Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
лаб.раб дефектоскопия..doc
Скачиваний:
1010
Добавлен:
18.03.2016
Размер:
7.9 Mб
Скачать

3. Чувствительность магнитографического метода контроля

Чувствительность магнитографического метода контроля W опре­де­ляется как отношение вертикального размера (глубины) ΔS ми­нимально выявляемого дефекта к толщине основного металла конт­ролируемого изделия S:

W = ΔS / S · 100%.

Чувствительность магнитографического контроля зависит от _____ __________________________________________________________ __________________________________________________________. Магнитографией наиболее уверенно выявляются плос­кост­ные де­фекты (трещины, непровары, несплавления), а также про­тяженные дефекты в виде цепочек шлака, преимущественно ориентированные поперек направления магнитного потока. Значи­тельно хуже выяв­ля­ются округлые дефекты (поры, шлаковые вклю­чения). Практикой установлено, что этим методом уверенно обна­ру­живаются внутрен­ние плоскостные дефекты, когда их верти­кальный размер составляет 8-10% от толщины сварного шва.

При снятом усилении шва максимальная чувствительность контроля к указанным дефектам достигает 5%. Округлые внутренние дефекты обнаруживаются, когда их размер по высоте не меньше 20% от тол­щины изделия. Чувствительность магнитографического метода к поверхностным дефектам примерно такая же или несколько хуже, чем у магнитопорошкового. Чем глубже расположен дефект от по­верхности изделия, на которую укладывается магнитная лента, тем хуже он выявляется. Современная аппаратура позволяет обнаружи­вать дефекты с вертикальным размером 10-15% толщины изделия на глубине залегания до 20-25 мм.

На чувствительность магнитографического метода сильно влияют __________________________, а также ________________________. Для лучшей выявляемоcти дефектов необходимо обеспечивать вы­полнение сварки таким образом, чтобы высота усиления шва не превышала 25% толщины основного металла шва, а переход от на­плавленного металла к плоскости был плавным. При этом чешуй­чатость на поверхности шва должна составлять не более 25-30% высоты усиления, но не более 1 мм. При контроле швов с грубой чешуйчатостью необходимо производить ______________________ ____________________________. Не допускается контроль сварных швов со смещением кромок стыкуемых элементов. Наилучшие ре­зуль­таты получаются при контроле сварных швов, выполненных автомати­чес­кой сваркой.

Чувствительность метода можно повысить за счет ______________ __________________________________________________________ __________________________________________________________.

4. Вывод

_________________________________________________________ _________________________________________________________.

Лабораторная работа № 9

Изучение методик и характеристик эхо-импульсного и зеркально-теневого методов дефектоскопии рельсов

Цель: изучить принципы эхо-импульсного и зеркально-те­невого методов ультразвуковой дефектоскопии и особен­ности выявления дефектов в рельсах.

Наглядные пособия: СО-1, СО-2, СО-3Р.

Порядок выполнения:

  1. Общие положения эхо-импульсного метода

  2. Общие положения зеркально-теневого метода

  3. Основные измеряемые характеристики дефектов

  4. Основные параметры контроля

  5. Вывод

1. Общие положения эхо-импульсного метода

Эхо-импульсный метод ультразвуковой дефектоскопии основан на __________________________________________________________ __________________________________________________________.

Признаком обнаружения дефекта является _____________________ __________________________________________________________.

Если об обнаружении дефекта судят как по появлению эхо-им­пульса от дефекта, так и по уменьшению донного импульса, то это значит, что контроль ведут _________________________________________.

При рассмотрении методов в каждом случае используются два ис­ка­теля, один из которых выполняет функции _____ ________ (И), а другой – ___________ (П). Такая схема включения искателей на­зы­вается ___________. В то же время при импульсном излуче­нии для эхо-метода возмож­но применение одного искателя ИП, включен­ного по сов­мещенной схеме, при которой один и тот же искатель вы­полняет функции __________________________________________.