- •М инистерство образования российской федерации
- •Глава 1. Введение в электронную теорию твердого тела 5
- •Глава 2. Теория и практика эмиссионных процессов. 21
- •Глава 3. Электронно-вакуумные приборы с электростатическими полями 69
- •Глава 4. Теория и практика фокусировки и управления электронными пучками в электромагнитных полях 95
- •Глава 5. Электронно-лучевые приборы 133
- •Глава 6. Газоразрядная и плазменная электроника 158
- •Глава 1.
- •1.1.Энергия связи в твердом теле.
- •2.1. Металлическое состояние.
- •3.1. Состояние электрона в кристаллической решетке
- •4.1.Статистика электронов в кристаллической решетке металла.
- •5.1.Энергия Ферми.
- •6.1. Плотность электронных состояний.
- •7.1. Особенности зонной структуры ионных и ковалентных кристаллов.
- •8.1.Особенности положения уровня Ферми в полупроводниках.
- •Глава 2.
- •1.2. Работа выхода электрона из твердых тел.
- •2.2. Термоэлектронная эмиссия
- •1.3. Термоэлектронные катоды.
- •1.1.3. Металлические катоды.
- •2.1.3. Пленочные катоды
- •3.1.3. Оксидные катоды.
- •4.1.3. Способы нагрева катодов.
- •4.2. Закон Лэнгмюра-Богуславского.
- •4.2. Эффект Шоттки.
- •6.2. Автоэлектронная эмиссия.
- •6.2. Взрывная эмиссия.
- •8.2 Автоэмиссионные катоды.
- •7.2. Вторичная электронная эмиссия
- •8.2. Фотоэлектронная эмиссия.
- •10.2 Фотокатоды.
- •1.10.2. Фотокатоды для видимой области спектра.
- •2.10.2 Фотокатоды для ультрафиолетовой области.
- •3.10.2. Фотокатоды для инфракрасной области.
- •11.2 Аноды электронно-вакуумных приборов.
- •12.2 Управление электронным потоком
- •Глава 3.
- •1.3.Рентгеновские трубки.
- •Длина волны характеристических линий и потенциал возбуждения к-серии ряда элементов.
- •1.1.3 Области применения и конструктивные
- •2.1.3. Двухэлектродные трубки для просвечивания.
- •3.1.3. Импульсные рентгеновские трубки.
- •4.1.3. Трубки для диагностики биологических объектов.
- •5.1.3. Трубки для рентгенотерапии.
- •6.1.3. Рентгеновские трубки для радиационной химии
- •7.1.3. Рентгеноструктурный анализ.
- •8.1.3. Рентгеноспектральный анализ
- •9.1.3. Бескристальные спектрометры
- •2.3. Электронно-ионный микроскоп.
- •3.3. Фотоэлектронный умножитель.
- •Глава 4
- •1.4.Силы, действующие на заряженную частицу в электромагнитном поле. Уравнения движения.
- •2.4. Аналогия между движением заряженных частиц в электростатическом поле и распространением световых лучей в прозрачной среде.
- •3.4. Центрированные электронно-оптические системы.
- •4.4. Фокусировка электронных пучков в аксиально-симметричных
- •1.4.4. Катодная линза.
- •2.4.4. Электронные пушки.
- •3.4.4. Автоэмиссионные пушки.
- •4.4.4. Электронный прожектор.
- •5.4.4. Электростатические системы управления электронным лучом.
- •6.4.4. Анализатор скорости заряженных частиц.
- •7.4.4. Осциллографическая трубка.
- •5.4. Фокусировка и управление потоком заряженных частиц в постоянных магнитных полях.
- •1.5.4. Конструкции магнитных линз.
- •2.5. 4. Дефекты электронно-оптических линз.
- •3.5.4. Отклонение заряженных частиц магнитным полем.
- •Глава 5
- •1.5. Кинескопы.
- •2.5 Электронно-оптический преобразователь.
- •3.5. Электронные микроскопы.
- •1.3.5. Принцип работы электронных микроскопов.
- •2.3.5. Просвечивающие электронные микроскопы.
- •3.3.5. Рентгеновские микроанализаторы.
- •4.3.5. Растровые электронные микроскопы.
- •Глава 6.
- •1.6. Слабоионизированные газы.
- •2.6. Ионизация газа, находящегося в термодинамическом равновесии.
- •3.6. Диффузионный ток.
- •4.6. Проводимость
- •5.6. Ударная ионизация
- •6.6. Вольтамперная характеристики газового разряда.
- •1.6.6. Несамостоятельный газовый разряд.
- •2.6.6. Самостоятельный газовый разряд.
- •7.6. Газоразрядные приборы с холодным катодом
- •1.7.6. Дуговые разрядники.
- •2.7.6. Газоразрядные источники света.
- •3.7.6. Лампы тлеющего свечения (лтс).
- •4.7.6. Стабилитрон тлеющего разряда.
- •5.7.6. Многоэлектродные газоразрядные приборы тлеющего разряда.
- •6.7.6. Тиратрон тлеющего разряда.
- •7.7.6. Тиратроны дугового разряда.
- •8.6. Дисплеи с плазменной панелью.
- •1.8.6.Структура ячейки
6.4.4. Анализатор скорости заряженных частиц.
Если при движении частицы с зарядом q в однородном электростатическом поле компонента скорости vх по направлению противоположна электростатической силе, то для положительно заряженной частицы vo<0, а для отрицательно заряженной частицы v0>0. Электростатическое поле в этом случае будет замедлять частицу до тех пор, пока она не столкнется с электродом или же не изменит направление движения и будет ускорена по направлению к противоположному электроду.
Пусть положительно заряженная частица начинает движение от отрицательного электрода с наибольшим абсолютным значением потенциала, причем vх-компонента направлена к другой обкладке. Сможет ли данная частица достичь этой обкладки?. Да, если компонента скорости vх достаточно велика, чтобы противодействовать электростатической силе, пока частица пройдет расстояние d в направлении х (рис. 12.4). Следовательно, в случае v0y=v0z=0, когда частица движется перпендикулярно обкладкам, её начальная кинетическая энергия должна быть больше величины qU, то есть частица может достигнуть противоположной обкладки при условии:
. (38.4)
Частицы с меньшей кинетической энергией будут остановлены (и ускорены в противоположном направлении), прежде чем они достигнут противоположной обкладки. Если имеется источник заряженных частиц с разными кинетическими энергиями, то можно измерить распределение частиц по энергиям (скоростям), непрерывно изменяя напряжение на конденсаторе и измеряя ток, проходящий через положительную пластину с небольшим потенциалом. Очевидно, что при любом значении U этот ток пропорционален числу частиц с начальной энергией, превышающей qU.
7.4.4. Осциллографическая трубка.
В ходе физического эксперимента измеряемые физические величины (температура, давление, переменный ток, световой поток и т. д.) как правило, изменяются со временем. При наличии датчиков позволяющих преобразование параметров указанных величин в соответствующие электрические импульсы их можно зарегистрировать на экране электронного прожектора в зависимости от времени практически без искажения. В этом случае электрические импульсы, описывающие временной ход изучаемой величины, подаются на отклоняющую систему, которая состоит из двух пар взаимно перпендикулярных X и Y отклоняющих пластин (плоский конденсатор рис. 15.4) размещенных в электронном прожекторе между вторым анодом и экраном.
а б
Рис. 18.4. Схема получения осциллограммы
на экране электронно-лучевой трубки.
Для наблюдения на экране электронного прожектора временных диаграмм (осциллограмм) к X-пластинам трубки подводится напряжение пилообразной формы (рис.18.4,а). Если напряжение на Y-пластинах отсутствует (Uy=0), то светящаяся точка на экране с постоянной скоростью будет совершать колебательное движение (перемещаться по экрану из точки 0 в точку 4 по прямой линии рис. 18.4,б). При этом, если период пилообразного напряжения Тy ≤ 0,1 секунды, то на экране будет просматриваться не бегущее пятно, а прямая светящаяся линия, что объясняется инертностью нашего зрения.
При подаче на Y – пластины исследуемого периодического сигнала измеряемой величины, электронный луч (светящееся пятно на экране) начнет отклоняться и в вертикальном направлении. Если исследуемый сигнал будет гармоническим колебанием с периодом Ту = Тх (рис. 18.4,а), то при совместном воздействии на электронный луч отклоняющих напряжений светящееся пятно в пределах каждого периода Тх будет перемещаться на экране по криволинейно траектории 0,1,2.3,4 воспроизводящей в соответствующем масштабе форму исследуемого сигнала, называемого осциллограммой. Для получения устойчивого изображения на экране необходимо строгое выполнение равенства (синхронизации) Тх=nТу, где n-целое число, соответствующее количеству наблюдаемых на экране периодов исследуемого сигнала.
Для того чтобы на экране не просматривался обратный путь светящегося пятна при его движении из точки 4 в точку 0, электронный луч на это время «гасится» отрицательным импульсом напряжения, подаваемого на электрод Венельта, обеспечивающем Uв ≥ Umax . Для точного воспроизведения осциллограммы необходимо, чтобы отклонения луча происходило прямо пропорционально приложенным к пластинам отклоняющим напряжениям, т.е. чтобы чувствительность трубки (отдельно для X и Y пластин) во всех точках экрана была одинаковой. Ранее отмечалось, что чувствительностью электростатической трубки называют величину определяемую отношением величины отклонения светящегося пятна от центра экрана (D) к величине отклоняющего напряжения. Ввиду искажения электрического поля на краях отклоняющих пластин по причине взаимного влияния полей между пластинами и вторым анодом чувствительность трубки по центру и по краям оказывается неодинаковой. Поэтому в практике конструирования приборов хорошего воспроизведения добиваются специальной конфигурацией пластин (рис. 14.4) при которой компенсируются краевые эффекты.