3.8. Спектрометр рентгенофлуоресцентный кристалл-дифракционный сканирующий портативный «Спектроскан»

Рис. 3.8.1. Общий вид портативного прибора

Спектрометр предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры.

Спектрометр может применяться в различных отраслях народного хозяйства для анализа элементного состава вещества, а также для экологического контроля окружающей среды.

Аналитические характеристики Таблица 3.8.1

Диапазон определяемых элементов	от 20Сa до 94Рu
Пределы обнаружения, L	От 1 до 20 ррm (для Са и элементов от 42Мо до 54Sb порядка 500 ррm)
Диапазон определяемых содержаний	От 3L до 100%
Способ выделения линий спектра	Дифракция на кристалле
Рентгенооптическая схема	По Иогансону
Энергетическое разрешение на линии Fe Кα	14-20 миллиангстрем (45-65эВ)

Комплектация:

Дополнительно могут поставляться:

Программное обеспечение

Аттестованные методики выполнения измерений

Автоматический концентратор для подготовки водных проб

Портативная мельница для истирания порошковых проб

IВМ-совместимый персональный компьютер с принтером

Устройство бесперебойного питания для спектрометра и компьютера

Технические характеристики Таблица 3.8.2

Напряжение на аноде рентгеновской трубки	40 кВ
Мощность рентгеновской трубки	4 Вт
Мастериал анода рентгеновской трубки	Мо (Ag, Cu)
Кристалл
Радиационная безопасность	Нет превышения мощности экспозиционной дозы над фоном
Интерфейс с ЭВМ	RS-232
Габаритные размеры и масса	220х400х460мм; 24кг
Потребляемая мощность 220 В	Не более 100 Вт

3.9. Спектрометр рентгенофлуоресцентный кристалл-дифракционный сканирующий портативный «Спектроскан-lf»

Аналитические характеристики Таблица 3.9.1

Диапазон определяемых элементов	от 20Сa до 94Рu любые два элемента в диапазоне от 12Mg до 19К
Пределы обнаружения, L	От 1 до 20 ррm, (для Са и элементов от 42Мо до 51Sb порядка 500 ррm)
Диапазон определяемых содержаний	От 3L до 100%
Способ выделения линий спектра	Дифракция на кристалле; для легких элементов – пропорциональные счетчики с селективными рентгеновскими фильтрами
Рентгенооптическая схема	По Иогансону
Энергетическое разрешение на линии Fe Кα	14-20 миллиангстрем (45-65эВ)