Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Metoda_Ttel.doc
Скачиваний:
97
Добавлен:
08.02.2019
Размер:
2.87 Mб
Скачать

3.5. Контрольные вопросы

1. Каким образом в транзисторе происходит усиление электрических колебаний по мощности?

2. Объясните статические характеристики транзистора в схеме с ОЭ.

3. Почему обратный ток коллектора в схеме с ОЭ больше, чем в схеме с ОБ?

4. Какие физические процессы происходят в транзисторе при его пробое?

5. Как объяснить различие выходных проводимостей транзистора в схеме с ОБ и ОЭ?

Лабораторная работа 4 исследование статических характеристик и параметров полевых транзисторов

4.1. Основные понятия и определения

Полевой транзистор – это полупроводниковый прибор, усилительные свойства которого обусловлены потоком основных носителей, протекающим через проводящий канал и управляемым электрическим полем (рис. 4.1).

Среди полевых транзисторов важное место занимают МДП-транзис-торы с индуцированным каналом и полевые транзисторы с управляющим p-n-переходом. Структура МДП-транзистора с индуцированным n-каналом показана на рис. 4.1, а и 4.2.

а

б

Рис. 4.1. Структура: а – МДП-транзистора с индуцированным каналом; б – полевого транзистора с управляющим p-n-переходом

а

б

в

Рис. 4.2. Изменение формы канала (и области объемного заряда) в МДП-транзисторе при UЗИ UЗИ пор: аUСИ UЗИ; бUСИ UЗИ; вUСИ UЗИ

В кристалле относительно высокоомного полупроводника (подложке) сформированы две сильнолегированные области с противоположным типом электропроводности, к которым изготовляются металлические электроды – исток И и сток С. На поверхности кристалла между истоком и стоком методом термического окисления сформирован тонкий слой диэлектрика (SiO2), на который нанесен металлический электрод – затвор З. Получается структура, состоящая из слоя металла, диэлектрика и полупроводника, т. е. МДП-структура. В основе работы МДП-транзистора лежит эффект поля. При напряжении на затворе относительно истока, равном нулю, и при наличии напряжения на стоке ток стока оказывается ничтожно малым. Он представляет собой обратный ток p-n-перехода стока. При напряжениях на затворе, больших напряжения UЗИ пор порогового напряжения, под действием электрического поля затвора у поверхности полупроводника под затвором возникает инверсный слой (слой с электропроводностью, противоположной электропроводности подложки). Этот инверсный слой, соединяющий между собой две сильнолегированные области истока и стока, и является проводящим каналом (рис. 4.2). С увеличением напряжения на затворе повышается концентрация носителей заряда в канале, уменьшается его сопротивление и, как следствие, растет ток стока. Так происходит управление током стока в МДП-транзисторе. Поскольку затвор отделен от подложки слоем диэлектрика, ток в цепи затвора мал (нерегулируемый ток утечки), мала и мощность, потребляемая от источника питания в цепи затвора и необходимая для управления относительно большим током стока, т. е. МДП-транзистор может усиливать электрические сигналы по напряжению и по мощности.

Так как ток затвора из-за наличия диэлектрика практически отсутствует, для описания работы МДП-транзистора используется семейство вольт-амперных характеристик передачи (в биполярном транзисторе – входные ВАХ), а также семейство выходных ВАХ (рис. 4.3).

а

б

Рис. 4.3 ВАХ МДП-транзистора: а – передачи; б – выходные

Статические вольт-амперные характеристики передачи МДП‑тран-зистора – это зависимости тока стока IС от напряжения на затворе относительно истока UЗИ, IС f (UЗИ), при различных фиксированных напряжениях на стоке UСИ (рис. 4.3, а). Характеристики для разных напряжений на стоке выходят из точки на оси абсцисс, соответствующей пороговому напряжению UЗИ пор.

С ростом напряжения на затворе растет концентрация носителей заряда в канале, следовательно, и ток стока. При большом напряжении на затворе UЗИ заряд в канале экранирует влияние затвора на подложку и ток стока IC практически не увеличивается. Носители заряда в канале движутся под действием напряжения на стоке (дрейф под действием поля в канале), поэтому с увеличением напряжения на стоке растут дрейфовая скорость носителей заряда, а также ток стока. По характеристике передачи можно найти основной параметр, определяющий усилительные свойства прибора – крутизну характеристики передачи S = dIС/dUЗИ при UСИ = const.

Выходные статические характеристики МДП-транзистора – это зависимости тока стока IС от напряжения на стоке относительно истока UСИ, IС f (UСИ), при различных фиксированных напряжениях на затворе UЗИ (рис. 4.3, б). При напряжении на затворе, большем порогового, характеристика выходит из начала координат. Вначале она линейна и проходит под углом, соответствующим сопротивлению канала между стоком и истоком в открытом состоянии транзистора, RCИ отк UСИ/IC (см. рис. 4.2, а).

а

б

в

Рис. 4.4. Изменение формы канала (и области объемного заряда) в полевом транзисторе с управляющим p-n-переходом: а – UСИ = UЗИ = 0; б – UСИUЗИ; в – UСИ UЗИ

Затем характеристика сублинейна: при увеличении напряжения на стоке канал из-за прохождения по нему тока стока сужается к стоку (становится неэквипотенциальным – см. рис.4.2, б). Сопротивление канала растет, что и является причиной замедленного роста тока стока при возрастании напряжения на стоке. Эту часть характеристики называют крутой частью. При напряжении на стоке UСИ наснапряжении насыщения, примерно равном напряжению на затворе, происходит перекрытие канала около стока, ток стока достигает значения тока стока насыщения – IС нас. Дальнейшее увеличение напряжения на стоке вызывает очень малое приращение тока стока (см. рис. 4.2, в), при этом носители экстрагируются из канала полем стокового p-n-перехода. Эту часть характеристики называют пологой. По пологой части характеристики можно определить активную составляющую выходной проводимости транзистора g22 dIC/dUСИ при UЗИ = const.

При увеличении напряжения на затворе с возрастанием концентрации носителей заряда в канале при малых напряжениях на стоке увеличивается ток стока (характеристики имеют больший наклон) и возрастает напряжение насыщения, поэтому вся характеристика смещается в область больших токов стока.

Структура полевого транзистора с управляющим p-n-переходом показана на рис. 4.1, б и 4.4. В нем канал уже существует, а модуляция сопротивления канала и, следовательно, управление током стока происходят при изменении обратного напряжения на p-n-переходе затвора: изменяются геометрические размеры канала, но не изменяется концентрация носителей в канале (рис. 4.4). С увеличением напряжения на затворе растет толщина p-n-перехода и сужается толщина канала, следовательно, растет сопротивление канала протекающему через него току стока. Поэтому здесь (в отличие от МДП-транзистора) ток стока с ростом напряжения на затворе уменьшается (рис. 4.5, а ВАХ передачи), и при некотором напряжении UЗИ отснапряжении отсечки – канал полностью перекрывается областью объемного заряда, т. е. сток полностью отсекается от истока.

В этом случае ток стока минимальный, он определяется только током обратно смещенного p-n-перехода. При фиксированном напряжении на затворе (рис. 4.5, б выходная ВАХ) вначале при малом напряжении на стоке ток стока быстро растет (ВАХ линейна), затем с ростом напряжения на стоке область p-n-перехода расширяется в сторону стока (рис. 4.4, б), что приводит к сужению канала и, следовательно, к росту сопротивления канала и замедлению роста тока стока (участок сублинейный). Это соответствует крутому участку ВАХ. Далее канал, сужаясь, практически не изменяет своей толщины (рис. 4.4, в), и ВАХ переходит в область насыщения – ток стока меняется незначительно (рис. 4.5, б).

а

б

Рис. 4.5. ВАХ полевого транзистора с управляющим p-n-переходом: а – передачи; б – выходные

Таким образом, вид выходной ВАХ совпадает с видом ВАХ МДП-тран-зистора, но при нулевом напряжении на затворе ток стока максимальный. С увеличением напряжения на затворе ток стока уменьшается, и при большем напряжении на затворе (по абсолютному значению) выходная ВАХ полевого транзистора с управляющим p-n-переходом (в отличие от МДП-транзистора с индуцированным каналом) смещается в область меньших токов.

Соседние файлы в предмете Твердотельная электроника