Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Гаврилов Основы ядерной електроники ч.1 2010

.pdf
Скачиваний:
598
Добавлен:
16.08.2013
Размер:
5.76 Mб
Скачать

Министерство образования и науки РФ

НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЯДЕРНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ «МИФИ»

Л.Е. Гаврилов

ОСНОВЫ ЯДЕРНОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ

Часть 1

МОСКВА 2010

УДК 621.38:539.1(075) ББК 32.85я+22.38я7 Г12

Гаврилов Л.Е. Основы ядерной электроники. Ч.1: Учебное пособие. М.: НИЯУ МИФИ, 2010. – 164 с.

Учебное пособие представляет собой первую часть курса «Основы ядерной электроники» и содержит три главы.

В первой главе даются статистическое описание сигналов с детекторов излучений и обзор основных видов измерений в ядерно-физическом эксперименте. Во второй подробно рассматривается аналоговая обработка сигналов детекторов. Обсуждаются характеристики и схемотехника предварительных и формирующих усилителей, устройств защиты от перегрузок, линейных пропускателей и режекторов наложений импульсов. В третьей главе представлены схемы и приборы для амплитудных измерений и анализа: интегральные и дифференциальные дискриминаторы, спектрометрические амплитудно-цифровые преобразователи, интегрированные системы сбора данных, многоканальные амплитудные анализаторы, цифровые спектрометрические тракты. Приводятся сведения по современному серийно производимому оборудованию. При изложении материала большое внимание уделялось использованию современной элементной базы электроники.

Пособие предназначено для студентов дневного и вечернего отделений, специализирующихся по кафедре электроники.

Рецензент проф., д-р техн. наук Ю.А. Волков

Рекомендовано редсоветом НИЯУ МИФИ в качестве учебного пособия

ISBN 978-5-7262-1351-4

© Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2010

Редактор Е.Г. Станкевич

________________________________________________________________________________

Подписано в печать 12.10.2010.

Формат 60×84 1/16.

Печ. л. 10,25.

Уч.-изд. л. 10,25.

Тираж 150 экз.

Изд. № 076-1.

 

Заказ № 331

_______________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________________

_

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» Типография НИЯУ МИФИ. 115409, Москва, Каширское ш., 31

Оглавление

 

Глава 1. Основные виды измерений в ядерно-физическом

 

эксперименте и их особенности .............................................

5

1.1. Назначение и особенности ядерной электроники...................

5

1.2. Статистика сигналов ..................................................................

9

1.2.1. Случайные процессы при измерениях

 

в ядерно-физическом эксперименте ..................................

9

1.2.2. Свойства случайных потоков импульсов

 

(случайных процессов) ....................................................

13

1.2.3. Типовые распределения и их характеристики ..............

14

1.3. Основные виды измерений.....................................................

19

Глава 2. Аналоговая обработка сигналов детекторов излучений....

28

2.1. Оценка амплитуд сигналов с детекторов..............................

28

2.2. Характеристики и основные требования к аналоговым

 

устройствам спектрометрического тракта ............................

30

2.3. Виды усилителей для спектрометрических систем .............

35

2.4. Структурная схема амплитудного

 

спектрометрического тракта ..................................................

38

2.5. Зарядочувствительные предусилители .................................

42

2.6. Укорачивание сигналов ..........................................................

55

2.7. Основной (формирующий) усилитель ..................................

64

2.7.1. Требования к основному (формирующему)

 

усилителю. ..........................................................................

64

2.7.2. Шумы в спектрометрическом тракте и их

 

моделирование....................................................................

66

2.7.3. Оптимизация отношения «сигнал–шум» простыми

 

CR-RC-фильтрами ..............................................................

69

2.7.4. Согласованная фильтрация и зависимость

 

отношения «сигнал–шум» от способа

 

формирования сигнала ......................................................

74

2.7.5. Фильтры с переключаемыми параметрами .....................

81

2.8. Защита спектрометрического тракта от амплитудных

 

перегрузок ................................................................................

84

2.9. Защита спектрометрического тракта от частотных

 

перегрузок ................................................................................

86

3

2.10.

Схемы линейного пропускания .............................................

92

2.11.

Режекция наложений импульсов

 

 

в спектрометрическом тракте ................................................

97

Глава 3. Электроника для амплитудных измерений.........................

103

3.1. Интегральные амплитудные дискриминаторы.....................

103

3.2. Дифференциальные амплитудные дискриминаторы...........

110

3.3. Многоканальные амплитудные анализаторы

 

 

с индивидуальными регистраторами в каналах ..................

114

3.4. Спектрометрические амплитудно-цифровые

 

преобразователи ......................................................................

116

3.4.1. Характеристики и основные требования к САЦП .......

116

3.4.2. САЦП с преобразованием Вилкинсона.........................

119

3.4.3. САЦП поразрядного уравновешивания

 

 

со скользящей шкалой .....................................................

127

3.4.4. Параллельные и параллельно-последовательные

 

 

САЦП................................................................................

131

3.4.5. Интегрированные системы сбора данных.....................

139

3.5. Многоканальные амплитудные анализаторы

 

 

с запоминающими устройствами..........................................

144

3.5.1. Структура и алгоритм работы многоканального

 

 

амплитудного анализатора .............................................

144

3.5.2. Погрешности счета в многоканальных

 

 

анализаторах ....................................................................

150

3.6. Цифровая стабилизация амплитудного спектрометра .......

155

3.7. Цифровые спектрометрические тракты ...............................

158

Список рекомендуемой литературы...................................................

163

4

Глава 1

ОСНОВНЫЕ ВИДЫ ИЗМЕРЕНИЙ В ЯДЕРНОФИЗИЧЕСКОМ ЭКСПЕРИМЕНТЕ И ИХ ОСОБЕННОСТИ

1.1. Назначение и особенности ядерной электроники

Ядерная электроника обслуживает различные области ядерной физики и атомной техники. В их числе: спектрометрия, радиометрия и дозиметрия ионизирующих излучений, атомная энергетика, производство и использование делящихся материалов и т.д. Методы и аппаратура ядерной электроники широко используются также в других областях науки и техники, например, в медицине, геологии, сейсмологии, при исследовании океана и атмосферы, при изучении вибраций…

Всовременных измерительно-вычислительных системах ядерной электроники информация об изучаемых или контролируемых объектах или процессах с помощью детекторов (датчиков) обычно преобразуется в электрические сигналы. Затем эти сигналы усиливают и отбирают среди них содержащие полезную информацию, руководствуясь заранее определенными признаками (например, по амплитудам, моментам появления, форме сигналов, различным логическим условиям и т.п.). Отобранные сигналы или их характеристики, несущие полезную информацию, преобразуют в цифровые коды, накапливают в запоминающих устройствах и подвергают математической обработке иногда в аналоговой, а чаще в цифровой форме. Результат обработки либо используется для автоматического регулирования объекта (процесса) и (или) измерительного тракта, либо выводится из системы на различные носители информации для прямого использования человеком.

Всоответствии со сказанным обобщенную структурную схему электронной части практически любой физической установки можно представить так, как показано на рис. 1.1. В общем случае на экспериментальном объекте может одновременно проводиться m экспериментов (или групп экспериментов), обслуживаемых m из-

5

6

Рис. 1.1. Структура электронного обеспечения физической установки

мерительными системами. Каждая из систем организуется как иерархическая многоуровневая система с микропроцессорами, про- граммно-управляемыми модульными устройствами и ЭВМ разного типа, что значительно расширяет возможности ядерных исследований, обеспечивает сбор и обработку больших потоков информации.

Форма и способы представления информации на входах и выходах различных устройств могут не совпадать. Для сопряжения этих устройств друг с другом используются стандартные интерфейсы, которые также имеют иерархическую организацию. Главный интерфейс системы – это стык между ЭВМ и измерительной частью. Интерфейс нижнего уровня (измерительной части) связывает измерительные модули с машиной эксперимента (обычно, мини-ЭВМ).

Модули представляют собой функционально законченные элементы системы, имеющие одинаковый интерфейс входа-выхода. Наиболее распространенные интерфейсы измерительной части: CAMAC, VME-BUS, FASTBUS. Машина эксперимента осуществляет управление модулями и предварительную обработку экспериментальных данных. Полная и окончательная обработка выполняется большой ЭВМ, где хранятся также программы обработки и управления, банки данных и т.д.

С точки зрения преобразования информации сказанное выше можно представить в виде некоторого алгоритма работы измерительной системы (рис. 1.2).

Детекти-

 

Выде-

 

 

 

Накоп-

 

 

 

 

 

рование

 

ление

 

 

 

 

 

 

 

Представ-

 

 

 

 

ление

 

 

 

 

(преобра-

 

полез-

 

 

 

 

 

 

 

ление и

 

 

Изме-

 

полез-

 

Обра-

 

зование

 

ных

 

 

 

 

использо-

 

 

рения

 

ной

 

ботка

 

физич.

 

сигна-

 

 

 

 

вание ин-

 

 

 

 

ин-

 

 

 

 

процесса в

 

лов

 

 

 

 

 

 

 

формации

 

 

 

 

форма-

 

 

 

 

эл. сигнал)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ции

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 1.2. Функциональная схема преобразования информации

7

Приведенный алгоритм характерен для любых измерений. Специфика ядерно-физических измерений в первую очередь состоит в том, что непосредственно измеряемые величины носят статисти-

ческий характер (поэтому во всех случаях измерительная аппаратура должна регистрировать результаты, связанные с большим числом событий).

Другая специфическая черта, которую необходимо учитывать при проектировании измерительной аппаратуры для ядерно-

физических исследований, – статистический характер распреде-

ления событий во времени. Даже при проведении сравнительно простого эксперимента – счета числа событий – такой случайный характер распределения событий во времени предъявляет довольно жесткие требования к измерительному устройству: мгновенная максимальная скорость счета должна примерно на два порядка превышать среднюю интенсивность исследуемого потока событий.

Со статистическим характером исследуемых событий имеют дело и в других областях науки и техники. Однако редко где можно встретиться с необходимостью одновременного удовлетворения в измерительной аппаратуре таких противоречивых требований, как точность, быстродействие, большое число регистрируемых параметров. В ядерной физике часто измеряют величины с погрешностью 0,1…0,01%, поступающие с интенсивностью 106 событий в секунду и более, а результаты измерений накапливают в 104…106 различных участках регистрирующего устройства.

Следует учитывать, что в некоторых случаях измерения длятся непрерывно несколько суток, в процессе измерений приходится поддерживать определенные режимы работы аппаратуры и установок, а иногда и менять режимы работы. Таким образом, аппаратура должна удовлетворять жестким требованиям по стабильности и надежности, а также должна быть предусмотрена возможность программного управления характеристиками аппаратуры и установок. Нередко при конструировании аппаратуры приходится учиты-

вать и возможность ее работы в агрессивных средах, в частности,

в радиационных полях. Остановимся далее несколько подробнее на

8

главной особенности, связанной со статистическим характером поступающих импульсов.

1.2.Статистика сигналов

1.2.1.СЛУЧАЙНЫЕ ПРОЦЕССЫ ПРИ ИЗМЕРЕНИЯХ

ВЯДЕРНО-ФИЗИЧЕСКОМ ЭКСПЕРИМЕНТЕ

Практически все измеряемые процессы являются наложением более элементарных процессов, протекающих на молекулярном или атомном уровнях. Современная измерительная техника позволяет регистрировать процессы взаимодействия отдельных микро-

а

t

б

t

в

t

г

t

Рис. 1.3. Случайные процессы (сигналы, импульсные потоки) ядерной электроники: а поток случайных импульсов конечной длительности; б непрерывный случайный процесс (сигнал), полученный от наложений импульсов; в аппроксимация импульсного случайного потока; г пульсирующий поток случайных импульсов

9

частиц и квантов с веществом, которые происходят при этом по существенно статистическим законам.

Микропроцессы обычно преобразуют в импульсные электрические сигналы различной формы (рис. 1.3,а), появляющиеся в случайные моменты времени. С увеличением средней частоты поступления сигналов (интенсивности) возможны их наложения друг на друга, и, соответственно, образуются непрерывные случайные процессы (рис. 1.3,б). Во многих задачах форма сигналов не имеет значения, и они могут быть аппроксимированы случайным потоком бесконечно коротких импульсов (рис. 1.3,в). Часто случайные потоки импульсов и непрерывные случайные сигналы бывают модулированы во времени различными функциями, например, прямоугольной (рис. 1.3,г). Такие потоки и процессы называют пульси-

рующими.

Для анализа требований к измерительной аппаратуре ядернофизического эксперимента, при оценке результатов измерений и их погрешностей удобно описывать исследуемые потоки импульсов и сигналы в терминах и характеристиках случайных процессов. Рассмотрим вкратце соответствующие сведения.

Случайный, или стохастический, процесс, задаваемый некоторой случайной функцией времени X(t), рассматривается как совокупность (ансамбль) функций x1 t , x2 t ,. , x t , каждая из которых является одной из возможных реализаций этого процесса:

Х (t) {x1 (t), x2 (t),..., x (t)}.

x4 (t0 )

x1 (t0 )

t0 t

Рис. 1.4. Фрагмент случайной функции и ее сечение

Сечение одномерной случайной функции при некотором фиксированном t0 представляет собой случайную величину X(t0), при-

надлежащую множеству

x1 t0 , x2 t0 , , x t0 :

X (t0 ) {x1 (t0 )...x (t0 )} .

Наиболее полно случайные процессы (сигналы, импульсные потоки) характеризуются своими функциями распределения.

10