполнения работы
I.Определение длины волны излучения.
1. С помощью преподавателя включить питание лазера.
2. Вращением анализатора А добиться максимального значения фототока через фотодиод.
3. Произвести измерения расстояния L1 до первого экрана (рис.2). Данные занести в таблицу по форме 1.
4. Измерить координаты l+1 , l-1 и l+2 l-2 максимумов 1 и 2 порядков. Данные занести в таблицу по форме 1.
5. Повторить измерения по пп.3-4 для экрана 2.
II.Определение степени поляризации излучения.
-
Вращением поляризатора добиться максимального значения фототока. Значение занести в таблицу по форме 2.
-
Путем вращения поляризатора добиться минимального значения фототока. Значение занести в таблицу по форме 2.
-
Измерения по пп.1,2 повторить 3 раза. Данные занести в таблицу по форме 2.
7. Обработка результатов измерения
1. По формулам (4) и (5) рассчитать значения tg и sin для углов 1 и 2.
2. Найти значения длины волны излучения лазера по формуле (6).
3. По произведенным измерениям получается четыре значения длины волны He-Ne-лазера. Найти среднее значение и результат представить в виде:
4. Рассчитать степень поляризации излучения по формуле (7). Данные занести в таблицу по форме 2.
5. По данным таблицы по форме 2 найти среднее значение степени поляризации лазерного излучения и результат представить в виде:
Форма 1
№ опыта |
Расстояние от экрана 1 до дифракционной решетки L1, мм |
Координаты максимумов излучения в дифракционном спектре |
|||||||||
первый порядок |
sin |
tg |
второй порядок |
sin |
tg |
||||||
l+1 мм |
l-1 , мм |
l+2 мм |
l-2 , мм |
||||||||
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
2 |
|
|
|
|
|
||||||
3 |
|
|
|
|
|
||||||
Ср. |
|
|
|
|
|
||||||
|
Расстояние от экрана 2 до дифракционной решетки L2, мм |
первый порядок |
sin |
tg |
второй порядок |
sin |
tg |
||||
l+1 мм |
l-1 , мм |
l+2 мм |
l-2 , мм |
||||||||
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
2 |
|
|
|
|
|
||||||
3 |
|
|
|
|
|
||||||
Ср. |
|
|
|
|
|
Форма 2
№ опыта |
Максимальный фототок iф max, мА |
Минимальный фототок iф min, мА |
Степень поляризации, ή |
Абсолютная погрешность, |
1 |
|
|
|
|
2 |
|
|
|
|
3 |
|
|
|
|
Ср. |
|
|
|
|