- •Сведения из теории биполярные транзисторы.
- •4.1 Классификация транзисторов
- •4.2 Система обозначений транзисторов.
- •4.3 Устройство биполярного транзистора.
- •4.4 Режимы работы биполярного транзистора.
- •4.5 Принцип действия транзистора в основном активном режиме
- •4.6 Схемы включения транзисторов.
- •4.7 Статические характеристики транзисторов.
- •4.7.1 Статистические характеристики транзистора, включенного по схеме с об.
- •4.7.2 Статические характеристики транзистора, включенного по схеме с оэ.
- •4.7.3 Статические характеристики транзистора, включенного по схеме с ок
- •4.8 Параметры и эквивалентные схемы транзисторов.
- •4.8.1 Дифференциальные (малосигнальные) параметры транзистора.
- •4.8.1.1 Система z-параметров
- •4.8.1.2 Система y-параметров.
- •4.8.1.3 Система h-параметров.
- •4.8.1.4 Определение низкочастотных h- параметров по характеристикам транзистора.
- •4.8.1.5 Связь между z,y и h - параметрами
- •4.8.2 Физические параметры и т-образная эквивалентная схема транзистора на низких частотах
- •4.8.3 Связь физических параметров с параметрами четырехполюсника
- •4.9. Влияние температуры и проникающей радиации на характеристики и параметры транзисторов.
- •4.10 Динамический режим работы транзистора.
- •4.10.1 Сущность динамического режима работы транзистора.
- •4.10.2 Принцип работы транзисторного усилителя.
- •4.10.3 Динамические (нагрузочные) характеристики.
- •4.10.3.1 Выходные динамические характеристики.
- •4.10.3.2 Входные динамические характеристики.
- •4.10.4 Динамические параметры.
- •4.10.5 Сравнительная оценка схем включения транзисторов.
- •4.11 Частотные свойства транзисторов.
- •4.11.1 Особенности работы транзисторов на высоких частотах
- •4.11.2 Влияние инерционности диффузионного движения носителей в базе (влияние времени пробега носителей)
- •4.11.3 Влияние емкостей переходов и распределенного сопротивления базы на частотные свойства транзисторов
- •4.11.4 Собственные шумы транзисторов
- •4.11.5 Ключевой режим работы транзистора
- •Выполнение лабораторной работы на лабораторном стенде «тэц и оэ – нрм».
- •Порядок выполнения работы
- •Выполнение лабораторной работы на лабораторном стенде 17д – 01.
- •Прядок выполнения работы
4.11.3 Влияние емкостей переходов и распределенного сопротивления базы на частотные свойства транзисторов
Эквивалентная Т-образная схема транзистора, приведена на Рис.4.42, не может быть использована для высоких частотах, так как она не учитывает влияние емкостей эмиттерного и коллекторного переходов. Высокочастотная эквивалентная схема транзистора, учитывающая влияние емкостей переходов, приведена на Рис. 4.42
Рис.4.42
В коллекторную цепь транзистора включено сопротивление нагрузки . Величина переменной составляющей тока нагрузки определяется генератором . При работе на низких частотах сопротивление емкости очень велико и оно значительно больше сопротивления . В свою очередь , т.е. выполняется неравенство .
Поэтому можно считать, что весь ток вырабатываемый генератором тока идет через резистор нагрузки .
С ростом частоты сигнала, сопротивление емкости уменьшается и происходит перераспределение тока генератора: увеличивается составляющая тока , протекающего через емкости , а ток , протекающий через сопротивление нагрузки и сопротивление , уменьшается, что приводит к уменьшению выходного напряжения и коэффициентов усиления и .
Емкость эмиттерного перехода также уменьшает свое сопротивление с повышением частоты, но она всегда шунтирована малым сопротивлением эмиттерного перехода , и поэтому ее вредное влияние может проявляться только на очень высоких частотах.
Для уменьшения шунтирующего действия емкости необходимо уменьшить сопротивление в цепи нагрузки так, чтобы выполнялось неравенство
. (4.48)
Это можно выполнить путем уменьшения сопротивления . Устремляя его к нулю, получим
или . (4.49)
Чем меньше величина , тем меньше сказывается шунтирующее действие емкости коллекторного перехода на высоких частотах. Постоянная времени является важным частотным параметром транзисторов и приводится в справочниках.
Для учета совместного влияния величин и на свойства транзистора в ряде случаев применяют параметр , представляющий собой частоту, на которой коэффициент усиления усилителя по мощности становится равным единице. Эта частота для всех схем включения транзисторов одинакова и определяется формулой
. (4.50)
На частотах больших транзистор не может быть использован в схеме генераторов.
На основании вышеизложенного можно сделать выводы, что для улучшения частотных свойств транзисторов необходимо уменьшать емкости переходов, объемное сопротивление области базы и время пробега носителей через базу.
Известно [2] соотношение , из которого следует, что для повышения частоты необходимо изготавливать транзисторы из материалов с большим коэффициентом диффузии (т.е. из материалов, обладающих наиболее подвижными носителями зарядов) и делать толщину базы W возможно меньшей.
Наибольшей подвижностью обладают электроны в германии, поэтому многие высокочастотные трансформаторы изготавливают из германия по структуре n-p-n.
Уменьшение емкостей переходов можно осуществить путем уменьшения площади переходов, однако это приводит к ограничению токов, протекающих через переходы, и величины допустимой мощности. Емкость коллекторного перехода можно уменьшить также путем увеличения обратного смещения на переходе, но этот путь ограничен опасностью пробоя транзистора.
Уменьшить постоянную времени можно путем уменьшения сопротивления , но для этого надо увеличить толщину базы, что вызовет уменьшение коэффициента передачи тока , или увеличить концентрацию примеси в базе, что также недопустимо, так как при этом p-n переходы сужаются и соответственно растут их емкости.
Эти противоречия наиболее удачно решены в так называемых дрейфовых транзисторах. Их отличительной особенностью является неравномерное распределение примеси в базе.
Высокая концентрация примеси в близи эмиттерного перехода (Рис.4.43) обеспечивает снижение величины объемного сопротивления базы , низкая концентрация ее около коллекторного перехода уменьшает емкость и увеличивает пробивное напряжение перехода.
Рис.4.43
Так как концентрация примеси и, следовательно, электронов у эмиттерного перехода выше, чем у коллекторного, то в базе возникает диффузия – электроны смещаются в направлении к коллектору.
Такое смещение электронов относительно неподвижных положительных ионов примеси вызывает появление электрического поля Е, ограничивающего это смещение. Инжектированные в базу дырки, попадая под действие этого поля, движутся (дрейфуют) значительно быстрее через базу, чем у обычных (бездрейфовых) транзисторов, что приводит к увеличению граничных частот.
В настоящее время существуют большое количество типов дрейфовых транзисторов (диффузионно – сплавные, мезаэпитаксальные, планарные и др.), изготавливаемые различными технологическими способами.