- •Строение атома.
- •Собственный полупроводник.
- •Примесный полупроводник n-типа.
- •Примесный полупроводник p-типа.
- •Германий.
- •Кремний.
- •Арсенид Галия.
- •Кристаллическая решётка.
- •Диффекты кристаллических решёток.
- •Вырожденный и компенсированный полупроводник.
- •Движение зарядов в полупроводниках.
- •Образование “p-n” перехода.
- •История создания "p-n" перехода.
- •Прямое и обратное включение p-n перехода.
- •Вольтамперная характеристика “p-n” перехода (вах).
- •Пробои “p-n” перехода.
- •Температурные и частотные свойства “p-n” перехода.
- •Контакт металл – полупроводник. Омический не выпрямляющий контакт.
- •Гиперпереходы.
- •Полупроводниковые приборы. Классификация и системы обозначений.
- •Выпрямительный диод. Vd.
- •В ах выпрямительного диода.
- •Варикап.
- •Стабилитрон.
- •Т уннельный диод.
- •Диод Ганна.
- •Лавинно-пролётные диоды.
- •Обращённый диод.
- •Транзисторы. Vt.
- •4 Режима работы транзистора.
- •Принцип работы транзистора.
- •Схемы включения транзистора.
- •Статические характеристики транзистора.
- •Транзистор, как активный четырёхполюсник.
- •Частотные свойства транзистора.
- •Температурные свойства транзисторов.
- •Динамический режим работы транзистора.
- •Составной транзистор.
- •Высоковольтные транзисторы.
- •Мощные транзисторы.
- •Собственные шумы транзистора.
- •Эксплуатационные параметры транзистора.
- •П олевые транзисторы.
- •Полевой транзистор с "p-n" переходом.
- •Полевой транзистор с изолированным затвором.
- •Характеристики полевых транзисторов.
- •Основные параметры полевых транзисторв.
- •Однопереходные транзисторы.
- •Тиристоры.
- •Семисторы.
- •Оптоэлектронные приборы.
- •Светоизлучающие диоды (светодиоды).
- •Фотоприёмник.
- •Фоторезистор.
- •Фотодиод.
- •Фототранзистор.
- •Фототиристоры.
- •Оптрон (vu).
- •Резисторный оптрон.
- •Диодный оптрон.
- •Транзисторные оптопары.
- •Тиристорные оптопары.
- •Оптоэлектронные интегральные микросхемы.
- •Когерентная оптоэлектроника. Принцип работы лазера.
- •Свойства лазерного излучения.
- •Основные типы лазеров.
- •Области применения лазера.
- •Микроэлектронника. Виды интегральных схем.
- •Технологические процессы изготовления мсх.
- •Виды изоляции элементов.
- •Полупроводниковые интегральные схемы.
- •Интегральный “n-p-n” транзистор.
- •Разновидности “n-p-n” транзистора.
- •Интегральный “p-n-p” транзистор.
- •Интегральные диоды.
- •Электровакуумные приборы.
- •Виды электронной эмиссии.
- •Вакуумный диод.
- •Усилитель нч на триоде.
- •Паразитные ёмкости триода.
- •Тетрод и пентод.
- •Осцилографическая трубка.
- •И ндикаторные трубки.
- •Кинескоп.
- •Получение цветного изображения.
Технологические процессы изготовления мсх.
Процесс изготовления полупроводниковых интегральных микросхем состоит из следующих основных этапов: диффузии, эпитаксиального выращивания, оксидирования, фотолитографии, селективного травления и осаждения тонких плёнок. Некоторые из них повторяются несколько раз. В основе изготовления тонкоплёночных микросхем лежат процессы последовательного нанесения тонких плёнок. Диффузия – это процесс переноса атомов или молекул происходящий в результате хаотического теплового движения. Эпитаксия – это процесс, в результате которого можно расположить атомы на монокристаллической подложке так, что структура решётки полученного слоя является точной копией структуры кристалла подложки. Механизм эпитаксиального процесса заключается в том, что атомы в газообразной фазе движутся к поверхности раздела, на которой выращивается слой, и перемещаются вблизи неё, пока не приобретут устойчивое состояние и не образуют жёсткую структуру. Так же получают микросхемы путём окисления. Применяется двуокись кремния. Плёнка очень прочна, не имеет пор, химически инертна и может применяться для защиты поверхности микросхемы от воздействия окружающей среды. Плёнка используется для маскирования поверхности при проведении диффузии. Она может быть наращена на кремний или нанесена химическим путём. Фотолитография – удаление окисла этим способом. Наносят тонкую плёнку фотолитографического вещества (фоторезиста). Затем пластина накрывается стеклянной маской (фотошаблон) с прозрачными и не прозрачными областями и облучается УФ лучами. Под прозрачными УФ излучение полимеризует фоторезист. Помещают в трихлорэтилен, затем в плавиковую кислоту и потом кипящую серную кислоту. Для изготовления микросхем надо иметь несколько фотошаблонов. Осаждение тонких плёнок.
Элементы. |
Метод получения тонкой плёнки. |
RC-схемы, резисторы, конденсаторы. |
Вакуумное напыление. |
Резисторы, изоляция, диэлектрики для C. |
Катодное распыление. |
Диэлектрики, резисторы. |
Осаждение ионным пучком. |
Конденсатры, резисторы, коммутация. |
Химическое осаждение из газовой фазы. |
Защитные покрытия, диэлектрики для кон. |
Анодирование. |
Резисторы, изоляция, проводники. |
Мех. Нанесение. |
Виды изоляции элементов.
В се способы изоляции элементов МСХ, восновном делятся на 2 вида: изоляция обратносмещённым "p-n" переходом и изоляция диэлектриком. Обеднённый слой при обратном смещении имеет очень высокое удельное сопротивление, близкое к удельному сопротивлению диэлектрика. 1)Изоляция "p-n" переходом сводится к созданию двух встречно включённых диодов, между изолирующими элементами. Этот вид изоляции хорошо сочетается с технологическим процессом изготовления МСХ. Основным недостатком является наличие обратных токов и барьерных емкостей. 2)Изоляция диэлектриком более совершенна, токи утечки в диэлектриках на 3-5порядков меньше, чем обратные токи "p-n" переходов. Паразитные ёмкости также значительно меньше. Недостатки: Основным недостатком является относительная сложность технологического процесс. Кроме этих способов также существуют методы высокоомной подложки и тройной диффузии и т.д.