- •Лабораторная работа 1 температурная зависимость проводимости полупроводниковых материалов
- •1.1 Основные понятия и определения
- •1.2. Описание образцов, использованных в работе
- •1.3. Описание установки
- •1.4. Проведение испытаний
- •1.5. Обработка результатов.
- •1.6. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2 исследование полупроводниковых выпрямительных диодов
- •2.1. Основные понятия и определения
- •2.2. Описание установки
- •2.3. Проведение исследований
- •2.3.1. Исследование прямой ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.2. Исследование обратной ветви вольт-амперной характеристики
- •2.3.3. Исследование частотных свойств выпрямительного диода
- •2.3.4 Исследование вольт-амперной характеристики диодов при повышенной температуре
- •2.4. Обработка результатов
- •2.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 3 исследование статических характеристик и параметров биполярного транзистора
- •3.1. Основные понятия и определения
- •3.2. Исследование статических характеристик биполярного транзистора методом характериографа
- •3.2.1. Описание установки
- •3.2.2. Исследование статических характеристик транзистора
- •3.2.3. Исследование статических коэффициентов передачи тока транзистора
- •3.2.4. Измерение обратного тока коллектора
- •3.2.5. Исследование пробивного напряжения транзистора
- •3.3. Обработка результатов и расчет параметров
- •3.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 4 исследование статических характеристик и параметров полевых транзисторов
- •4.1. Основные понятия и определения
- •4.2. Описание установки
- •4.3. Проведение измерений
- •4.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •4.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 5 исследование биполярного транзистора при работе на малом переменном сигнале
- •5.1. Основные понятия и определения
- •5.2. Описание установки
- •5.3. Проведение испытаний
- •5.3.1. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общей базой
- •5.3.2. Исследование h-параметров транзистора в схеме с общим эмиттером
- •5.3.3. Исследование частотных зависимостей коэффициентов передачи токов эмиттера и базы
- •5.4. Обработка результатов
- •5.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 6 исследование импульсных свойств биполярного транзистора
- •6.1. Основные понятия и определения
- •6.2. Схема установки
- •6.3. Проведение испытаний
- •6.3.1. Подготовка к испытаниям
- •6.3.2. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от напряжения источника питания в цепи коллектора
- •6.3.3. Исследование зависимости времени нарастания и времени рассасывания от амплитуды импульса тока эмиттера
- •6.4. Обработка результатов
- •6.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 7 исследование интегральных микросхем
- •7.1. Основные понятия и определения
- •7.2. Описание установки
- •7.3. Проведение испытаний
- •7.3.1. Определение логических операций, выполняемых полупроводниковой микросхемой
- •7.3.2. Исследование входной и прямой передаточной характеристик логической полупроводниковой микросхемы
- •7.3.3. Определение мощности, потребляемой логической полупроводниковой микросхемой
- •7.3.4. Изучение конструкции гибридной имс
- •7.4. Обработка результатов и расчет параметров
- •7.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 8 исследование полупроводниковых источников излучения
- •8.1. Основные понятия и определения
- •8.2. Описание установки
- •8.3 Проведение измерений
- •8.3.1. Исследование спектральных характеристик сид
- •8.3.2. Исследование яркостных и вольт-амперных характеристик сид
- •8.3.3. Исследование яркостной характеристики ил
- •8.3.4. Исследование спектральных характеристики ил
- •8.4. Обработка результатов
- •9.1. Основные понятия и определения
- •9.2. Описание установки
- •9.3. Проведение испытаний
- •9.3.1. Исследование спектральной характеристики фд
- •9.3.2. Исследование световых характеристик фд
- •9.4. Обработка результатов
- •9.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 10 исследование полупроводниковых стабилитронов и стабистора
- •10.1. Основные понятия и определения
- •10.2. Установка для исследований
- •10.3. Порядок проведения исследований
- •10.3.1. Исследование вах стабилитрона
- •10.3.2. Исследование параметров стабилитронов
- •10.3.3. Исследование параметрического стабилизатора напряжения
- •10.4. Обработка экспериментальных результатов и расчет параметров
- •10.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 11 исследование тиристора
- •11.1. Основные понятия и определения
- •11.2. Описание установки
- •11.3. Проведение исследований
- •11.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики тиристора
- •11.3.2. Измерение параметров тиристора
- •11.3.3. Исследование зависимости напряжения включения тиристора от тока управляющего электрода
- •11.3.4. Исследование параметров тиристора при повышенной температуре
- •11.3.5. Исследование регулятора мощности
- •11.4. Обработка результатов
- •11.5. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 12 исследование туннельных диодов
- •12.1. Основные понятия и определения
- •12.2. Описание установок для проведения исследований
- •12.2.1. Схема для исследования вольт-амперной характеристики тд
- •12.2.2. Схема для изучения эффекта дискретно-аналоговой памяти
- •12.2.3. Схема для исследования эффектов усиления и генерации электрических сигналов
- •12.3. Порядок проведения исследований
- •12.3.1. Исследование вольт-амперной характеристики
- •12.3.2. Исследование функции дискретно-аналоговой памяти
- •12.3.3. Изучение эффекта усиления
- •12.3.4. Изучение эффекта генерации
- •12.4. Обработка результатов
- •12.5. Контрольные вопросы
- •Список рекомендованной литературы
- •Содержание
2.5. Контрольные вопросы
1. Почему сопротивление диода в прямом направлении включения значительно меньше, чем в обратном направлении?
2. Чем объяснить различия ВАХ германиевых и кремниевых диодов?
3. Чем определяется характер зависимостей тока от напряжения для диодов при прямом и обратном включениях?
4. Как объяснить температурные изменения ВАХ диодов?
5. Почему выпрямительные свойства диодов ухудшаются с увеличением частоты?
Лабораторная работа 3 исследование статических характеристик и параметров биполярного транзистора
3.1. Основные понятия и определения
Биполярный транзистор – это полупроводниковый прибор с двумя взаимодействующими p-n-переходами, усилительные свойства которого обусловлены явлениями инжекции и экстракции неосновных носителей заряда.
При работе транзистора в активном режиме эмиттерный p-n-переход транзистора включен в прямом направлении, а коллекторный – в обратном (рис. 3.1). Поэтому через эмиттерный переход происходит инжекция неосновных носителей заряда в базу.
|
Рис. 3.1. Схема включения p-n-p-транзистора при работе в активном режиме |
Эти носители перемещаются в базе за счет диффузии и под воздействием внутреннего электрического поля базы транзистора по направлению к коллекторному переходу. Толщина базы транзистора довольно мала (меньше диффузионной длины неосновных носителей заряда), что обеспечивает взаимодействие переходов. Поэтому подавляющее число инжектированных носителей проходит через базу и достигает коллекторного перехода, не успев рекомбинировать. В коллекторном переходе, включенном в обратном направлении, носители заряда экстрагируются в коллектор и изменяют его ток. При этом изменение тока коллектора практически равно изменению тока эмиттера, а ток базы составляет лишь несколько процентов от тока эмиттера и тока коллектора. Поскольку сопротивление коллекторного перехода, включенного в обратном направлении, значительно больше сопротивления эмиттерного перехода, смещенного в прямом направлении, одинаковое изменение тока в переходах дает большее приращение напряжения на коллекторе и в транзисторе возможно усиление по напряжению.
При работе транзистора в активном режиме в схеме с общей базой (ОБ) входным током является ток эмиттера IЭ, а выходным током – ток коллектора IК. В целом ток коллектора
, (3.1)
где h21Б – статический коэффициент передачи тока эмиттера (h21Б = = 0,98...0,99); IКБО – обратный ток коллектора в схеме с ОБ (при IЭ = 0). Поскольку токи эмиттера и коллектора практически равны, усиления по току в схеме с ОБ не происходит. При работе транзистора в активном режиме в схеме с общим эмиттером (ОЭ) входным током является ток базы IБ, а выходным током – ток коллектора. В этом случае ток коллектора
, (3.2)
где h21Э – статический коэффициент передачи тока базы (h21Э = 20...100); IКЭО – обратный ток коллектора в схеме с ОЭ (при IБ = 0). Так как ток базы составляет лишь малую часть от тока коллектора, то в схеме с ОЭ возможно получить значительное усиление по току.
Входные характеристики транзистора – это зависимости напряжения на входе от тока на входе при различных постоянных напряжениях на выходе. Общий характер этих зависимостей определяется p-n-переходом эмиттера, включенным в прямом направлении, т. е. аналогичен прямой ветви ВАХ диода: ток экспоненциально зависит от напряжения. При увеличении напряжения на коллекторе характеристики смещаются в выбранной системе координат, поскольку из-за увеличения толщины коллекторного перехода уменьшается толщина базы. В схеме с ОБ характеристики смещаются вниз, так как неизменный диффузионный ток эмиттера, а следовательно, неизменный градиент концентрации инжектированных неосновных носителей заряда в базе вблизи эмиттера достигается при меньшем напряжении на эмиттере. В схеме с ОЭ характеристики смещаются вверх. Это обусловлено тем, что постоянный входной ток базы, который определяется рекомбинацией в базе инжектированных из эмиттера носителей заряда, с уменьшением толщины базы достигается при увеличенном полном токе через эмиттерный переход, а следовательно, при большем напряжении на эмиттерном переходе.
Выходные статические характеристики транзистора – это зависимости тока на выходе от напряжения на выходе при различных постоянных токах на входе. Общий характер этих зависимостей определяется коллекторным переходом, включенным в обратном направлении, т. е. аналогичен обратной ветви ВАХ диода. Смещение выходных характеристик вверх в выбранной системе координат соответствует принципу действия транзистора. В схеме с ОЭ, в отличие от схемы с ОБ, существует большая зависимость тока коллектора от напряжения на коллекторе. Это связано с тем, что в схеме с ОЭ выходное напряжение, приложенное между выводами коллектора и эмиттера, частично падает и на эмиттерном переходе, смещая его в прямом направлении. В результате ток эмиттера появляется даже в отсутствии тока базы и увеличивает обратный ток коллектора (IКЭО > IКБО). С ростом напряжения на коллекторе возрастает падение напряжения на эмиттерном переходе, увеличивается ток эмиттера, а значит, и ток коллектора.
При достаточно больших напряжениях на коллекторе в коллекторном переходе вследствие ударной ионизации начинается лавинное размножение носителей, что приводит к лавинному пробою перехода и, соответственно, к пробою транзистора. Значение пробивного напряжения зависит от схемы включения транзистора и условий его работы. В схеме с ОЭ возникающие при ударной ионизации носители (электроны в p-n-p-транзисторе), попадая в базу, дополнительно смещают эмиттерный переход в прямом направлении и увеличивают ток эмиттера. В итоге пробой транзистора в схеме с ОЭ при ограниченном токе базы может происходить при более низких напряжениях, чем в схеме с ОБ.