- •Технологія одержання і застосування плівКових матеріалів
- •Проценко і.Ю., Шумакова н.І.
- •© І.Ю.Проценко, н.І Шумакова, 2008
- •Передмова...................................................................................... 7
- •Конструкції термовипарників та їх застосування……… 19
- •Передмова
- •1 Основи термодинаміки та кінетичної теорії газів
- •Рівноважний тиск пари
- •1.2 Розподіл атомів пари за швидкостями
- •1.3 Механізми випаровування рідин та твердих тіл
- •2 Конструкції термовипарників та їх застосування
- •2.1 Загальна інформація
- •2.2 Випаровування із дротів та металевої фольги
- •2.3 Випаровування із тиглів, матеріали тиглів
- •2.4 Випаровування матеріалів електронно-променевими методами
- •3 Вакуумно-плазмова технологія
- •4 Плазмові випарники
- •4.1 Випарники з випаровуванням матеріалу катода
- •4.2 Вакуумно-дугові випарники
- •4.3 Випарники з випаровуванням матеріалу анода
- •4.4 Електронно-променеві випарники
- •5 Метод іонного та реактивного розпилення
- •5.1 Іонне розпилення
- •5.2 Реактивне розпилення
- •6 Особливості випаровування сплавів та хімічних сполук
- •7 Методи контролю товщини плівок
- •7.1 Мікрозважування
- •7.2 Метод кварцового резонатора
- •7.3 Оптичні методи
- •7.4 Інші методи
- •8 Характеристика елемента карбону
- •9 Класифікація алотропів карбону
- •10 Фізичні властивості алотропів карбону
- •11 “Метастабільність алмазу” та шляхи його одержання
- •12 Хімічний синтез алмазу
- •13 До історії розвитку хімічного синтезу алмазу
- •14 Методи одержання алмазоподібних плівок
- •14.1 Термохімічні методи осадження
- •14.2 Електророзрядні методи
- •14.3 Комбіновані розряди
- •14.4 Методи одержання апп на атмосфері
- •15 Методи одержання гідрогенезованих
- •16 Методи одержання ультрадисперсних алмазів (уда) і наноалмазів (на)
- •17 Методи одержання
- •18 Хімічний склад і кристалічна структура
- •18.1 Нітрид титану
- •18.2 Карбід вольфраму
- •Задачі та вправи
- •19 Уявлення про адатом, кластер та критичний зародок
- •20 Залежність розміру критичного зародка від матеріалу плівки та підкладки
- •21 Механізми конденсації плівок, їх узагальнена діаграма
- •22 Чотири стадії росту плівки
- •22.1 Утворення острівців
- •22.2 Коалесценція острівців
- •22.3 Утворення каналів
- •22.4 Утворення суцільної плівки
- •23 Критична товщина і критична температура конденсації
- •24 Утворення дефектів у процесі росту плівки
- •24.1 Дислокації
- •24.2 Межі зерен
- •24.3 Шорсткість та пористість конденсатів
- •25 Епітаксіальний ріст плівок
- •25.1 Зародження епітаксіальних частинок
- •25.2 Механізми епітаксіального росту
- •26 Змінювання параметра решітки, псевдоморфний ріст плівок
- •27 Види спряжень кристалів при епітаксіальному рості
- •28 Субструктура полікристалічних плівок
- •29 Нанокристалічні та аморфні матеріали
- •30 Внутрішні макронапруження в конденсатах
- •30.1 Вплив температури підкладки
- •30.2 Причина виникнення макронапружень у
- •30.3 Вплив товщини плівок, швидкості конденсації та термообробки
- •30.4 Розрахунок величини st
- •30.5 Методи вимірювання s
- •Вплив іонного бомбардування підкладки на властивості плівок
- •32 Процес старіння в тонких плівках
- •Датчики температури із платини та нікелю
- •Термопари
- •Терморезистори із від’ємним і додатним
- •Кремнієві датчики
- •37 Датчики на основі металевої плівки
- •38 Термокондуктометричні та термохімічні
- •39 Тонкоплівкові газові датчики
- •40 Датчики вологості
- •41 Уявлення про тензоефект
- •42 Перетворення деформації тензорезистором
- •43 Передача деформації чутливому елементу
- •44 Металеві тензодатчики
- •45 Напівпровідникові та полімерні тензорезистори
- •46 Магніторезистивні датчики
- •47 Датчики Холла
- •Технологія одержання і застосування плівкових матеріалів
3 Вакуумно-плазмова технологія
Розглянуті вище та всі інші традиційні методи одержання тонких плівок базуються на взаємодії низькоенергетичних атомів теплової енергії Е=0,1 еВ з підкладкою. На відміну від них, сучасні плазмові методи напилення базуються на взаємодії з підкладкою високоенергетичних іонів плазми з енергіями Еі=1-104 еВ. Такі іони значно активізують процес конденсації плівки з плазми на поверхні твердого тіла (підкладки). Збільшується кількість центрів конденсації атомів робочої речовини на підкладці, зростають рухомість атомів та щільність їх упаковки, густина, теплопровідність та електропровідність плівки. Більше того, високоенергетичні іони робочої речовини здатні проникати вглибину підкладки, створювати перехідний шар із атомів робочої речовини та підкладки і таким чином забезпечувати високе зчеплення (адгезію) плівки з підкладкою. Доходить до того, що при намаганні відірвати плівку від підкладки руйнується сама підкладка, а не перехідний шар чи плівка. Отже, плазмова технологія тонких плівок якісно нова. Відбувається вона найчастіше у вакуумі 110-4 – 1 Па, тому здебільшого екологічно безпечна, на відміну від електролізу та інших хімічних методів одержання плівок. У вакуумі легко керувати енергією іонів та електронів плазми, тому доречно говорити про “вакуумно-плазмову технологію тонких плівок” на відміну від “плазмового напилення” покриття при атмосферних тисках плазмового потоку газу з порошком робочої речовини.
Плазма пари твердого тіла у вакуумі одержується за допомогою спеціальних пристроїв, серед яких найбільшого поширення набули плазмові випарники та магнетронні пристрої іонного розпорошення матеріалів. Усі вони використовують для генерації потоку плазми електричні розряди низького тиску.
Можливості вакуумно-плазмової технології значно зростають, якщо в потік пари робочої речовини додається хімічно активний газ (азот, кисень, метан, пропан, бутан). Такий метод називається реактивним вакуумно-плазмовим напиленням, коли одержуються не прості плівки, а нітриди, окисли, карбіди, бориди і т.д. В цьому випадку вакуумно-плазмові пристрої доповнюються натікачами хімічно активного газу (трубки, сопла, перфоровані трубчасті кільця тощо).
Частіше за все вакуумно-плазмові пристрої постачають на підкладку плазму з енергією іонів у одиниці-десятки електрон-вольтів ( Дж або 1 еВ еквівалентний температурі частинки в 11600 К). Проте існує різновид вакуумно-плазмових пристроїв, що генерують прискорені плазмові потоки з енергією іонів Е = 102-103 еВ. Такі пристрої мають ширші технологічні можливості, не потребують додаткового прискорення іонів на підкладку шляхом зміни її потенціалу і називаються “плазмовими прискорювачами з робочою речовиною у твердій фазі”.
Для вирішення конкретного технологічного завдання обирається найбільш достатній з перелічених вакуумно-плазмових пристроїв. Разом з тим поряд із пристроєм часто доводиться і вибирати конкретну послідовність технологічних операцій на пристрої та підкладку (технологічну карту процесу напилення).