- •Лабораторная работа 1 температурная зависимость проводимости полупроводниковых материалов
- •1.1 Основные понятия и определения
- •1.2. Описание образцов, использованных в работе
- •1.3. Описание установки
- •1.4. Проведение испытаний
- •1.5. Обработка результатов.
- •1.6. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2 исследование полупроводниковых выпрямительных диодов
- •2.1. Основные понятия и определения
- •2.2. Описание установки
- •2.3. Проведение исследований
- •2.3.1. Исследование прямой ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.2. Исследование обратной ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.3. Исследование частотных свойств выпрямительного диода
- •2.3.4 Исследование вольт-амперной характеристики диодов при повышенной температуре
- •2.4. Обработка результатов
- •2.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 3 исследование статических характеристик и параметров биполярного транзистора
- •3.1. Основные понятия и определения
- •3.2. Исследование статических характеристик биполярного транзистора методом характериографа
- •3.2.1. Описание установки
- •3.2.2. Исследование статических характеристик транзистора
- •3.2.3. Исследование статических коэффициентов передачи тока транзистора
- •3.2.4. Измерение обратного тока коллектора
- •3.2.5. Исследование пробивного напряжения транзистора
- •3.3. Обработка результатов и расчет параметров
- •3.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 4 исследование статических характеристик и параметров полевых транзисторов
- •4.1. Основные понятия и определения
- •4.2. Описание установки
- •4.3. Проведение измерений
- •4.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •4.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 5 исследование биполярного транзистора при работе на малом переменном сигнале
- •5.1. Основные понятия и определения
- •5.2. Описание установки
- •5.3. Проведение испытаний
- •5.3.1. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общей базой
- •5.3.2. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общим эмиттером
- •5.3.3. Исследование частотных зависимостей коэффициентов передачи токов эмиттера и базы
- •5.4. Обработка результатов
- •5.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 6 исследование импульсных свойств биполярного транзистора
- •6.1. Основные понятия и определения
- •6.2. Схема установки
- •6.3. Проведение испытаний
- •6.3.1. Подготовка к испытаниям
- •6.3.2. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от напряжения источника питания в цепи коллектора
- •6.3.3. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от амплитуды импульса тока эмиттера
- •6.4. Обработка результатов
- •6.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 7 исследование интегральных микросхем
- •7.1. Основные понятия и определения
- •7.2. Описание установки
- •7.3. Проведение испытаний
- •7.3.1. Определение логических операций, выполняемых полупроводниковой микросхемой
- •7.3.2. Исследование входной и прямой передаточной характеристик логической полупроводниковой микросхемы
- •7.3.3. Определение мощности, потребляемой логической полупроводниковой микросхемой
- •7.3.4. Изучение конструкции гибридной имс
- •7.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •7.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 8 исследование полупроводниковых источников излучения
- •8.1. Основные понятия и определения
- •8.2. Описание установки
- •8.3 Проведение измерений
- •8.3.1. Исследование спектральных характеристик сид
- •8.3.2. Исследование яркостных и вольт-амперных характеристик сид
- •8.3.3. Исследование яркостной характеристики ил
- •8.3.4. Исследование спектральных характеристики ил
- •8.4. Обработка результатов
- •9.1. Основные понятия и определения
- •9.2. Описание установки
- •9.3. Проведение испытаний
- •9.3.1. Исследование спектральной характеристики фд
- •9.3.2. Исследование световых характеристик фд
- •9.4. Обработка результатов
- •9.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 10 исследование полупроводниковых стабилитронов и стабистора
- •10.1. Основные понятия и определения
- •10.2. Установка для исследований
- •10.3. Порядок проведения исследований
- •10.3.1. Исследование вах стабилитрона
- •10.3.2. Исследование параметров стабилитронов
- •10.3.3. Исследование параметрического стабилизатора напряжения
- •10.4. Обработка экспериментальных результатов и расчет параметров
- •10.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 11 исследование тиристора
- •11.1. Основные понятия и определения
- •11.2. Описание установки
- •11.3. Проведение исследований
- •11.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики тиристора
- •11.3.2. Измерение параметров тиристора
- •11.3.3. Исследование зависимости напряжения включения тиристора от тока управляющего электрода
- •11.3.4. Исследование параметров тиристора при повышенной температуре
- •11.3.5. Исследование регулятора мощности
- •11.4. Обработка результатов
- •11.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 12 исследование туннельных диодов
- •12.1. Основные понятия и определения
- •12.2. Описание установок для проведения исследований
- •12.2.1. Схема для исследования вольт-амперной характеристики тд
- •12.2.2. Схема для изучения эффекта дискретно-аналоговой памяти
- •12.2.3. Схема для исследования эффектов усиления и генерации электрических сигналов
- •12.3. Порядок проведения исследований
- •12.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики
- •12.3.2. Исследование функции дискретно-аналоговой памяти
- •12.3.3. Изучение эффекта усиления
- •12.3.4. Изучение эффекта генерации
- •12.4. Обработка результатов
- •12.5. Контрольные вопросы
- •Список рекомендованной литературы
- •Содержание
2.3.3. Исследование частотных свойств выпрямительного диода
Установить переключатель рода работ в положение "Выпрямление". Включить генератор звуковых частот ГЗ-102. Перевести осциллограф в режим временной развертки, для чего переключатель синхронизации установить в положение "I", а переключатель рода работ – в положение "". При закороченных входах осциллографа регулировкой уровня синхронизации получить изображения прямых линий на экране и разместить их так, чтобы можно было наблюдать сигналы с обоих входов. Чувствительность входов при этом должна составлять: для канала I – "0,5 В/дел"10 и для канала II – "0,2 В/дел"10. Установить частоту переменного сигнала 300 Гц, а длительность развертки осциллографа 2 мс/дел. Регулировкой выходного напряжения генератора установить по осциллографу (канал I) амплитуду этого напряжения равной 5 В. В дальнейшем при изменении частоты поддерживать эту амплитуду постоянной. Измерить с помощью стрелочного прибора выпрямленное напряжение для разных частот. Результаты записать в табл. 2.1.
Таблица 2.1
f, кГц |
0,03 |
0,1 |
0,3 |
1 |
3 |
10 |
30 |
100 |
200 |
Uв, В |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Зарисовать осциллограммы тока (канал II) для частот 0,3, 3,0 и 30 кГц, изменяя длительность развертки обратно пропорционально частоте сигнала (2; 0,2 и 0,02 мс/дел) и подстраивая уровень синхронизации.
Выключить генератор звуковых частот.
2.3.4 Исследование вольт-амперной характеристики диодов при повышенной температуре
Включить нагрев термостата и после установления температуры записать ее значение. Перевести осциллограф в режим характериографа (см. 2.3.1), установив следующую чувствительность входов: для канала I ("X") – "20 мВ/дел"10 и для канала II ("Y") – "1 мВ/дел"10. Зарисовать прямые ветви ВАХ германиевого и кремниевого диодов (переключатель рода работ установки – в положении "прямое").
То же самое выполнить для обратных ветвей ВАХ при чувствительности входов осциллографа: для канала I ("X") – "0,1 В/дел"10 и для канала II ("Y") – "1 мВ/дел"10 (для кремниевого диода) и "20 мВ/дел"10 (для германиевого диода). Зарисовать обратные ветви ВАХ, отметив на осях координат единицы измерения и значения тока и напряжения в соответствии с выбранными масштабами и с учетом сопротивлений резистора (для прямого включения R = 1 Ом, для обратного R = 5 кОм).
2.4. Обработка результатов
1. Построить ВАХ германиевого и кремниевого диодов по экспериментальным осциллограммам.
2. По ВАХ рассчитать статическое сопротивление диодов в прямом и обратном направлениях для двух значений токов и напряжений (при прямом включении – для максимального тока и для половины максимального значения тока, при обратном включении – для максимального обратного напряжения и для половины максимального значения напряжения). Результаты представить в виде табл. 2.2.
Таблица 2.2
Германиевый диод |
Кремниевый диод |
||||||
T1 = |
T2 = |
T1 = |
T2 = |
||||
Rпр, Ом |
Rобр, кОм |
Rпр, Ом |
Rобр, кОм |
Rпр, Ом |
Rобр, кОм |
Rпр, Ом |
Rобр, кОм |
|
|
|
|
|
|
|
|
3. По данным табл. 2.1 построить частотную зависимость выпрямленного напряжения в полулогарифмическом масштабе (по оси абсцисс откладывается частота в логарифмическом масштабе, ось ординат должна иметь линейный масштаб). По графику определить частоту, до которой выпрямительные свойства диода не изменяются.
4. По значениям обратного тока при двух температурах и при неизменных обратных напряжениях оценить ширину запрещенной зоны германия
.