- •Лабораторная работа 1 температурная зависимость проводимости полупроводниковых материалов
- •1.1 Основные понятия и определения
- •1.2. Описание образцов, использованных в работе
- •1.3. Описание установки
- •1.4. Проведение испытаний
- •1.5. Обработка результатов.
- •1.6. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2 исследование полупроводниковых выпрямительных диодов
- •2.1. Основные понятия и определения
- •2.2. Описание установки
- •2.3. Проведение исследований
- •2.3.1. Исследование прямой ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.2. Исследование обратной ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.3. Исследование частотных свойств выпрямительного диода
- •2.3.4 Исследование вольт-амперной характеристики диодов при повышенной температуре
- •2.4. Обработка результатов
- •2.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 3 исследование статических характеристик и параметров биполярного транзистора
- •3.1. Основные понятия и определения
- •3.2. Исследование статических характеристик биполярного транзистора методом характериографа
- •3.2.1. Описание установки
- •3.2.2. Исследование статических характеристик транзистора
- •3.2.3. Исследование статических коэффициентов передачи тока транзистора
- •3.2.4. Измерение обратного тока коллектора
- •3.2.5. Исследование пробивного напряжения транзистора
- •3.3. Обработка результатов и расчет параметров
- •3.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 4 исследование статических характеристик и параметров полевых транзисторов
- •4.1. Основные понятия и определения
- •4.2. Описание установки
- •4.3. Проведение измерений
- •4.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •4.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 5 исследование биполярного транзистора при работе на малом переменном сигнале
- •5.1. Основные понятия и определения
- •5.2. Описание установки
- •5.3. Проведение испытаний
- •5.3.1. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общей базой
- •5.3.2. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общим эмиттером
- •5.3.3. Исследование частотных зависимостей коэффициентов передачи токов эмиттера и базы
- •5.4. Обработка результатов
- •5.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 6 исследование импульсных свойств биполярного транзистора
- •6.1. Основные понятия и определения
- •6.2. Схема установки
- •6.3. Проведение испытаний
- •6.3.1. Подготовка к испытаниям
- •6.3.2. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от напряжения источника питания в цепи коллектора
- •6.3.3. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от амплитуды импульса тока эмиттера
- •6.4. Обработка результатов
- •6.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 7 исследование интегральных микросхем
- •7.1. Основные понятия и определения
- •7.2. Описание установки
- •7.3. Проведение испытаний
- •7.3.1. Определение логических операций, выполняемых полупроводниковой микросхемой
- •7.3.2. Исследование входной и прямой передаточной характеристик логической полупроводниковой микросхемы
- •7.3.3. Определение мощности, потребляемой логической полупроводниковой микросхемой
- •7.3.4. Изучение конструкции гибридной имс
- •7.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •7.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 8 исследование полупроводниковых источников излучения
- •8.1. Основные понятия и определения
- •8.2. Описание установки
- •8.3 Проведение измерений
- •8.3.1. Исследование спектральных характеристик сид
- •8.3.2. Исследование яркостных и вольт-амперных характеристик сид
- •8.3.3. Исследование яркостной характеристики ил
- •8.3.4. Исследование спектральных характеристики ил
- •8.4. Обработка результатов
- •9.1. Основные понятия и определения
- •9.2. Описание установки
- •9.3. Проведение испытаний
- •9.3.1. Исследование спектральной характеристики фд
- •9.3.2. Исследование световых характеристик фд
- •9.4. Обработка результатов
- •9.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 10 исследование полупроводниковых стабилитронов и стабистора
- •10.1. Основные понятия и определения
- •10.2. Установка для исследований
- •10.3. Порядок проведения исследований
- •10.3.1. Исследование вах стабилитрона
- •10.3.2. Исследование параметров стабилитронов
- •10.3.3. Исследование параметрического стабилизатора напряжения
- •10.4. Обработка экспериментальных результатов и расчет параметров
- •10.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 11 исследование тиристора
- •11.1. Основные понятия и определения
- •11.2. Описание установки
- •11.3. Проведение исследований
- •11.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики тиристора
- •11.3.2. Измерение параметров тиристора
- •11.3.3. Исследование зависимости напряжения включения тиристора от тока управляющего электрода
- •11.3.4. Исследование параметров тиристора при повышенной температуре
- •11.3.5. Исследование регулятора мощности
- •11.4. Обработка результатов
- •11.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 12 исследование туннельных диодов
- •12.1. Основные понятия и определения
- •12.2. Описание установок для проведения исследований
- •12.2.1. Схема для исследования вольт-амперной характеристики тд
- •12.2.2. Схема для изучения эффекта дискретно-аналоговой памяти
- •12.2.3. Схема для исследования эффектов усиления и генерации электрических сигналов
- •12.3. Порядок проведения исследований
- •12.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики
- •12.3.2. Исследование функции дискретно-аналоговой памяти
- •12.3.3. Изучение эффекта усиления
- •12.3.4. Изучение эффекта генерации
- •12.4. Обработка результатов
- •12.5. Контрольные вопросы
- •Список рекомендованной литературы
- •Содержание
12.4. Обработка результатов
-
По данным, полученным в 12.3.1, построить ВАХ туннельного диода. Обозначить токи Iп и Iв и соответствующие им значения напряжений Uп и Uв. Отметить напряжение раствора Uрр. Вычислить кратность изменения тока Iп/Iв на участке ОДС и значение модуля отрицательного дифференциального сопротивления r– на середине участка спада тока по формуле
r–= ΔUТД/ ΔI,
где ΔUТД и ΔI – приращения напряжения и тока соответственно (ΔI ~ 0,1 мА).
-
Построить зависимость остаточного напряжения на цепи из 10 ТД от действовавшего сигнального Uх. Отметить дискрет изменения Uост и диапазон изменения Uх, в пределах которого сохраняется эффект дискретно-анало-говой памяти. Сравнить дискрет приращения ΔUост со значением разницы двух устойчивых падений напряжения при пропускании тока I0, соответствующего середине участка ОДС на построенной вольт-амперной характеристике ТД (см. рис. 12.3).
-
По данным табл. 12.1 построить семейство передаточных характеристик активного делителя напряжения, т. е. зависимости выходного напряжения UТД от входного EG для трех значений нагрузочного сопротивления Rн. По приращениям напряжения ΔUТД и ΔEG на середине участка резкого подъема передаточной характеристики, полученной при Rн Rн. кр, вычислить коэффициент усиления по напряжению KU по формуле
KU = ΔUТД/ ΔEG.
-
Приложить к отчету осциллограмму колебаний напряжения на ТД. Отметить на осциллограмме значение напряжения EG, при котором амплитуда оказалась максимальной. Используя масштаб усиления по вертикали I канала, найти амплитуду осцилляций напряжения. Отметить на ВАХ туннельного диода минимальное и максимальное питающие напряжения (EGmin и EGmax), при которых сохраняются осцилляции напряжения.
12.5. Контрольные вопросы
1. Объясните ход ВАХ туннельного диода.
2. Какие параметры ТД можно определить по статической ВАХ?
3. В чем состоит основная трудность снятия статической ВАХ туннельного диода?
4. В чем состоит принцип реализации дискретно-аналоговой памяти на туннельных диодах?
5. Как объяснить усиление по напряжению в активном делителе напряжения, составленного из туннельного диода и резистора, и каково должно быть значение нагрузочного сопротивления в этой цепи, обеспечивающее высокий коэффициент усиления?
6. Объясните причину возникновения осцилляций напряжения (тока) в последовательной цепи из ТД и индуктивности.
Список рекомендованной литературы
Сорокин В. С., Антипов Б. Л., Лазарева Н. П. Материалы и элементы электронной техники: В 2 т. Т. 1. Проводники, полупроводники и диэлектрики: Учеб. для вузов. М.: Академия, 2006.
Пасынков В. В., Чиркин Л. К. Полупроводниковые приборы: Учеб. для вузов. 6-е изд. СПб.: Лань, 2002.
Степаненко И. П. Основы микроэлектроники / Лаб. базовых знаний. М., 2003.
Чиркин Л. К., Андреев А. П., Ганенков Н. А. Физические основы микроэлектроники: Учеб. пособие. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2001.
Методические указания по выполнению текстовых учебных документов / Сост.: Е. М. Душин, Т. В. Ильченко, Р. В. Маркелов и др.; Под ред. Д. В. Пузанкова. ЛЭТИ. Л., 1990.