- •1. Интегральная электроника: основные направления, особенности конструкций и технологии изделий.
- •2. Микроэлектроника: этапы развития, основные понятия.
- •3. Опто- и функциональная электроника.
- •4. Классификация имэ по конструкторско-технологическим и функциональным признакам.
- •5. Элементы полупроводниковых ис: структура и свойства биполярных и униполярных (полевых) транзисторов.
- •7. Планар техн-гия. Осн гр операций тп изгот-я изделий мэ
- •8.Особенности проектирования изделий микроэлектроники.
- •9. Подложки полупроводниковых и гибридных микросхем: материалы, методы получения и обработки.
- •11. Формирование пленочных структур методами испарения (термического и электронно-лучевого).
- •12. Формирование пленочных структур методами распыления (катодного, магнетронного, ионно-лучевого и др.).
- •13. Эпитаксиальное наращивание слоев. Назначение и виды полупроводниковых эпитаксиальных структур.
- •14. Формирование конфигурации пленочных элементов и окон в пленках (фото-, рентгено- и электронография, электронное фрезерование и др.).
- •15.Формирование областей с различными электрофизическими характеристиками: физические основы и особенности диффузионное и ионного легирования.
- •16. Технология диффузионного и ионного легирования пп подложек,
- •17. Придание материалам и элементам требуемых свойств термообработкой (отжиг пленок, вжигание контактов, активирующий
- •18. Основные этапы тп сборки и герметизации (разделение пластин на кристаллы, сварка, пайка, склеивание и др.).
- •19. Разделение пластин на кристаллы, корпусирование и сборка.
- •20. Основные виды контрольных и испытательных операций.
- •21. Основные операции типового тп изготовления ттлш сбис на
- •22. Типовой тп изготовления полупроводниковой ис на униполярных (полевых) транзисторах.
- •1. Что такое степень интеграции ис, чем она ограничивается?
- •2. В чем преимущества оптоэлектронных приборов перед приборами с электрическими связями?
- •3.Что дает применение базовых матричных кристаллов (бмк) при проектировании ис?
- •4. Какие методы удаления материала называются «сухими» и в чем их преимущества перед традиционными «мокрыми»?
- •5. Что положено в основу классификации изделий мэ по функциональным признакам?
- •6.Какие виды конденсаторных структур применяются в составе ис, в чем преимущества одних перед другими?
- •7.В чем отличие гомоэпитаксиальных структур от гетероэпитаксиальных, где применяются такие структуры?
- •8. Назовите преимущества униполярных транзисторных структур перед биполярными.
- •9. Почему в качестве базового конструктивного элемента ис принята транзисторная структура?
- •10. Какие виды резисторов применяются в составе ис, в чем преимущества одних перед другими?
- •11. Что является конечным продуктом проектирования имэ, что понимают под физической структурой ис.
- •12. Какие недостатки обычного термического испарения устраняются при использовании электронно-лучевого испарения?
- •13. Что скрывается за понятием «вакуумная гигиена», как она обеспечивается в производстве ис?
- •14. В чем сущность планарной технологии? Назначение входящих в нее основных операций.
- •15. На каких стадиях тп изготовления ис применяется обработка резанием?
- •16. Какие функции в составе приборов и в ходе тп изготовления ис играет SiO2?
- •17. Почему в современной технологии сбис все чаще SiO2 заменяют Si3n4?
- •18. Каким методом получают самый качественный по диэлектричес-ким свойствам оксид кремния?
- •19. Чем молекулярно-лучевая эпитаксия отличается от эпитаксии, основанной на газотранспортных реакциях?
- •20.Почему магнетронное распыление обеспечивает более высокую производительность при получении тонких пленок по сравнению с другими ионно-плазменными методами?
- •21.Какие материалы и почему используют для изготовления термических испарителей?
- •22.Функциональное назначение и основные характеристики фоторезистов.
- •23. Какие методы микролитографии применяются при изготовлении ис с топологическими размерами элементов меньшими 0,5 мкм?
- •24.Основные недостатки контактной литографии и способы их устранения?
- •25.На чем основан процесс диффузионного легирования, какие преимущества и недостатки этого метода?
- •26. Что кроется за понятиями «загонка» и «разгонка»?
- •27. На чем основан метод ионного легирования, какие недостатки термической диффузии он устраняет?
- •28. Почему электрический контроль кристаллов ис проводится на пластинах в неразделенном состоянии? Как его осуществляют?
- •29.Какие корпуса обеспечивают наилучшую защиту ис? Из каких элементов они состоят?
- •30. Почему метод сквозного прорезания имеет преимущества перед методами скрайбирования?
- •32.На каких стадиях тп изготовления ис применяются операции сварки, пайки и склеивания?
- •33. Назовите основные методы операционного и заключительного контроля в технологии ис.
- •34.Каким видам испытаний подвергаются полупроводниковые приборы и ис.
- •1. Интегральная электроника: основные направления, особенности конструкций и технологии изделий.
- •2. Микроэлектроника: этапы развития, основные понятия.
10. Какие виды резисторов применяются в составе ис, в чем преимущества одних перед другими?
Резисторы в ИС могут быть диффузионными на основе любой из структурных областей транзистора (рис.6,а) с контактами к ним и тонкоплен-ми (рис.1,б). 1-е имеют малые размеры и R = 25 Ом – 25 кОм. Их R выражается через поверхностное сопротивление материала ρٱ, длину L и ширину h:
Точность номинала диффузионных рез-ров ±(10-20)% и достаточно высокие рассеиваемая мощность и температурный коэффициент сопротивления αρ.
Резисторы полупроводниковых микросхем: а – диффузионный; б - тонкоплёночный (1 – диоксид кремния; 2 – алюминиевый контакт; 3 – кристалл кремния; 4 – плёнка нихрома).
Тонкопленочные резисторы представляют собой тонкую пленку резистивного материала на поверхности диэлектрической подложки. Тонкопленочные резисторы относительно нечувствительны к шероховатости поверхности до тех пор, пока она не превышает толщины пленки. Тонкопленочные резисторы сравнительно устойчивы к изменению температуры. Тонкопленочные резисторы имеют ρٱ=15-800 Ом, αρ= 5·10-4 К-1 (рис.1.6,б). В качестве резистивного материала используются высокоомные сплавы типа нихрома. У них лучшие изоляция от других элементов ИС и точность (±1% от номинала), меньшие размеры и паразитная емкость. Но необходимо вводить дополнительные операции в ТП. Целесообразны, если нужна стабильность, точность и большие R. Преимущества тонкопленочных резисторов перед полупроводниковыми заключается в их более низких температурных коэффициентах, более низкой шунтирующей емкости, большей точности, а также в возможности размещения их на меньшей площади и лучшей изоляции.
11. Что является конечным продуктом проектирования имэ, что понимают под физической структурой ис.
Высокая степень интеграции и функциональная сложность ИМЭ определяют соотв-но и значит-ую сложность процесса их проектирования. Конечным его продуктом явл-ся полный технологический маршрут изгот-ия изделия и проект полного набора шаблонов для формирования топологии элементов и их соединений. Технол-ие режимы оп-ций определяют распределение материалов в вертикальном сечении подложки, а рисунок шаблонов – по ее поверхности. Поскольку в процессе изгот-ия ИС в ппров-ке создается заданное распределение концентрации электрически активных примесей, определяющее геометрию p-n – переходов и границы электродных областей транз-ров, а также одновременно создаются контакты к электродным областям, управляющие электроды, межсоединения, изолирующие слои, то проект ИС содержит описание всей ее физической стр-ры.ИС высокой сложности обычно проектируют с прим-ем интерактивных систем автомат-ного проект-ния, в которых проект-щик принимает активное участие на всех этапах работы, привлекая ЭВМ к выпол-нию трудоемких расчетов. Т.е. в полной мере исп-ся творческие возможности человека. Однако распространены и САПР, ориент-ные на применение т.н. кремниевых компиляторов – пакетов прикладных программ, позволяющих получить проект физич-й стр-ры ПП ИС на основе абстрактного описания ее поведенческих свойств.
Развитие технологии и методов проектирования ИС сопровождается быстрым ростом их номенклатуры. Сдерживание этого роста осущ-тся программными способами, в первую очередь использованием микропроц-ных наборов, быстродействие которых несколько ниже, чем у узкоспец-ных ИС. Другим направлением универсализации явл-ся использование матричных ИС на основе базовых матричных кристаллов (БМК), допускающих выполнение до 103 различных функций. В соотв-ие с заказом потребителя эти элементы определенным образом связываются между собой электрически. Это осущ-ся с помощью тонкопленочной токопров-щей системы, конфигурация которой форм-ся т.н. заказным фотошаблоном (отсюда названия – заказная, полузаказная ИС). Для ИС на основе БМК характерна высокая однородность ТП и короткие сроки проект-ния. Соврем-ые ИС на БМК содержат до 2 107 вентилей (в каждом вентиле 4-12 эл-тов) с задержкой сигнала < 1 нс на вентиль и тактовой частотой сотни МГц.