- •Лабораторная работа 1 температурная зависимость проводимости полупроводниковых материалов
- •1.1 Основные понятия и определения
- •1.2. Описание образцов, использованных в работе
- •1.3. Описание установки
- •1.4. Проведение испытаний
- •1.5. Обработка результатов.
- •1.6. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2 исследование полупроводниковых выпрямительных диодов
- •2.1. Основные понятия и определения
- •2.2. Описание установки
- •2.3. Проведение исследований
- •2.3.1. Исследование прямой ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.2. Исследование обратной ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.3. Исследование частотных свойств выпрямительного диода
- •2.3.4 Исследование вольт-амперной характеристики диодов при повышенной температуре
- •2.4. Обработка результатов
- •2.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 3 исследование статических характеристик и параметров биполярного транзистора
- •3.1. Основные понятия и определения
- •3.2. Исследование статических характеристик биполярного транзистора методом характериографа
- •3.2.1. Описание установки
- •3.2.2. Исследование статических характеристик транзистора
- •3.2.3. Исследование статических коэффициентов передачи тока транзистора
- •3.2.4. Измерение обратного тока коллектора
- •3.2.5. Исследование пробивного напряжения транзистора
- •3.3. Обработка результатов и расчет параметров
- •3.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 4 исследование статических характеристик и параметров полевых транзисторов
- •4.1. Основные понятия и определения
- •4.2. Описание установки
- •4.3. Проведение измерений
- •4.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •4.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 5 исследование биполярного транзистора при работе на малом переменном сигнале
- •5.1. Основные понятия и определения
- •5.2. Описание установки
- •5.3. Проведение испытаний
- •5.3.1. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общей базой
- •5.3.2. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общим эмиттером
- •5.3.3. Исследование частотных зависимостей коэффициентов передачи токов эмиттера и базы
- •5.4. Обработка результатов
- •5.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 6 исследование импульсных свойств биполярного транзистора
- •6.1. Основные понятия и определения
- •6.2. Схема установки
- •6.3. Проведение испытаний
- •6.3.1. Подготовка к испытаниям
- •6.3.2. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от напряжения источника питания в цепи коллектора
- •6.3.3. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от амплитуды импульса тока эмиттера
- •6.4. Обработка результатов
- •6.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 7 исследование интегральных микросхем
- •7.1. Основные понятия и определения
- •7.2. Описание установки
- •7.3. Проведение испытаний
- •7.3.1. Определение логических операций, выполняемых полупроводниковой микросхемой
- •7.3.2. Исследование входной и прямой передаточной характеристик логической полупроводниковой микросхемы
- •7.3.3. Определение мощности, потребляемой логической полупроводниковой микросхемой
- •7.3.4. Изучение конструкции гибридной имс
- •7.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •7.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 8 исследование полупроводниковых источников излучения
- •8.1. Основные понятия и определения
- •8.2. Описание установки
- •8.3 Проведение измерений
- •8.3.1. Исследование спектральных характеристик сид
- •8.3.2. Исследование яркостных и вольт-амперных характеристик сид
- •8.3.3. Исследование яркостной характеристики ил
- •8.3.4. Исследование спектральных характеристики ил
- •8.4. Обработка результатов
- •9.1. Основные понятия и определения
- •9.2. Описание установки
- •9.3. Проведение испытаний
- •9.3.1. Исследование спектральной характеристики фд
- •9.3.2. Исследование световых характеристик фд
- •9.4. Обработка результатов
- •9.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 10 исследование полупроводниковых стабилитронов и стабистора
- •10.1. Основные понятия и определения
- •10.2. Установка для исследований
- •10.3. Порядок проведения исследований
- •10.3.1. Исследование вах стабилитрона
- •10.3.2. Исследование параметров стабилитронов
- •10.3.3. Исследование параметрического стабилизатора напряжения
- •10.4. Обработка экспериментальных результатов и расчет параметров
- •10.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 11 исследование тиристора
- •11.1. Основные понятия и определения
- •11.2. Описание установки
- •11.3. Проведение исследований
- •11.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики тиристора
- •11.3.2. Измерение параметров тиристора
- •11.3.3. Исследование зависимости напряжения включения тиристора от тока управляющего электрода
- •11.3.4. Исследование параметров тиристора при повышенной температуре
- •11.3.5. Исследование регулятора мощности
- •11.4. Обработка результатов
- •11.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 12 исследование туннельных диодов
- •12.1. Основные понятия и определения
- •12.2. Описание установок для проведения исследований
- •12.2.1. Схема для исследования вольт-амперной характеристики тд
- •12.2.2. Схема для изучения эффекта дискретно-аналоговой памяти
- •12.2.3. Схема для исследования эффектов усиления и генерации электрических сигналов
- •12.3. Порядок проведения исследований
- •12.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики
- •12.3.2. Исследование функции дискретно-аналоговой памяти
- •12.3.3. Изучение эффекта усиления
- •12.3.4. Изучение эффекта генерации
- •12.4. Обработка результатов
- •12.5. Контрольные вопросы
- •Список рекомендованной литературы
- •Содержание
3.2.3. Исследование статических коэффициентов передачи тока транзистора
Для исследования статического коэффициента передачи тока эмиттера в схеме с ОБ установить напряжение на коллекторе 5 В. Поддерживая постоянным это напряжение, изменять ток эмиттера от 5 до 25 мА через 5 мА и измерять ток коллектора стрелочным прибором PA. Результаты записать в табл. 3.1.
Таблица 3.1
IЭ, мА |
IК, мА |
||
|
|
|
|
Для исследования статического коэффициента передачи тока базы в схеме с ОЭ установить напряжение на коллекторе 5 В. Поддерживая это напряжение постоянным, изменять ток базы от 0,5 до 2 мА через 0,5 мА и измерять ток коллектора стрелочным прибором PA. Результаты записать в табл. 3.2.
Таблица 3.2
IБ, мА |
IК, мА |
|
|
|
|
3.2.4. Измерение обратного тока коллектора
Для измерения обратного тока коллектора переключатель рода работ установить в положение "IК", напряжение на коллекторе – 5 В. Изменяя сопротивление в цепи базы транзистора с помощью переключателя S4, измерить обратный ток коллектора для схемы с ОБ IКБО (RБ ), обратный ток коллектора для схемы с ОЭ IКЭО (RБ ) и ток коллектора в схеме с ОЭ при разных сопротивлениях в цепи базы IКЭR (RБ = 0,1; 1,0 кОм). Результаты записать в табл. 3.3.
Таблица 3.3
IКБО, мкА |
IКЭО, мкА |
IКЭR, мкА |
|
RБ = 0,1 кОм |
RБ = 1,0 кОм |
||
|
|
|
|
3.2.5. Исследование пробивного напряжения транзистора
Для измерения пробивного напряжения переключатель рода работ установить в положение "Uпроб". Установить масштаб горизонтального отклонения осциллографа "1 В/дел"10. Измерить пробивное напряжение коллекторного перехода транзистора в схеме с ОБ UКБОпр с помощью осциллографа, учитывая масштаб по горизонтальной оси (10 В/дел.). В схеме с ОЭ измерить напряжение UКЭRпр при разных сопротивлениях в цепи базы транзистора (RБ = 0; 0,1; 1,0 кОм; ∞). Зарисовать зависимости коллекторного тока от на-пряжения на коллекторе для схем с ОБ и ОЭ. Результаты записать в табл. 3.4.
Таблица 3.4
Схема с ОБ |
Схема с ОЭ |
|||
UКБОпр, В |
UКЭКпр, В (RБ = 0) |
UКЭRпр, В |
UКЭОпр, В (RБ ) |
|
RБ = 0,1 кОм |
RБ = 1,0 кОм |
|||
|
|
|
|
|
3.3. Обработка результатов и расчет параметров
1. По данным, приведенным в 3.2.2, построить семейства входных и выходных статических характеристик транзистора в схемах с ОБ и с ОЭ, т. е. зависимости при UКБ = const, при IЭ = const, при UКЭ = const, при IБ = const.
2. По данным, приведенным в 3.2.3, рассчитать статические коэффициенты передачи токов эмиттера и базы, используя соотношения (3.1) и (3.2). Построить зависимость .
3. По данным, приведенным в 3.2.4, рассчитать по формуле
.
Сравнить полученное значение с экспериментальным из табл. 3.3.
4. По данным, приведенным в 3.2.5, и значению рассчитать показатель степени b в выражении для коэффициента лавинного размножения, используя соотношение между пробивными напряжениями транзистора в схемах с ОЭ и с ОБ: .
5. По выходным статическим характеристикам для схем с ОБ и с ОЭ методом графического дифференцирования рассчитать выходные проводимости транзистора и при UКБ и UКЭ, равных 5 В, используя соотношения
; .