- •В. Е. Поляков
- •Предисловие
- •Введение
- •Глава 1. Основы взаимодействия различных видов излучений с веществом
- •1.1. Ядерное взаимодействие
- •1.1.1. Взаимодействие нейтронов с веществом
- •1.1.2. Взаимодействие заряженных частиц
- •1.1.3. Ядерные реакции при взаимодействии гамма-излучения
- •Пороги фотоядерных реакций для изотопов некоторых химических
- •Максимальные значения сечений фотоядерной реакции для ряда
- •1.2. Электромагнитное взаимодействие
- •1.2.1. Взаимодействие гамма-излучения
- •Энергия k-краев поглощения для ряда химических элементов
- •Взаимодействие рентгеновского излучения
- •Взаимодействие излучения ультрафиолетового, инфракрасного и видимого спектральных диапазонов
- •Взаимодействие излучения видимого спектрального диапазона с веществом
- •Взаимодействие инфракрасного излучения с веществом
- •Взаимодействие излучения радиочастотного диапазона
- •Глава 2. Метод масс-спектроскопии в задачах контроля металлов, сплавов и лома
- •2.1. Физическая сущность метода масс-спектроскопии с лазерной ионизацией вещества
- •Масс-спектрографе с двойной фокусировкой, и фотометрическая кривая этой спектрограммы (б) и области массового числа
- •2.2. Принципы взаимодействия импульсного лазерного излучения с веществом мишени
- •2.3. Типы лазеров и их параметры
- •2.4. Метод масс-спектроскопии с лазерной ионизацией вещества
- •2.5. Масс-спектрометры – средства контроля металлов, сплавов и лома
- •2.6. Типы масс-анализаторов, используемые в масс-спектрометре
- •2.7. Основы методики идентификации элементного состава вещества с использованием лазерного ионизатора и время-пролетного динамического масс-анализатора
- •2.8. Эмиссионные спектроскопы для экспертного спектрального анализа черных и цветных металлов
- •2.8.1. Многоканальный эмиссионный спектрометр дсф-71 (ls-1000)
- •Составные части прибора имеют следующие особенности:
- •Технические характеристики
- •2.8.2. Многоканальный эмиссионный спектрометр серии мфс
- •Технические характеристики:
- •Источник возбуждения спектра – универсальный генератор угэ-4:
- •Унифицированная система управления и регистрации:
- •Источники питания:
- •Вопросы для самопроверки знаний по главе 2
- •Глава 3. Физические основы γ-флуоресцентного контроля металлов, сплавов, лома
- •3.1. Рентгеновские лучи
- •3.2. Рентгеновские спектры
- •Рентгеновская спектроскопия
- •Рентгеновская аппаратура. Рентгеновская камера и рентгеновская трубка
- •Рентгеновский гониометр
- •3.6. Рентгеновский дифрактометр
- •3.7. Рентгенофлуоресцентный кристаллдифракционный сканирующий вакуумный «Спектроскан-V»
- •3.8. Спектрометр рентгенофлуоресцентный кристалл-дифракционный сканирующий портативный «Спектроскан»
- •3.9. Спектрометр рентгенофлуоресцентный кристалл-дифракционный сканирующий портативный «Спектроскан-lf»
- •3.10. Основы методики идентификации элементного состава неизвестного вещества и определение концентрации ингредиентов с использованием метода гамма-флуоресцентного анализа
- •3.11. Методика безэталонного рентгеноспектрального анализа сталей
- •3.11.1. Методика анализа углеродистых сталей
- •3.11.2. Методика определения содержании металлов в питьевых, природных и сточных водах при анализе на сорбционных целлюлозных дэтата-фильтрах
- •3.11.3. Методика определения содержания металлов в порошковых пробах почв
- •Вопросы для самопроверки знаний по главе 3
- •Глава 4. Приборы и методы таможенного контроля состава металлов, сплавов, лома с использованием методов вихревых токов
- •4.1. Основы теории вихревых токов
- •4. 2. Распределение вихревых токов
- •4.3. Характеристики вещества и поля
- •4.4. Физические принципы метода вихревых токов (вт)
- •4.5. Области применения и классификация методов вихревых токов
- •Датчики и характерные физические процессы
- •4.7. Некоторые типовые конструкции датчиков
- •Контроль и влияние примеси на электропроводность некоторых металлов
- •Меди (б)
- •Электропроводность и температурный коэффициент некоторых
- •4.9. Методы и приборы измерения электропроводности немагнитных металлов
- •4.10. Общие положения. Порядок проведения измерений
- •4.11. Элементы методики исследования и выбор материала для контроля
- •Вопросы для самопроверки знаний по главе 4
- •Глава 5. Ультразвуковые методы контроля металлов, сплавов, лома и руд
- •5.1. Классификация акустических методов контроля
- •5.2. Ультразвуковая аппаратура
- •Подготовка к контролю
- •Порядок проведения контроля
- •5.3. Ультразвуковая аппаратура в неразрушающем контроле
- •5.4. Ультразвуковые преобразователи
- •5.5. Определение типа металла, сплава, лома по измерению скорости распространения упругих волн
- •Вопросы для самопроверки знаний по главе 5
- •Глава 6. Классификация радиометрических методов контроля состава руд
- •6.1. Методы определения элементного состава полезных ископаемых по спектрометрии вторичных излучений
- •6.2. Методы, основанные на взаимодействии гамма- или рентгеновского излучения с электронными оболочками атомов или ядрами атомов элементов
- •6.3. Методы, основанные на спектрометрии гамма-излучения, возникающего при различных ядерных реакциях нейтронов с веществом
- •Методы определения естественной радиоактивности пород, содержащих радиоактивные элементы
- •6.5. Люминесцентные методы контроля состава руд
- •6.6. Фотометрические методы контроля состава руд
- •6.7. Радиоволновые методы контроля руд
- •6.8. Технология сортировки руды
- •Вопросы для самопроверки знаний по главе 6
- •Заключение
- •Список используемой литературы:
- •Предметный указатель
- •Оглавление
- •191186, Санкт-Петербург, ул. Миллионная, 5
3.6. Рентгеновский дифрактометр
Рентгеновский дифрактометр, прибор для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Рентгеновский дифрактометр применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа. Он позволяет измерять интенсивности дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до 10-х долей процента и углы дифракции с точностью до 10-х долей минуты. С помощью рентгеновского дифрактометра можно производить фазовый анализ поликристаллических объектов и исследование текстур, ориентировку монокристальных блоков, получать полный набор интенсивностей отражений от монокристалла, исследовать структуру многих веществ при различных внешних условиях и т.д.
Рентгеновский дифрактометр состоит из источника рентгеновского излучения, рентгеновского гониометра, в который помешают исследуемый образец, детектора излучения и электронного измерительно0-регистрирующего устройства. Детектором в рентгеновском дифрактометре служит не фотопленка, как в рентгеновской камере, а счетчики квантов (сцинтилляционные, пропорциональные, полупроводниковые счетчики или Гейгера – Мюллера счетчики). Дифракционную картину образца в рентгеновском дифрактометре получают последовательно: счетчик перемещается в процессе измерерния и регистрирует попавшую в него энергию излучения за определенный интервал времени. По сравнению с рентгеновскими камерами рентгеновский дифрактометр обладает более высокой точностью, чувствительностью, большей экспрессностью. Процесс получения информации в рентгеновский дифрактометр может быть полностью автоматизирован, поскольку в нём отсутствует необходимость проявления фотопленки, причём в автоматическом рентгеновском дифрактометре прибором управляют ЭВМ, полученные данные поступают на обработку в ЭВМ. Универсальные рентгеновские дифрактометры можно использовать для различных рентгеноструктурных исследований, заменяя приставки к гониометрическому устройству. В больших лабораториях применяются специализированные дифрактометры, предназначенные для решения какой-либо одной задачи рентгеноструктурного анализа.
3.7. Рентгенофлуоресцентный кристаллдифракционный сканирующий вакуумный «Спектроскан-V»
Рис. 3.7.1
Назначение и область применения:
Вакуумный рентгено-флуоресцентный спектрометр для оснащения лабораторий предприятий черной, цветной и порошковой металлургии, химической и цементной промышленности, геологии и горной промышленности, машиностроения, и других, где требуется количественный анализ элементного состава материалов на разных стадиях производства.
Комплектация:
Дополнительно поставляются:
Программное обеспечение
Аттестованные методики выполнения измерений
Автоматический концентратор для подготовки водных проб
Портативная мельница для истирания порошковых проб
IВМ-совместимый персональный компьютер с принтером
Устройство бесперебойного питания для спектрометра и компьютера
Аналитические характеристики Таблица 3.7.1
Диапазон определяемых элементов |
от 11Na до 92U |
Тип анализируемых образцов |
Твердые, жидкие, порошкообразные, фильтры, пленки |
Пределы обнаружения в борной кислоте за 100с, L |
Nа – 5х10-2%, Mg, Al – 8х10-3%, Si – 1х10-3%, Р – 5х10-4%, Ti, V, Cr – 1х10-4%, Со, Ni – 5х10-5%, Cd, Pb – 5х10-4% |
Диапазон определяемых содержаний |
От 3L до 100% |
Минимальные определяемые концентрации за 100с: Без обогащения пробы С предварительным типовым обогащением |
0,00003-0,01% до 0,0000003% (3 мкг\л) |
Время одного элементоопределения |
1-100с |
Собственная аппаратурная погрешность |
0,5% |
Способ выделения линий спектра |
Дифракция на кристалле |
Рентгенооптическая схема |
По Иогансону |
Энергетическое разрешение |
9 эВ (Si Kα), 60 эВ (Fe Кα) |
Технические характеристики Таблица 3.7.2
Напряжение на аноде рентгеновской трубки |
50 кВ |
Кристалл-анализатор |
LiF(200), LiF(220), РЕТ, PbАР, МИС(44Е) |
Пробозагрузочное устройство |
Автоматическое на 20 проб |
Интерфейс с ЭВМ |
RS-232 |
Габаритные размеры и масса: |
|
Спектрометрическое устройство |
550х450х450мм; 70кг |
Высоковольтный источник питания |
240х440х450мм; 30кг |
Вакуумный насос |
130х200х320мм; 15кг |
Потребляемая мощность от сети 220 В |
850 Вт |